sitemap
Наш сайт использует cookies. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей
Политикой Конфиденциальности
Согласен
главная
eng
Поиск:
на сайте журнала
на всех сайтах РИЦ
Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта
R&W
ISSN 1992-4178(print)
ISSN 1992-4186(online)
Книги по электронике
Статьи
Электроника НТБ #8/2025
Колонка Департамента радиоэлектронной промышленности
Электроника НТБ #6/2025
КОЛОНКА ДЕПАРТАМЕНТА РАДИОЭЛЕКТРОННОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ
Репортажи
//
все
Электроника НТБ #3/2025
ВИЗИТ НА ПР-ВО АО «КРАСНОЗНАМЕНСКИЙ ЗАВОД ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ «АРСЕНАЛ»
Электроника НТБ #10/2024
ЛОКАЛИЗАЦИЯ ПРОИЗВОДСТВА ОБОРУДОВАНИЯ. ВИЗИТ НА ПРОИЗВОДСТВО ООО «ПРОТЕХ»
Новости
//
все новости
13.11.2025
«РТСофт-ВС» представляет новый графический вычислитель BLOK-GPU для разработчиков систем с ИИ
10.11.2025
10 ноября стартует конкурс «Искусство технологий»
События
//
все события
c 25.11.2025 до 27.11.2025
4-я Международная выставка-форум «Электроника России». г. Москва, МВЦ «Крокус Экспо»
c 24.03.2026 до 25.03.2026
XXVII Сибирский промышленно-инновационном форум «ПРОМТЕХЭКСПО». г. Омск
Вход:
Ваш e-mail:
Пароль:
- запомнить меня
Регистрация
Забыли пароль?
Архив журнала:
2025
2024
2023
2022
2021
2020
2019
2018
2017
2016
2015
2014
2013
2012
2011
2010
2009
2008
2007
2006
2005
2004
2003
2002
2001
2000
1999
1998
1997
1996
Медиаданные:
О журнале
Учредитель
Издатель
Редакционный совет
Распространение_
Редакционная политика:
Редакционная политика РИЦ «ТЕХНОСФЕРА»
Реклама:
Отдел рекламы
В журнале
На сайте
Авторам:
Соискателям учёной степени
Требования к статьям
Контакты:
Распространение
Адрес
Редакция
Журналы:
Электроника НТБ
Наноиндустрия
Первая миля
Фотоника
Аналитика
Станкоинструмент
Книги по электронике
читать книгу
под ред. В.М. Пролейко
Очерки истории российской электроники. Выпуск 3. Истоки российской электроники. К 120-летию ОАО «Светлана»
читать книгу
Васильев А.Г., Колковский Ю.В., Концевой Ю.А.
СВЧ приборы и устройства на широкозонных полупроводниках
читать книгу
Ермаков О.Н.
Прикладная оптоэлектроника
Другие серии книг:
Мир электроники
Мир радиоэлектроники
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир химии
Мир наук о Земле
Мир материалов и технологий
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Библиотечка «КВАНТ»
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир фотоники
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Тег "verification"
Электроника НТБ #2/2025
К. Епифанцев
ПЕРСПЕКТИВЫ РАЗВИТИЯ НОРМАТИВНОЙ БАЗЫ И ЭТАЛОНОВ ДЛЯ ПОВЕРКИ МУЛЬТИСЕНСОРНЫХ СИСТЕМ
DOI: 10.22184/1992-4178.2025.243.2.138.140 Проанализировано состояние эталонной базы для поверки мультисенсорных систем и определены направления ее развития. Показана эффективность применения таких систем в технике и промышленности для одновременного измерения нескольких параметров.
Аналитика #6/2023
А. И. Крылов, Е. Р. Лазаренко
О поверке, калибровке приборов, аттестации методик и достоверности результатов химико-аналитических измерений
doi.org/10.22184/2227-572X.2023.13.6.428.434 Основные пути достижения достоверности (единства) результатов измерений, согласно существующим регламентам, связаны, в основном, с поверкой приборов, их калибровкой или воспроизведением метрологически аттестованных методик измерений. В части, касающейся измерений количества вещества, не всегда традиционные подходы являются оптимальными. Так, для специфических анализаторов, ряда электрохимических приборов и т. п. выполнение поверки является вполне оправданным и необходимым элементом получения достоверных результатов измерений. При воспроизведении (или разработке) методик, реализуемых на «универсальных» приборах, в первую очередь, речь должна идти о построении градуировочных характеристик (специфичных для каждого конкретного вещества), соблюдении режимов пробоподготовки и т. п. В этом случае целесообразность выполнения поверки прибора становится по крайней мере сомнительной. На получение адекватных результатов в большей мере влияют наличие и применение соответствующих средств градуировки: стандартных образцов – СО (чистые вещества или их растворы), средств контроля полученных данных – СО «матричного» типа, а также аттестованных методик измерений. Таким образом, в области химико-аналитических измерений возникает необходимость пересмотра перечня приборов, подлежащих обязательной поверке, и одновременно целесообразность более активного развития направления работ по существенному расширению списка СО, включая СО матричного типа.
Аналитика #5/2023
Е. А. Аверьянова, Р. А. Андрющенко, С. Н. Богдашов
Готовимся к аккредитации вместе с ЛИМС
doi.org/10.22184/2227-572X.2023.13.5.380.388 В России лабораторные информационные менеджмент-системы (ЛИМС) используются в лабораториях различных отраслей промышленности уже более 20 лет. Программное обеспечение ЛИМС является не только средством автоматизации деятельности лаборатории, но и важным инструментом управления ее данными. Наличие ЛИМС помогает справляться с большим количеством информации и упрощает подготовку к аккредитации. Одним из основополагающих нормативных документов для лаборатории на сегодняшний день является ГОСТ ISO/IEC 17025-2019 «Общие требования к компетентности испытательных и калибровочных лабораторий». В ГОСТе указаны требования к управлению данными и информацией, которые содержатся в компьютеризированных системах (в т. ч. ЛИМС). Но как лаборатории документально подготовиться к аккредитации, если у нее внедрена ЛИМС, четкой информации в тексте ГОСТа нет. В статье обсуждается ГОСТ 17025 в части требований к валидации ЛИМС, а также документального подтверждения наличия и применения ЛИМС в лаборатории.
Электроника НТБ #2/2022
К. Фелтон, Д. Вертянов, С. Евстафьев, В. Сидоренко, Н. Горшкова
НОВОЕ ПОКОЛЕНИЕ РЕШЕНИЙ ДЛЯ КОРПУСИРОВАНИЯ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ. Часть 4
DOI: 10.22184/1992-4178.2022.213.2.82.86 Рассмотрены основные этапы и программные модули лучших в своем классе решений верификации и тестирования сложных гетерогенных корпусов микросхем для эффективной и безошибочной передачи проекта на производство.
Электроника НТБ #1/2022
К. Фелтон, Д. Вертянов, С. Евстафьев, В. Сидоренко
НОВОЕ ПОКОЛЕНИЕ РЕШЕНИЙ ДЛЯ КОРПУСИРОВАНИЯ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ. Часть 3
DOI: 10.22184/1992-4178.2022.212.1.80.84 Рассматриваются масштабируемость и широкий функционал, необходимый для разработки сложных корпусов ИС. Обсуждаются требования к передаче проекта на производство, то есть условия предоставления безошибочных производственных данных по изготовлению и сборке.
Аналитика #5/2021
Е. А. Новиков
Так что же такое «средство измерений»?
DOI: 10.22184/2227-572X.2021.11.5.396.400 Рассмотрено использование термина «средство измерений» для целей законодательной и прикладной метрологии. Обсуждается государственная услуга по отнесению технических средств к средствам измерений, которая не обеспечена однозначными и ясными критериями толкования этого понятия, а основывается на субъективных мнениях экспертов. Предложено отказаться от понятия «средство измерений» и воспользоваться Международным словарем метрологических терминов VIM 3 в обновленном переводе. Сравниваются процедуры поверки средств измерений и калибровки измерительных приборов.
Аналитика #4/2021
В. И. Шевелева
Особенности новой редакции международного стандарта по терминам и определениям в области оценки соответствия ISO / IEC 17000:2020
В июне 2020 года комитет ISO по оценке соответствия (CASCO) в сотрудничестве с Международной электротехнической комиссией (IEC) завершил актуализацию международного стандарта ISO / IEC 17000:2020 «Оценка соответствия. Словарь и общие принципы». Опубликованный стандарт содержит термины и определения в области оценки соответствия, включая аккредитацию органов по оценке соответствия. В статье приведены новые термины, их толкование, примеры применения. Разъясняется концепция понятия системы оценки соответствия, которая подверглась изменению в рамках функционального подхода.
Электроника НТБ #5/2021
Дж. Фергусон, Д. Вертянов, К. Фелтон, И. Беляков, С. Евстафьев, В. Сидоренко, Н. Горшкова
ПРОЕКТИРОВАНИЕ КОРПУСОВ И МИКРОСБОРОК ПО ТЕХНОЛОГИИ FO WLP СРЕДСТВАМИ САПР MENTOR GRAPHICS. Часть 2
DOI: 10.22184/1992-4178.2021.206.5.126.134 Применение маршрута САПР Mentor Graphics дает разработчикам корпусов, микросборок FO WLP все необходимые функциональные возможности, инструменты проектирования и верификации для получения максимальной выгоды от новой технологии корпусирования.
Аналитика #2/2021
И. В. Болдырев, Т. Я. Селиванова
Особенности определения качественных свойств. Требования к лабораториям
В 2017 году была принята новая редакция международного стандарта, который был переведен на русский язык и вступил в силу в 2019 году – ГОСТ ISO / IEC 17025-2019 Оценка соответствия. Общие требования к компетентности испытательных и калибровочных лабораторий. Некоторые положения документа требуют дополнительных разъяснений. Обсуждаются вопросы определения качественных свойств объекта, которые не выражаются в единицах измерений. Перечислены и подробно рассмотрены примеры качественных свойств, которые могут быть определены. Отмечено, что не разработана общая методология определения качественных свойств, поэтому отдельные удачные попытки установить единый подход к методикам определения отдельных групп качественных свойств не решают проблему в целом. В результате в стандартах можно встретить описания методик, которые очевидно нельзя признать достаточно полными. Приведены рекомендации по верификации методик определения качественных свойств в испытательных лабораториях.
Аналитика #1/2021
С. Н. Степанов, А. В. Петров, С. С. Степанов
Разработка компаратора ПКМ 100
DOI: 10.22184/2227-572X.2021.11.1.50.53 Описана конструкция и особенности работы компаратора ПКМ 100, предназначенного для измерения срединной длины и определения отклонения от плоскопараллельности концевых эталонных плоскопараллельных мер длины второго, третьего и четвертого разрядов и рабочих классов точности 1–5 длиной от 0,1 до 100 мм. Подробно описана конструкция кассеты для базирования КМД от 0,5 до 100 мм и схема измерения на компараторе ПКМ 100. Разработана специальная кассета на основе плоской стеклянной пластины ПИ 60 для базирования тонких мер номинальной длиной от 0,1 до 0,5 мм, в которой выполнены каналы для подвода вакуума и надежной фиксации концевых мер с размерами поперечного сечения 20 × 9 и 15 × 5 мм. Приведена методика и результаты поверки компаратора, подтверждающие его технические характеристики, которые позволяют использовать компаратор для поверки концевых мер второго разряда.
1
2
→
Разработка: студия
Green Art