Электроника НТБ #9/2023
Д. Рыбаков
ЭЛЕКТРОМЕХАНИЧЕСКИЕ КОМПОНЕНТЫ АО «ЗПП» Рассмотрены различные типы устройств контактирующих (УК), которые разрабатывает и производит АО «Завод полупроводниковых приборов» (АО «ЗПП»). Электроника НТБ #8/2023
Д. Чувилкин
МНОГОФУНКЦИОНАЛЬНЫЕ КОМПЛЕКСЫ МТК КС ДЛЯ ПРОВЕРКИ КАБЕЛЬНЫХ СЕТЕЙ И ЖГУТОВ Многофункциональные комплексы МТК КС – инновационная разработка российских специалистов. Предназначен для проверки кабельных сетей и жгутов с применением низковольтных и высоковольтных методов контроля на всех этапах их производства, испытаний и эксплуатации. Электроника НТБ #7/2023
Д. Гришин
ИСПЫТАНИЯ НА ЭЛЕКТРОМАГНИТНУЮ СОВМЕСТИМОСТЬ DOI: 10.22184/1992-4178.2023.228.7.172.173 Испытательная лаборатория ЭМС АО «ТЕСТПРИБОР» располагает всеми необходимыми средствами измерения и испытательным оборудованием для проведения испытаний для подтверждения всех требований по электромагнитной совместимости. Аналитика #2/2023
Г. Е. Марьина, М. С. Доронина
Современное состояние аналитического контроля ферросплавов https://doi.org/10.22184/2227-572X.2023.13.2.114.124 Ферросплавы являются одной из базовых составляющих в технологических процессах металлургической промышленности. Расширение номенклатуры ферросплавов, повышение требований к их качеству привели к необходимости совершенствования методов анализа этих материалов. Сложность анализа состоит в сочетании высокоточного и экспрессного определения, как легирующих элементов, так и сопутствующих компонентов и примесей. В существующих государственных стандартах на методы анализа ферросплавов регламентированы только химические и физико-­химические методы анализа: титриметрия, гравиметрия, атомно-­абсорбционная спектрометрия, спек-трофотометрия и др., которые не являются универсальными. В статье представлен обзор методической базы и современных методов анализа ферросплавов. Электроника НТБ #10/2022
ПРИМЕНЕНИЕ ПРИЕМОПЕРЕДАТЧИКОВ СЕРИИ PROTEUS КОМПАНИИ TABOR ELECTRONICS ДЛЯ ТЕСТИРОВАНИЯ РАДАРОВ DOI: 10.22184/1992-4178.2022.221.10.62.69 Рассмотрены принципы работы радаров. Приведена информация о характеристиках приемопередатчиков серии Proteus компании Tabor Electronics и их применении для тестирования радаров. Электроника НТБ #2/2022
К. Фелтон, Д. Вертянов, С. Евстафьев, В. Сидоренко, Н. Горшкова
НОВОЕ ПОКОЛЕНИЕ РЕШЕНИЙ ДЛЯ КОРПУСИРОВАНИЯ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ. Часть 4 DOI: 10.22184/1992-4178.2022.213.2.82.86 Рассмотрены основные этапы и программные модули лучших в своем классе решений верификации и тестирования сложных гетерогенных корпусов микросхем для эффективной и безошибочной передачи проекта на производство. Электроника НТБ #9/2021
А. Мендеров
СРАВНЕНИЕ ФУНКЦИОНАЛЬНЫХ ГЕНЕРАТОРОВ И ГЕНЕРАТОРОВ СИГНАЛОВ ПРОИЗВОЛЬНОЙ ФОРМЫ DOI: 10.22184/1992-4178.2021.210.9.122.125 Проведено сравнение функциональных генераторов и генераторов сигналов произвольной формы. Приведена информация о преимуществах, недостатках и возможных применениях генераторов каждого из этих типов. Аналитика #2/2021
И. В. Болдырев, Т. Я. Селиванова
Особенности определения качественных свой­ств. Требования к лабораториям В 2017 году была принята новая редакция международного стандарта, который был переведен на русский язык и вступил в силу в 2019 году – ГОСТ ISO / IEC 17025-2019 Оценка соответствия. Общие требования к компетент­ности испытательных и калибровочных лабораторий. Некоторые положения документа требуют дополнительных разъяснений. Обсуждаются вопросы определения качественных свой­ств объекта, которые не выражаются в единицах измерений. Перечислены и подробно рассмотрены примеры качественных свой­ств, которые могут быть определены. Отмечено, что не разработана общая методология определения качественных свой­ств, поэтому отдельные удачные попытки установить единый подход к методикам определения отдельных групп качественных свой­ств не решают проблему в целом. В результате в стандартах можно встретить описания методик, которые очевидно нельзя признать достаточно полными. Приведены рекомендации по верификации методик определения качественных свой­ств в испытательных лабораториях. Электроника НТБ #5/2020
М. Макушин, В. Мартынов
ПРОИЗВОДСТВЕННЫЕ ТЕХНОЛОГИИ МИКРОЭЛЕКТРОНИКИ: ПРОБЛЕМЫ РАЗВИТИЯ. Часть 2 DOI: 10.22184/1992-4178.2020.196.5.120.127 Рассматриваются некоторые аспекты развития технологий микро­электроники: ALD- и ХОПФ процессы, ионная имплантация, EUV литография, совершенствование методик тестирования. Электроника НТБ #2/2020
М. Макушин, В. Мартынов
Некоторые проблемы современной метрологии в микроэлектронике DOI: 10.22184/1992-4178.2020.193.2.80.91 По мере масштабирования ИС и освоения 3D-структур усложняются средства метрологии и контроля. Важную роль в дальнейшем их развитии и совершенствовании играют искусственный интеллект, машинное обучение и совершенствование вычислительных технологий.