DOI: 10.22184/1992-4178.2021.207.6.62.65

Рентгеновский контроль внутренней структуры электронных компонентов является перспективным методом диагностического неразрушающего контроля для выявления потенциально ненадежных или обладающих признаками контрафакта изделий. Эффективность метода рассмотрена на примере испытаний танталовых чип-конденсаторов.

sitemap

Разработка: студия Green Art