sitemap
Наш сайт использует cookies. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей
Политикой Конфиденциальности
Согласен
главная
eng
Поиск:
на сайте журнала
на всех сайтах РИЦ
Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта
R&W
ISSN 1992-4178(print)
ISSN 1992-4186(online)
Книги по электронике
Статьи
Электроника НТБ #8/2025
Колонка Департамента радиоэлектронной промышленности
Электроника НТБ #6/2025
КОЛОНКА ДЕПАРТАМЕНТА РАДИОЭЛЕКТРОННОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ
Репортажи
//
все
Электроника НТБ #3/2025
ВИЗИТ НА ПР-ВО АО «КРАСНОЗНАМЕНСКИЙ ЗАВОД ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ «АРСЕНАЛ»
Электроника НТБ #10/2024
ЛОКАЛИЗАЦИЯ ПРОИЗВОДСТВА ОБОРУДОВАНИЯ. ВИЗИТ НА ПРОИЗВОДСТВО ООО «ПРОТЕХ»
Новости
//
все новости
28.10.2025
Международная выставка «Интерполитех» стартовала в Москве
21.10.2025
Выставка Testing&Control 2025 открыла свои двери для специалистов
События
//
все события
до 31.10.2025
Международный форум-выставка «Российский промышленник - 2025». г.Санкт- Петербург
c 25.11.2025 до 27.11.2025
4-я Международная выставка-форум «Электроника России». г. Москва, МВЦ «Крокус Экспо»
Вход:
Ваш e-mail:
Пароль:
- запомнить меня
Регистрация
Забыли пароль?
Архив журнала:
2025
2024
2023
2022
2021
2020
2019
2018
2017
2016
2015
2014
2013
2012
2011
2010
2009
2008
2007
2006
2005
2004
2003
2002
2001
2000
1999
1998
1997
1996
Медиаданные:
О журнале
Учредитель
Издатель
Редакционный совет
Распространение_
Редакционная политика:
Редакционная политика РИЦ «ТЕХНОСФЕРА»
Реклама:
Отдел рекламы
В журнале
На сайте
Авторам:
Соискателям учёной степени
Требования к статьям
Контакты:
Распространение
Адрес
Редакция
Журналы:
Электроника НТБ
Наноиндустрия
Первая миля
Фотоника
Аналитика
Станкоинструмент
Книги по электронике
читать книгу
Переверзев А.Л., Попов М.Г., Солодовников А.П.
Архитектуры процессорных систем. Практический курс
читать книгу
Белоус А.И., Солодуха В.А., Шведов С.В. /Под общей редакцией А.И. Белоуса
Основы конструирования высокоскоростных электронных устройств. Краткий курс «белой магии»
читать книгу
Переверзев А.Л., Попов М.Г., Солодовников А.П.
Архитектуры процессорных систем. Практический курс. 2-е исправленное издание
Другие серии книг:
Мир электроники
Мир радиоэлектроники
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир химии
Мир наук о Земле
Мир материалов и технологий
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Библиотечка «КВАНТ»
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир фотоники
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Тег "technology"
Станкоинструмент #2/2025
А. П. Кузнецов, О. С. Сухарев
Достигнутый уровень технологической независимости: проблемы и решения
DOI: 10.22184/2499-9407.2025.39.2.52.64 В статье с критических позиций рассматривается методика оценки достигнутого уровня технологической независимости, обобщаются ее основные недостатки и предлагается вариант их преодоления. В качестве методологии используется теория измерений и технологического развития, авторские подходы в области «экономики технологий» как нового научного направления, включающие типизацию, учет и измерение технологического потенциала и суверенитета. Предлагается алгоритм, существенно видоизменяющий утвержденную методику Минпромторга России и улучшающую ее в аспекте повышения правдоподобия оценки технологической независимости (суверенитета).
Станкоинструмент #3/2024
О. С. Сухарев
Измерение технологического развития: проблемы и способы их преодоления
DOI: 10.22184/2499-9407.2024.36.3.26.32 Статья посвящена рассмотрению измерительных проблем технологического развития, возникающих в современной экономической науке, имеющей трудности в рассмотрении технологичности хозяйственных систем, определении уровня технологического развития, вызванных сложностью агрегирования этого уровня и техническими ограничениями сравнительного анализа, если измерять по каждому отдельному направлению или объекту.
Электроника НТБ #6/2024
М. Макушин
АСПЕКТЫ РАЗВИТИЯ 6G-СЕТЕЙ. ЧАСТЬ 2
DOI: 10.22184/1992-4178.2024.237.6.116.128 В статье рассмотрены вопросы архитектуры и основных технологий, требующихся для развертывания 6G-сетей, и проблемы их реализации. Приводятся маршрутная карта развития 6G-сетей, составленная специалистами ЕС и США, а также примеры различных разработок для 6G-сетей.
Электроника НТБ #5/2024
М. Макушин
АСПЕКТЫ РАЗВИТИЯ 6G-СЕТЕЙ
DOI: 10.22184/1992-4178.2024.236.5.122.131 В статье рассмотрены вопросы архитектуры и основных технологий, требующихся для развертывания 6G-сетей, и проблемы их реализации. Приводятся маршрутная карта развития 6G-сетей, составленная специалистами ЕС и США, а также примеры различных разработок для 6G-сетей.
Электроника НТБ #2/2022
В. Иванов
ПЕРСПЕКТИВЫ И ВОЗМОЖНОСТИ ПРОИЗВОДСТВА микроLED-ДИСПЛЕЕВ
DOI: 10.22184/1992-4178.2022.213.2.106.113 Рассмотрен ряд технологических разработок для производства микроLED-дисплеев. Ожидается, что полноценная коммерциализация микроLED-дисплеев может стать реальностью в ближайшие годы.
Наноиндустрия #5/2020
Д.Г.Мустафаева
Анализ и исследование материаловедческих и технологических факторов при создании пленочных преобразователей
DOI: 10.22184/1993-8578.2020.13.5.304.307 Проведены анализ и исследование материаловедческих и технологических факторов при создании пленочных преобразователей, определены требования к материалам и их свойствам, технологии формирования элементов преобразователя. Показано, что учет материаловедческих и технологических факторов обеспечивает соответствие параметров изделия требуемым, устойчивость к внешним факторам, получение пленок исходного состава и стабильность технологии производства.
Наноиндустрия #2/2020
М.Г.Мустафаев, Д.Г.Мустафаева, Г.А.Мустафаев
Формирование контактно-металлизационных систем с улучшенными технологическими параметрами
DOI: 10.22184/1993-8578.2020.13.2.122.125 Показаны технологические подходы, улучшающие адгезию металлизации, уменьшающие структурные напряжения в пленке при осаждении и электромиграцию при формировании контактно-металлизационных систем элементов ИЭ.
Наноиндустрия #2/2020
М.Г.Мустафаев, Д.Г.Мустафаева, Г.А.Мустафаев
Элементно-технологическая и конструктивная интеграции при создании микроэлектронных приборных структур
DOI: 10.22184/1993-8578.2020.13.2.108.112 При изготовлении микроэлектронных приборных структур (МПС) с субмикронными размерами усиливается связь между их параметрами и технологией изготовления. Физико-технологическое моделирование позволяет прогнозировать характеристики МПС и устанавливать корреляции технологических и электрических параметров элементов, оптимально их проектировать.
Наноиндустрия #6/2019
М.Г.Мустафаев, Д.Г.Мустафаева, Г.А.Мустафаев
Формирование многоуровневой системы межсоединений и повышение воспроизводимости процесса при создании элементов интегральной электроники
DOI: 10.22184/1993-8578.2019.12.6.338.341 Показано формирование многоуровневой системы межсоединений (МСМ) в элементах интегральной электроники, определены влияющие факторы, пути снижения внутренних напряжений и обеспечение адгезии. Показано, что МСМ обеспечивает создание надежных и стабильных элементов и воспроизводимость получения МСМ.
Наноиндустрия #5/2019
М.Г.Мустафаев, Д.Г.Мустафаева, Г.А.Мустафаев
Воспроизводимость и стабильность технологии и параметров структур микроэлектронных приборов
DOI: 10.22184/1993-8578.2019.12.5.256.259 Рассмотрены технологические подходы, обеспечивающие достижение заданного уровня точности и стабильности технологических операций, формирование приборных структур с заданными параметрами и приборов на их основе.
1
2
→
Разработка: студия
Green Art