Электроника НТБ - научно-технический журнал

Аннотации статей

Table of Contents

Содержание

Competent opinion

Компетентное мнение

A. Pereverzev
THE CREATION OF DOMESTIC CAD SYSTEMS IS THE FORMATION OF NOT JUST A SET OF TOOLS, BUT A UNIFIED ECOSYSTEM FOR MICROELECTRONICS DESIGN

А. Переверзев
СОЗДАНИЕ ОТЕЧЕСТВЕННЫХ САПР – ЭТО ФОРМИРОВАНИЕ НЕ ПРОСТО НАБОРА ИНСТРУМЕНТОВ, А ЕДИНОЙ ЭКОСИСТЕМЫ ПРОЕКТИРОВАНИЯ МИКРОЭЛЕКТРОНИКИ

Column of radio-electronic industry department

Колонка департамента радиоэлектронной промышленности

COLUMN OF DEPARTMENT OF RADIO-ELECTRONIC INDUSTRY

КОЛОНКА ДЕПАРТАМЕНТА РАДИОЭЛЕКТРОННОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ

Report from a company

Репортаж с предприятия

Yu. Kovalevsky
FOCUS ON COMPLEX PRODUCTS AS A COMPETITIVE ADVANTAGE VISIT TO THE PRODUCTION FACILITY OF NKT CJSC

Ю. Ковалевский
ФОКУС НА СЛОЖНЫЕ ИЗДЕЛИЯ КАК КОНКУРЕНТНОЕ ПРЕИМУЩЕСТВО. ВИЗИТ НА ПРОИЗВОДСТВО ЗАО «НКТ»

Industry Events

Отраслевые мероприятия

E. Kasparova
EXPERT SESSION “ELECTRONICS MARKETING: HOW COMPLEX ENGINEERING SOLUTIONS REACH THE MARKET” AT EXPOELECTRONICA | EXPOCIFRA 2026

Е. Каспарова
ЭКСПЕРТНАЯ СЕССИЯ «МАРКЕТИНГ ЭЛЕКТРОНИКИ: КАК СЛОЖНЫЕ ИНЖЕНЕРНЫЕ РЕШЕНИЯ ДОХОДЯТ ДО РЫНКА» НА ВЫСТАВКАХ EXPOELECTRONICA | EXPOCIFRA 2026

Manufacturing equipment and process materials

Технологическое оборудование и материалы

D. Potseluev
NOTHING LASTS FOREVER UNDER ROSIN: A NEW GENERATION OF RUSSIAN FLUXES

Д. Поцелуев
НИЧТО НЕ ВЕЧНО ПОД СМОЛОЙ: НОВОЕ ПОКОЛЕНИЕ РОССИЙСКИХ ФЛЮСОВ

CAD

Системы проектирования

S. Smolov, A. Kotsynyak, A. Kamkin
DOMESTIC SOFTWARE TOOLS FOR STATIC CODE ANALYSIS, LOGICAL SYNTHESIS AND LOGICAL EQUIVALENCE VERIFICATION FOR DIGITAL VLSI CAD SYSTEMS

С. Смолов, А. Коцыняк, А. Камкин
ОТЕЧЕСТВЕННЫЕ ПРОГРАММНЫЕ ИНСТРУМЕНТЫ СТАТИЧЕСКОГО АНАЛИЗА КОДА, ЛОГИЧЕСКОГО СИНТЕЗА И ПРОВЕРКИ ЛОГИЧЕСКОЙ ЭКВИВАЛЕНТНОСТИ ДЛЯ САПР ЦИФРОВЫХ СБИС

A. Nikitin, Ya. Ovchinnikov, L. Pereverzev, A. Chasovskikh
DFT AND ATPG SOFTWARE TOOLS FOR THE DIGITAL VLSI DESIGN FLOW

А. Никитин, Я. Овчинников, Л. Переверзев, А. Часовских
ПРОГРАММНЫЕ ИНСТРУМЕНТЫ DFT И ATPG ДЛЯ МАРШРУТА ПРОЕКТИРОВАНИЯ ЦИФРОВЫХ СБИС

V. Sazonov, M. Khapaev, M. Sheblaev, R. Erokhin, V. Serov
DEVELOPMENT OF SOFTWARE COMPONENTS FOR PHYSICAL SYNTHESIS AND VERIFICATION OF VLSI FOR DIGITAL DESIGN FLOW

В. Сазонов, М. Хапаев, М. Шеблаев, Р. Ерохин, В. Серов
РАЗРАБОТКА ПРОГРАММНЫХ КОМПОНЕНТ ФИЗИЧЕСКОГО СИНТЕЗА И ВЕРИФИКАЦИИ СБИС ДЛЯ ЦИФРОВОГО МАРШРУТА ПРОЕКТИРОВАНИЯ

N. Malyshev, I. Belyutin, S. Rybkin, A. Borisov
CHIP VERIFICATION. CHALLENGES, SOLUTIONS AND THE CURRENT SITUATION IN THE DIGITAL VLSI CAD VERIFICATION MARKET

Н. Малышев, И. Белютин, С. Рыбкин, А. Борисов
ВЕРИФИКАЦИЯ ЧИПА. ВЫЗОВЫ, РЕШЕНИЯ И ТЕКУЩАЯ СИТУАЦИЯ НА РЫНКЕ САПР ВЕРИФИКАЦИИ ЦИФРОВЫХ СБИС

A. Andreev, A. Bardushkin, E. Demidov, V. Kartashev, E. Kozhevnikov, I. Mkrtychan, I. Nazarov, L. Pereverzev, K. Selina, E. Sereda, A. Tretyakov, I. Shulepov, Yu. Yusipova
SOFTWARE TOOLS FOR SIGNAL INTEGRITY ANALYSIS, IR DROP ON POWER RAILS AND ELECTROMIGRATION EFFECT ANALYSIS FOR THE DIGITAL VLSI DESIGN FLOW

А. Андреев, А. Бардушкин, Е. Демидов, В. Карташев, Е. Кожевников, И. Мкртычан, И. Назаров, Л. Переверзев, К. Селина, Е. Середа, А. Третьяков, И. Шулепов, Ю. Юсипова
ПРОГРАММНЫЕ ИНСТРУМЕНТЫ АНАЛИЗА ЦЕЛОСТНОСТИ СИГНАЛОВ, ПАДЕНИЯ НАПРЯЖЕНИЯ НА ШИНАХ ПИТАНИЯ И ЭЛЕКТРОМИГРАЦИОННОГО ЭФФЕКТА ДЛЯ МАРШРУТА ПРОЕКТИРОВАНИЯ ЦИФРОВЫХ СБИС

A. Zinchenko, A. Kogai, E. Ivanova
DEVELOPMENT OF DOMESTIC CAD SYSTEMS FOR MICROWAVE AND ANALOG ICs: STATUS, ISSUES, PROSPECTS

А. Зинченко, А. Когай, Е. Иванова
РАЗРАБОТКА ОТЕЧЕСТВЕННЫХ САПР СВЧ И АНАЛОГОВЫХ ИС: СТАТУС, ПРОБЛЕМЫ, ПЕРСПЕКТИВЫ

T. Krupkina, A. Krasyukov, V. Losev, Yu. Chaplygin, D. Bulakh, D. Ryzhova, A. Korshunov, A. Pereverzev
DEVELOPMENT OF A DOMESTIC LINE OF SOFTWARE FOR MICROELECTRONIC PRODUCTION

Т. Крупкина, А. Красюков, В. Лосев, Ю. Чаплыгин, Д. Булах, Д. Рыжова, А. Коршунов, А. Переверзев
СОЗДАНИЕ ОТЕЧЕСТВЕННОЙ ЛИНЕЙКИ ПРОГРАММНЫХ СРЕДСТВ ДЛЯ МИКРОЭЛЕКТРОННЫХ ПРОИЗВОДСТВ

V. Ukhin, V. Kukharuk, D. Kolomensky, V. Dvornikov
CALCULATING PCB CROSSTALK IN THE TIME DOMAIN USING SimPCB Lite

В. Ухин, В. Кухарук, Д. Коломенский, В. Дворников
РАСЧЕТ ПЕРЕКРЕСТНЫХ ПОМЕХ НА ПЕЧАТНОЙ ПЛАТЕ ВО ВРЕМЕННОЙ ОБЛАСТИ В ПРОГРАММЕ SimPCB Lite

Data Collection, Processing and Communication Systems

Системы сбора, обработки и обмена данными

O. Spiridonov, L. Mileshko, S. Yurchenko
NEURAL NETWORK-BASED METHODOLOGY FOR DESIGNING HARDWARE AND SOFTWARE SYSTEMS AND RADIO CHANNELS FOR REMOTE ENVIRONMENTAL MONITORING

О. Спиридонов, Л. Милешко, С. Юрченко
МЕТОДОЛОГИЯ ПРОЕКТИРОВАНИЯ АППАРАТНО-ПРОГРАММНЫХ КОМПЛЕКСОВ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ НЕЙРОННЫХ СЕТЕЙ И РАДИОКАНАЛОВ ДЛЯ ДИСТАНЦИОННОГО ЭКОЛОГИЧЕСКОГО МОНИТОРИНГА

Test & Measurements

Контроль и измерения

O. Chuprinova
DETECTING HEATING ANOMALIES IN PRINTED CIRCUIT ASSEMBLY COMPONENTS

О. Чупринова
ВЫЯВЛЕНИЕ АНОМАЛИЙ НАГРЕВА КОМПОНЕНТОВ ПЕЧАТНОГО УЗЛА

E. Morozov, I. Glotov
PHASE-COHERENT SYSTEM FOR TESTING APAAs BASED ON A RADIO CHANNEL EMULATOR

Е. Морозов, И. Глотов
ФАЗОКОГЕРЕНТНАЯ СИСТЕМА ДЛЯ ТЕСТИРОВАНИЯ АФАР НА ОСНОВЕ ЭМУЛЯТОРА РАДИОКАНАЛА

Microwave electronics

СВЧ-электроника

V. Shalomanov
IMPORT SUBSTITUTION OF MICROWAVE COMPONENTS: PROVEN DOMESTIC EQUIVALENTS OF FOREIGN COMPONENTS FROM RADIANT-EK JSC

В. Шаломанов
ИМПОРТОЗАМЕЩЕНИЕ СВЧ КОМПОНЕНТНОЙ БАЗЫ: ПРОВЕРЕННЫЕ ОТЕЧЕСТВЕННЫЕ АНАЛОГИ ЗАРУБЕЖНЫХ КОМПОНЕНТОВ ОТ АО «РАДИАНТ-ЭК»

V. Kochemasov, T. Kosichkina
GaN TRANSISTORS. PART 3

В. Кочемасов, Т. Косичкина
ТРАНЗИСТОРЫ НА ОСНОВЕ GaN-ТЕХНОЛОГИИ. ЧАСТЬ 3

Reliability and tests

Надежность и испытания

A. Trushina
WHY IS THE CLASSICAL ION CHROMATOGRAPHY METHOD FAILING TO MEET THE NEW DEMANDS OF THE MICROELECTRONICS INDUSTRY?

А. Трушина
ПОЧЕМУ КЛАССИЧЕСКИЙ МЕТОД ИОННОЙ ХРОМАТОГРАФИИ НЕ СПРАВЛЯЕТСЯ С НОВЫМИ ТРЕБОВАНИЯМИ В МИКРОЭЛЕКТРОННОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ?

Training & Education

Подготовка кадров

M. Smirnova, I. Arapova
SOCIAL ASPECTS OF DEVELOPING AN ENGINEERING CULTURE: THE CASE OF NIIME JSC

М. Смирнова, И. Арапова
СОЦИАЛЬНЫЕ АСПЕКТЫ ФОРМИРОВАНИЯ ИНЖЕНЕРНОЙ КУЛЬТУРЫ НА ПРИМЕРЕ АО «НИИМЭ»

for Engineers

Инженеру

FOR ENGINEERS

ИНЖЕНЕРУ

Production technologies

Производственные технологии

S. Vorobyov
WHAT IS THE OPTIMAL FREQUENCY FOR ULTRASONIC MICROWELDING OF WIRE JOINTS?

С. Воробьев
КАКАЯ ЧАСТОТА ОПТИМАЛЬНА ДЛЯ УЛЬТРАЗВУКОВОЙ МИКРОСВАРКИ ПРОВОЛОЧНЫХ СОЕДИНЕНИЙ?

R. Shakhmaeva, G. Irzaev
TECHNOLOGY OF GOLD IMPURITY DIFFUSION INTO THE ACTIVE REGION OF A POWER TRANSISTOR CRYSTAL STRUCTURE

Р. Шахмаева, Г. Ирзаев
ТЕХНОЛОГИЯ ДИФФУЗИИ ПРИМЕСИ ЗОЛОТА В РАБОЧУЮ ОБЛАСТЬ СТРУКТУРЫ КРИСТАЛЛА МОЩНОГО ТРАНЗИСТОРА