Электроника НТБ - научно-технический журнал

Аннотации статей

Table of Contents

Содержание

Competent opinion

Компетентное мнение

D. Ivanov
OUR MAJOR EFFORTS ARE AIMED AT EXPANDING THE RANGE OF OUR OWN SOLUTIONS

Д. Иванов
НАШИ ОСНОВНЫЕ УСИЛИЯ НАПРАВЛЕНЫ НА РАСШИРЕНИЕ ЛИНЕЙКИ СОБСТВЕННЫХ РЕШЕНИЙ

R. Shakhovoy, A. Losev
HOW TO COUNTER COMING CRYPTOGRAPHIC SYSTEMS HACKING THREATS

Р. Шаховой, А. Лосев
КАК ПРОТИВОСТОЯТЬ ГРЯДУЩИМ УГРОЗАМ ВЗЛОМА КРИПТОГРАФИЧЕСКИХ СИСТЕМ

Column of radio-electronic industry department

Колонка департамента радиоэлектронной промышленности

COLUMN OF DEPARTMENT OF RADIO-ELECTRONIC INDUSTRY

КОЛОНКА ДЕПАРТАМЕНТА РАДИОЭЛЕКТРОННОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ

Exhibitions & Conferences

Выставки и конференции

Yu. Kovalevsky
ELECTRONIC COMPONENTS FOR ROCKET AND SPACE INDUSTRY AND NOT ONLY THAT “ECB 2023” THE 12TH ALL-RUSSIA SCIENCE AND TECHNOLOGY CONFERENCE

Ю. Ковалевский
ЭКБ ДЛЯ РАКЕТНО-КОСМИЧЕСКОЙ ОТРАСЛИ И НЕ ТОЛЬКО XII ВСЕРОССИЙСКАЯ НАУЧНО-ТЕХНИЧЕСКАЯ КОНФЕРЕНЦИЯ «ЭКБ 2023»

Economy & Business

Экономика + бизнес

B. Avdonin, M. Makushin
MICROELECTRONICS: CHIPS ACT AND EXPANSION OF THE US MANUFACTURING BASE

Б. Авдонин, М. Макушин
МИКРОЭЛЕКТРОНИКА: CHIPS ACT И РАСШИРЕНИЕ ПРОИЗВОДСТВЕННОЙ БАЗЫ В США

Information and telecommunication systems

Информационные и телекоммуникационные системы

E. Starovoitov, E. Skiba
NAVIGATION AND INFORMATION SOLUTIONS FOR AGRICULTURAL MACHINERY

Е. Старовойтов, Е. Скиба
НАВИГАЦИОННО-ИНФОРМАЦИОННЫЕ РЕШЕНИЯ ДЛЯ АГРОТЕХНИКИ

Engineering solutions

Конструкторские решения

S. Vantsov, O. Khomutskaya, E. Liin
INFLUENCE OF DESIGN PARAMETERS ON PLANE STRAIN OF PRINTED CIRCUIT BOARDS

С. Ванцов, О. Хомутская, Е. Лийн
ВЛИЯНИЕ КОНСТРУКТИВНЫХ ПАРАМЕТРОВ НА ПЛОСКУЮ ДЕФОРМАЦИЮ ПЕЧАТНЫХ ПЛАТ

Test & Measurements

Контроль и измерения

A. Strogonov, M. Kharchenko, A. Khanin
FEATURES OF MEASURING THE MIS-HEMT DIE-PACKAGE THERMAL RESISTANCE

А. Строгонов, М. Харченко, А. Ханин
ОСОБЕННОСТИ ИЗМЕРЕНИЯ ТЕПЛОВОГО СОПРОТИВЛЕНИЯ «КРИСТАЛЛ – КОРПУС» MIS-HEMT-ТРАНЗИСТОРОВ

A. Krylov, F. Krekoten, A. Pankov
METHODS FOR MEASURING S-PARAMETERS OF HIGH-SPEED CONNECTORS USING VECTOR NETWORK ANALYZERS

А. Крылов, Ф. Крекотень, А. Панков
МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ S-ПАРАМЕТРОВ ВЫСОКОСКОРОСТНЫХ РАЗЪЕМОВ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ ВЕКТОРНЫХ АНАЛИЗАТОРОВ ЦЕПЕЙ

D. Chuvilkin
MTK KS MULTIFUNCTIONAL TESTBEDS FOR TESTING CABLE SYSTEMS AND HARNESSES

Д. Чувилкин
МНОГОФУНКЦИОНАЛЬНЫЕ КОМПЛЕКСЫ МТК КС ДЛЯ ПРОВЕРКИ КАБЕЛЬНЫХ СЕТЕЙ И ЖГУТОВ

A. Chebanov, A. Shostak
UNIVERSAL AUTOMATIC BATTERY TESTING SYSTEM

А. Чебанов, А. Шостак
УНИВЕРСАЛЬНАЯ СИСТЕМА АВТОМАТИЧЕСКОГО ТЕСТИРОВАНИЯ АККУМУЛЯТОРНЫХ БАТАРЕЙ

Problems and solutions

Проблемы и решения

A. Achkasov
CHIPLETS AND HETEROGENEOUS INTEGRATION AS A BASIC TECHNOLOGY STACK CAPABLE OF ENSURING THE SOVEREIGNTY OF DOMESTIC ELECTRONICS IN A NEW TECHNOLOGICAL ORDER

А. Ачкасов
ЧИПЛЕТЫ И ГЕТЕРОГЕННАЯ ИНТЕГРАЦИЯ КАК БАЗОВЫЙ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЙ СТЕК, СПОСОБНЫЙ ОБЕСПЕЧИТЬ СУВЕРЕНИТЕТ ОТЕЧЕСТВЕННОЙ ЭЛЕКТРОНИКИ В НОВОМ ТЕХНОЛОГИЧЕСКОМ УКЛАДЕ

Reliability and tests

Надежность и испытания

P. Aleinikov
HOW TO AUTOMATE CONTROL OF MANUAL OPERATIONS?

П. Алейников
КАК АВТОМАТИЗИРОВАТЬ КОНТРОЛЬ РУЧНЫХ ОПЕРАЦИЙ?

Sh. Shugaepov, E. Ermolaev, V. Egoshin, Yu. Khanina
INCOMING INSPECTION OF MATERIALS IS THE BASIS FOR THE QUALITY OF METAL-CERAMIC PACKAGES FROM ZPP JSC

Ш. Шугаепов, Е. Ермолаев, В. Егошин, Ю. Ханина
ВХОДНОЙ КОНТРОЛЬ МАТЕРИАЛОВ – ОСНОВА КАЧЕСТВА МЕТАЛЛОКЕРАМИЧЕСКИХ КОРПУСОВ АО «ЗПП»

Power electronics

Силовая электроника

A. Shostak
WIDE RANGE OF SMALL SIZE. ITECH ELECTRONIC'S GAME CHANGER: IT2800 SERIES PRECISION SOURCE MEASURE UNITS

А. Шостак
КОМПАКТНОСТЬ ШИРОКОГО ДИАПАЗОНА. НОВОЕ СЛОВО ITECH ELECTRONIC – ПРЕЦИЗИОННЫЕ ИСТОЧНИКИ-ИЗМЕРИТЕЛИ СЕРИИ IT2800

V. Masalov
ISOLATED CURRENT TRANSDUCERS

В. Масалов
ИЗОЛИРОВАННЫЕ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЕ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛИ ТОКА

Computer Technology

Вычислительная техника

S. Nazarov, A. Barsukov
RELIABILITY AND SECURITY OF OPERATING SYSTEMS OF VARIOUS ARCHITECTURES. PART 1

С. Назаров, А. Барсуков
НАДЕЖНОСТЬ И БЕЗОПАСНОСТЬ ОПЕРАЦИОННЫХ СИСТЕМ РАЗЛИЧНОЙ АРХИТЕКТУРЫ. ЧАСТЬ 1