При непрерывном уменьшении технологических проектных норм ошибки, вызванные излучением, стали оказывать существенное влияние на надежность БИС. В статье рассмотрены основные аппаратные и программные методы защиты современных ПЛИС со статическим ОЗУ от влияния сбоев, вызванных ионизирующим излучением.

sitemap

Разработка: студия Green Art