eng
DOI: 10.22184/1992-4178.2026.255.3.170.174
Реверс-инжиниринг – это процесс анализа микросхемы с целью исследования ее конструкции, структуры, функциональности.
В статье обсуждаются современные методы и тенденции развития реверс-инжиниринга в микроэлектронике.
Теги: chip decapsulation electrical testing focused ion beam system reverse engineering scanning electron microscopy декапсуляция микросхем реверс-инжиниринг система сфокусированного ионного пучка сканирующая электронная микроскопия электрические испытания
Подпишитесь на журнал, чтобы прочитать полную версию статьи.
Реверс-инжиниринг – это процесс анализа микросхемы с целью исследования ее конструкции, структуры, функциональности.
В статье обсуждаются современные методы и тенденции развития реверс-инжиниринга в микроэлектронике.
Теги: chip decapsulation electrical testing focused ion beam system reverse engineering scanning electron microscopy декапсуляция микросхем реверс-инжиниринг система сфокусированного ионного пучка сканирующая электронная микроскопия электрические испытания
Подпишитесь на журнал, чтобы прочитать полную версию статьи.
Отзывы читателей
