Рассмотрены основные проблемы метрологического обеспечения испытаний при производстве электронной компонентной базы, выявлены их причины и предложены рациональные пути решения подобных задач.

DOI: 10.22184/1992-4178.2019.184.3.112.118
УДК 621.38 | ВАК 05.27.06

sitemap

Разработка: студия Green Art