eng
Просмотры: 35
15.09.2025
Авангардное мероприятие, проходившее с 8 по 11 сентября 2025 года на площадке Консорциума НИЯУ МИФИ – АО «ЭНПО СПЭЛС», сопровождалось многочисленными докладами и содержательными дискуссиями.
На протяжении четырёх дней по интенсивной программе сменяли друг друга тематические сессии, предметные обсуждения по вопросам разработки и применения ЭКБ для работы в экстремальных условиях, развития отечественного технологического и контрольно-измерительного оборудования, разработки и технологий производства приемопередающей ЭКБ и РЭА, проблем доверенной электроники и стандартизации. В целом на предконференции было заслушано более 70-ти выступлений, из них 8 – в онлайн-формате.
Впервые в программу предконференции были включены обзорные лекции и мастер-классы, что позволило оформить контент в качестве курсов повышения квалификации, по результатам которых выполнившие установленные требования участники получат удостоверения о дополнительном профессиональном образовании государственного образца.
В центре оживлённых обсуждений оказались доклады Кирилла Малахова (Сколтех) о перспективах применения фотонных интегральных схем на борту космических аппаратов; Владимира Карантаева («Лаборатория Касперского»), представившего требования к технологиям обеспечения доверия при разработке защищённых средств вычислительной техники; Юрия Емельяненко (АО «НИИМЭ»), выполнившего моделирование воздействия электростатического разряда на полупроводниковое устройство защиты в кремниевом интерпозере; Сергея Яковлева (ООО «НПП «Детектор»), рассказавшего об особенностях испытаний многокристальных электронных модулей на стойкость к воздействию тяжёлых заряженных частиц. Интерес аудитории вызвали и другие, не менее значимые выступления.
В перерыве между заседаниями тематических блоков состоялась презентация новой книги д.т.н., профессора Александра Чумакова (НИЯУ МИФИ) «Радиационные эффекты в интегральных схемах», выпущенной АО «РИЦ «ТЕХНОСФЕРА».
Заключительный день работы Предконференции №1 был посвящён тематическому блоку «Развитие стандартизации в доверенной электронике». Председатель ТК 303, генеральный директор АО «РНИИ «Электронстандарт» Роман Левин представил методические подходы к системе стандартизации доверенной ЭКБ для регулируемых рынков критической информационной инфраструктуры (КИИ). Заместитель директора АИЦ ИБСЗИ НИЯУ МИФИ Леонид Кессаринский в своём выступлении описал основные идеи проекта стандарта ГОСТ Р «КИИ. Доверенные интегральные микросхемы. Общие технические условия». Так, по словам докладчика, требования к ИС будут заданы в виде системы и состава требований к характеристикам и показателям качества (работоспособности, надёжности, стойкости к внешним воздействующим факторам) и безопасности (информационной, функциональной и технологической) доверенных ИС, а также процессам и участникам их жизненного цикла. ОТУ преимущественно не будут задавать количественные требования к конкретным типам ИС – это задача ТУ, уточняющих и адаптирующих общие требования ОТУ для конкретных изделий. Эксперты также обсудили отзывы на данный проект, полученные от профильных организаций. Большой интерес участников предконференции вызвал предложенный Л. Кессаринским подход к формированию моделей угроз безопасности интегральных микросхем для автоматизированных систем управления технологическими процессами критической информационной инфраструктуры.
По завершении сессии координатор Предконференции №1 д.т.н., профессор Александр Никифоров выразил благодарность докладчикам и участникам мероприятия – за продуктивную дискуссию и ценные идеи, пригласил всех активно участвовать в мероприятиях форума «Микроэлектроника 2025» и публиковать свои работы в журнале «Безопасность информационных технологий», входящем в перечень ВАК. От имени всех участников предконференции А. Никифоров поблагодарил техническую команду и волонтёров, обеспечивших высокий уровень организации мероприятия и возможность онлайн-трансляции, команду оператора Форума Агентство деловых коммуникаций «ПрофКонференции» – за отличную совместную работу.
Обсуждение актуальных вопросов и обмен опытом продолжатся на форуме «Микроэлектроника 2025».
Впервые в программу предконференции были включены обзорные лекции и мастер-классы, что позволило оформить контент в качестве курсов повышения квалификации, по результатам которых выполнившие установленные требования участники получат удостоверения о дополнительном профессиональном образовании государственного образца.
В центре оживлённых обсуждений оказались доклады Кирилла Малахова (Сколтех) о перспективах применения фотонных интегральных схем на борту космических аппаратов; Владимира Карантаева («Лаборатория Касперского»), представившего требования к технологиям обеспечения доверия при разработке защищённых средств вычислительной техники; Юрия Емельяненко (АО «НИИМЭ»), выполнившего моделирование воздействия электростатического разряда на полупроводниковое устройство защиты в кремниевом интерпозере; Сергея Яковлева (ООО «НПП «Детектор»), рассказавшего об особенностях испытаний многокристальных электронных модулей на стойкость к воздействию тяжёлых заряженных частиц. Интерес аудитории вызвали и другие, не менее значимые выступления.
В перерыве между заседаниями тематических блоков состоялась презентация новой книги д.т.н., профессора Александра Чумакова (НИЯУ МИФИ) «Радиационные эффекты в интегральных схемах», выпущенной АО «РИЦ «ТЕХНОСФЕРА».
Заключительный день работы Предконференции №1 был посвящён тематическому блоку «Развитие стандартизации в доверенной электронике». Председатель ТК 303, генеральный директор АО «РНИИ «Электронстандарт» Роман Левин представил методические подходы к системе стандартизации доверенной ЭКБ для регулируемых рынков критической информационной инфраструктуры (КИИ). Заместитель директора АИЦ ИБСЗИ НИЯУ МИФИ Леонид Кессаринский в своём выступлении описал основные идеи проекта стандарта ГОСТ Р «КИИ. Доверенные интегральные микросхемы. Общие технические условия». Так, по словам докладчика, требования к ИС будут заданы в виде системы и состава требований к характеристикам и показателям качества (работоспособности, надёжности, стойкости к внешним воздействующим факторам) и безопасности (информационной, функциональной и технологической) доверенных ИС, а также процессам и участникам их жизненного цикла. ОТУ преимущественно не будут задавать количественные требования к конкретным типам ИС – это задача ТУ, уточняющих и адаптирующих общие требования ОТУ для конкретных изделий. Эксперты также обсудили отзывы на данный проект, полученные от профильных организаций. Большой интерес участников предконференции вызвал предложенный Л. Кессаринским подход к формированию моделей угроз безопасности интегральных микросхем для автоматизированных систем управления технологическими процессами критической информационной инфраструктуры.
По завершении сессии координатор Предконференции №1 д.т.н., профессор Александр Никифоров выразил благодарность докладчикам и участникам мероприятия – за продуктивную дискуссию и ценные идеи, пригласил всех активно участвовать в мероприятиях форума «Микроэлектроника 2025» и публиковать свои работы в журнале «Безопасность информационных технологий», входящем в перечень ВАК. От имени всех участников предконференции А. Никифоров поблагодарил техническую команду и волонтёров, обеспечивших высокий уровень организации мероприятия и возможность онлайн-трансляции, команду оператора Форума Агентство деловых коммуникаций «ПрофКонференции» – за отличную совместную работу.
Обсуждение актуальных вопросов и обмен опытом продолжатся на форуме «Микроэлектроника 2025».
Комментарии читателей
