Электроника НТБ #1/2021
А. Пивак, А. Репин
ИЗМЕРЕНИЕ КСВН ГЕНЕРАТОРОВ СИГНАЛОВ
DOI: 10.22184/1992-4178.2021.202.1.86.89 Рассмотрены различные методы измерения КСВН генераторов сигналов и дана их оценка на предмет применимости при поверке таких приборов. Отмечено, что с точки зрения корректности и простоты использования оптимальными являются методы «горячих S-DOI: параметров» и рассогласованного ваттметра.
Электроника НТБ #8/2020
А. Пивак, А. Репин
ИСПОЛЬЗОВАНИЕ ТЕХНИКИ ФАЗОВЫХ КОМПЕНСАЦИЙ ДЛЯ ИЗМЕНЕНИЯ ФОРМЫ И СПЕКТРА СИГНАЛОВ
DOI: 10.22184/1992-4178.2020.199.8.94.96 Рассмотрено использование техники фазовых компенсаций для изменения формы и спектра сигналов. Приведены примеры реализации данной техники с помощью векторного генератора сигналов R&S®SMW200A и векторного анализатора цепей R&S®ZNA компании Rohde & Schwarz.
Электроника НТБ #5/2018
А. Пивак, А. Репин
Измерение параметров усилителей, смесителей и дифференциальных устройств с помощью векторного анализатора цепей
Рассмотрено применение векторного анализатора цепей (ВАЦ) R&S®ZVA компании Rohde & Schwarz (R&S) для измерения параметров активных устройств (усилителей), устройств с преобразованием частоты (смесителей) и проведения дифференциальных измерений. Отмечено, что ВАЦ R&S®ZVA предоставляет возможности удобного и экономичного решения данных измерительных задач. УДК 621.317 | ВАК 05.11.08 DOI: 10.22184/1992-4178.2018.176.5.120.127
Электроника НТБ #7/2017
К.Рыбкин
Измерения искажений четырехполюсников при помощи векторных анализаторов цепей. Часть 2
Рассмотрено измерение нелинейных искажений, вносимых четырехполюсниками, с помощью векторных анализаторов цепей (ВАЦ). Приведены примеры измерений интермодуляционных искажений с использованием ВАЦ компании Rohde & Schwarz. УДК 621.317 ВАК 05.11.00 DOI: 10.22184/1992-4178.2017.168.7.54.63
Электроника НТБ #6/2017
К.Рыбкин
Измерения искажений четырехполюсников при помощи векторных анализаторов цепей. Часть 1
Рассмотрено измерение нелинейных искажений, вносимых четырехполюсниками, с помощью векторных анализаторов цепей (ВАЦ). Приведены примеры измерений гармонических искажений с использованием ВАЦ компании Rohde & Schwarz. УДК 621.317 ВАК 05.11.00 DOI: 10.22184/1992-4178.2017.166.6.90.96
Электроника НТБ #8/2016
В.Казарновский, А.Крылов
Методы измерения параметров коаксиально-волноводных переходов и узлов с нестандартным сечением
Авторы статьи предлагают эффективную методику измерения параметров коаксиально-волноводных переходов и узлов с волноводным поперечным сечением сложной формы с использованием векторных анализаторов цепей компании Keysight Technologies.
Электроника НТБ #10/2015
Ж.-П.Гильме
Измерение параметров усилителя мощности в импульсных режимах: использование ВАЦ Anritsu VectorStar
Рассматривается применение векторных анализаторов цепей (ВАЦ) для измерения параметров усилителя мощности в импульсных режимах. Новый метод измерений, реализованный в ВАЦ VectorStar компании Anritsu, повышает точность отслеживания изменений в импульсных выходных сигналах усилителя мощности на базе нитрида галлия.
Электроника НТБ #8/2014
Н.Елисеев, И.Шахнович
Модульные приборы компании Keysight – компактные, производительные, универсальные
В последнее время компания Keysight Technologies активно развивает направление модульных приборов. На прошедшей в октябре 2014 года в Риме выставке, приуроченной к крупнейшему европейскому СВЧ-форуму – European Microwave Week, компания представила ряд новых модульных приборов. Каковы новинки компании Keysight в этой области и в чем преимущества модульного форм-фактора?
Наноиндустрия #3/2014
Ш.Ву
Сканирующая микроволновая микроскопия: уникальный метод измерений в нанодиапазоне
Компания Agilent Technologies разработала новый измерительный метод – сканирующую микроволновую микроскопию (СММ), которая уже удостоена ряда престижных наград. СММ объединяет широкие возможности измерений электрических величин микроволновым векторным анализатором цепей (ВАЦ) с наноразмерным пространственным разрешением атомно-силового микроскопа (АСМ). Этот метод может эффективно применяться при проведении разнообразных исследовательских работ. Ключевые слова: атомно-силовая микроскопия, измерение