eng
Competent opinion
Компетентное мнение
Column of radio-electronic industry department
Колонка департамента радиоэлектронной промышленности
Report from a company
Репортаж с предприятия
Yu. Kovalevsky
FOCUS ON COMPLEX PRODUCTS AS A COMPETITIVE ADVANTAGE VISIT TO THE PRODUCTION FACILITY OF NKT CJSC DOI: 10.22184/1992-4178.2026.258.6.36.46
FOCUS ON COMPLEX PRODUCTS AS A COMPETITIVE ADVANTAGE VISIT TO THE PRODUCTION FACILITY OF NKT CJSC DOI: 10.22184/1992-4178.2026.258.6.36.46
Ю. Ковалевский
ФОКУС НА СЛОЖНЫЕ ИЗДЕЛИЯ КАК КОНКУРЕНТНОЕ ПРЕИМУЩЕСТВО. ВИЗИТ НА ПРОИЗВОДСТВО ЗАО «НКТ» DOI: 10.22184/1992-4178.2026.258.6.36.46
ФОКУС НА СЛОЖНЫЕ ИЗДЕЛИЯ КАК КОНКУРЕНТНОЕ ПРЕИМУЩЕСТВО. ВИЗИТ НА ПРОИЗВОДСТВО ЗАО «НКТ» DOI: 10.22184/1992-4178.2026.258.6.36.46
Industry Events
Отраслевые мероприятия
E. Kasparova
EXPERT SESSION “ELECTRONICS MARKETING: HOW COMPLEX ENGINEERING SOLUTIONS REACH THE MARKET” AT EXPOELECTRONICA | EXPOCIFRA 2026 DOI: 10.22184/1992-4178.2026.258.6.28.34
EXPERT SESSION “ELECTRONICS MARKETING: HOW COMPLEX ENGINEERING SOLUTIONS REACH THE MARKET” AT EXPOELECTRONICA | EXPOCIFRA 2026 DOI: 10.22184/1992-4178.2026.258.6.28.34
Е. Каспарова
ЭКСПЕРТНАЯ СЕССИЯ «МАРКЕТИНГ ЭЛЕКТРОНИКИ: КАК СЛОЖНЫЕ ИНЖЕНЕРНЫЕ РЕШЕНИЯ ДОХОДЯТ ДО РЫНКА» НА ВЫСТАВКАХ EXPOELECTRONICA | EXPOCIFRA 2026 DOI: 10.22184/1992-4178.2026.258.6.28.34
ЭКСПЕРТНАЯ СЕССИЯ «МАРКЕТИНГ ЭЛЕКТРОНИКИ: КАК СЛОЖНЫЕ ИНЖЕНЕРНЫЕ РЕШЕНИЯ ДОХОДЯТ ДО РЫНКА» НА ВЫСТАВКАХ EXPOELECTRONICA | EXPOCIFRA 2026 DOI: 10.22184/1992-4178.2026.258.6.28.34
Manufacturing equipment and process materials
Технологическое оборудование и материалы
D. Potseluev
NOTHING LASTS FOREVER UNDER ROSIN: A NEW GENERATION OF RUSSIAN FLUXES DOI: 10.22184/1992-4178.2026.258.6.136.140
The article provides an overview of the Solius line of soldering fluxes from Ostec-Integra, describing their compositions, associated manufacturing processes and application features. Continuous development of new formulations allows the company to ensure its products meet modern technological challenges.
NOTHING LASTS FOREVER UNDER ROSIN: A NEW GENERATION OF RUSSIAN FLUXES DOI: 10.22184/1992-4178.2026.258.6.136.140
The article provides an overview of the Solius line of soldering fluxes from Ostec-Integra, describing their compositions, associated manufacturing processes and application features. Continuous development of new formulations allows the company to ensure its products meet modern technological challenges.
Д. Поцелуев
НИЧТО НЕ ВЕЧНО ПОД СМОЛОЙ: НОВОЕ ПОКОЛЕНИЕ РОССИЙСКИХ ФЛЮСОВ DOI: 10.22184/1992-4178.2026.258.6.136.140
В статье представлен обзор линейки паяльных флюсов «Солиус» производства «Остек-Интегра»: описаны составы, соответствующие технологические процессы и особенности применения. Постоянная работа над новыми рецептурами позволяет компании обеспечивать соответствие продукции современным технологическим вызовам.
НИЧТО НЕ ВЕЧНО ПОД СМОЛОЙ: НОВОЕ ПОКОЛЕНИЕ РОССИЙСКИХ ФЛЮСОВ DOI: 10.22184/1992-4178.2026.258.6.136.140
В статье представлен обзор линейки паяльных флюсов «Солиус» производства «Остек-Интегра»: описаны составы, соответствующие технологические процессы и особенности применения. Постоянная работа над новыми рецептурами позволяет компании обеспечивать соответствие продукции современным технологическим вызовам.
Теги: import substitution selective soldering soldering flux wave soldering импортозамещение пайка волной паяльный флюс селективная пайка
CAD
Системы проектирования
S. Smolov, A. Kotsynyak, A. Kamkin
DOMESTIC SOFTWARE TOOLS FOR STATIC CODE ANALYSIS, LOGICAL SYNTHESIS AND LOGICAL EQUIVALENCE VERIFICATION FOR DIGITAL VLSI CAD SYSTEMS The Institute for System Programming of the Russian
Academy of Sciences (ISP RAS) is participating in a program
to develop domestic CAD systems for digital VLSI circuits. The article discusses the key functionalities of the static code analysis, logic synthesis and logical equivalence verification tools for digital VLSI circuits developed at the ISP RAS.
DOMESTIC SOFTWARE TOOLS FOR STATIC CODE ANALYSIS, LOGICAL SYNTHESIS AND LOGICAL EQUIVALENCE VERIFICATION FOR DIGITAL VLSI CAD SYSTEMS The Institute for System Programming of the Russian
Academy of Sciences (ISP RAS) is participating in a program
to develop domestic CAD systems for digital VLSI circuits. The article discusses the key functionalities of the static code analysis, logic synthesis and logical equivalence verification tools for digital VLSI circuits developed at the ISP RAS.
С. Смолов, А. Коцыняк, А. Камкин
ОТЕЧЕСТВЕННЫЕ ПРОГРАММНЫЕ ИНСТРУМЕНТЫ СТАТИЧЕСКОГО АНАЛИЗА КОДА, ЛОГИЧЕСКОГО СИНТЕЗА И ПРОВЕРКИ ЛОГИЧЕСКОЙ ЭКВИВАЛЕНТНОСТИ ДЛЯ САПР ЦИФРОВЫХ СБИС Институт системного программирования РАН принимает
участие в программе по созданию отечественных САПР
для цифровых СБИС. В статье обсуждаются основные функциональные возможности инструментов статического анализа кода, логического синтеза и проверки логической эквивалентности для САПР цифровых СБИС, разработанных в ИСП РАН.
ОТЕЧЕСТВЕННЫЕ ПРОГРАММНЫЕ ИНСТРУМЕНТЫ СТАТИЧЕСКОГО АНАЛИЗА КОДА, ЛОГИЧЕСКОГО СИНТЕЗА И ПРОВЕРКИ ЛОГИЧЕСКОЙ ЭКВИВАЛЕНТНОСТИ ДЛЯ САПР ЦИФРОВЫХ СБИС Институт системного программирования РАН принимает
участие в программе по созданию отечественных САПР
для цифровых СБИС. В статье обсуждаются основные функциональные возможности инструментов статического анализа кода, логического синтеза и проверки логической эквивалентности для САПР цифровых СБИС, разработанных в ИСП РАН.
Теги: : digital vlsi logical equivalence and design rule checking logic synthesis static code analysis tool инструмент статического анализа кода логический синтез проверка логической эквивалентности и правил проектирования цифровые сбис
A. Nikitin, Ya. Ovchinnikov, L. Pereverzev, A. Chasovskikh
DFT AND ATPG SOFTWARE TOOLS FOR THE DIGITAL VLSI DESIGN FLOW DOI: 10.22184/1992-4178.2026.258.6.60.65
IC testing at all stages, from design to production, is a key quality control tool. The proposed testability assurance concept allows for the addition of hardware to the VLSI design during the design process, providing access to critical circuit elements for the most comprehensive testing
DFT AND ATPG SOFTWARE TOOLS FOR THE DIGITAL VLSI DESIGN FLOW DOI: 10.22184/1992-4178.2026.258.6.60.65
IC testing at all stages, from design to production, is a key quality control tool. The proposed testability assurance concept allows for the addition of hardware to the VLSI design during the design process, providing access to critical circuit elements for the most comprehensive testing
А. Никитин, Я. Овчинников, Л. Переверзев, А. Часовских
ПРОГРАММНЫЕ ИНСТРУМЕНТЫ DFT И ATPG ДЛЯ МАРШРУТА ПРОЕКТИРОВАНИЯ ЦИФРОВЫХ СБИС DOI: 10.22184/1992-4178.2026.258.6.60.65
Тестирование ИС на всех этапах от проектирования до производства – ключевой инструмент контроля качества. Предлагаемая концепция обеспечения тестопригодности дает возможность в процессе проектирования в конструкцию СБИС добавить аппаратуру, обеспечивающую доступ к критическим элементам схемы с целью наиболее полного ее тестирования.
ПРОГРАММНЫЕ ИНСТРУМЕНТЫ DFT И ATPG ДЛЯ МАРШРУТА ПРОЕКТИРОВАНИЯ ЦИФРОВЫХ СБИС DOI: 10.22184/1992-4178.2026.258.6.60.65
Тестирование ИС на всех этапах от проектирования до производства – ключевой инструмент контроля качества. Предлагаемая концепция обеспечения тестопригодности дает возможность в процессе проектирования в конструкцию СБИС добавить аппаратуру, обеспечивающую доступ к критическим элементам схемы с целью наиболее полного ее тестирования.
Теги: ach_dft and cadence modus software tools : testability test vectors программные инструменты ach_dft и cadence modus тестируемость тестовые векторы
V. Sazonov, M. Khapaev, M. Sheblaev, R. Erokhin, V. Serov
DEVELOPMENT OF SOFTWARE COMPONENTS FOR PHYSICAL SYNTHESIS AND VERIFICATION OF VLSI FOR DIGITAL DESIGN FLOW The development of domestic design flows is a joint effort between leading design centers and research institutes. The article discusses the features of high-level synthesis, static analysis, physical design and other software tools developed at Lomonosov Moscow State University for the digital VLSI design flow.
DEVELOPMENT OF SOFTWARE COMPONENTS FOR PHYSICAL SYNTHESIS AND VERIFICATION OF VLSI FOR DIGITAL DESIGN FLOW The development of domestic design flows is a joint effort between leading design centers and research institutes. The article discusses the features of high-level synthesis, static analysis, physical design and other software tools developed at Lomonosov Moscow State University for the digital VLSI design flow.
В. Сазонов, М. Хапаев, М. Шеблаев, Р. Ерохин, В. Серов
РАЗРАБОТКА ПРОГРАММНЫХ КОМПОНЕНТ ФИЗИЧЕСКОГО СИНТЕЗА И ВЕРИФИКАЦИИ СБИС ДЛЯ ЦИФРОВОГО МАРШРУТА ПРОЕКТИРОВАНИЯ Разработка отечественных маршрутов проектирования ведется совместными усилиями ведущих дизайн-центров и исследовательских институтов. В статье обсуждаются особенности разрабатываемых в МГУ имени М.В. Ломоносова инструментов высокоуровневого синтеза, статического анализа, физического проектирования и других программных продуктов для маршрута проектирования цифровых СБИС.
РАЗРАБОТКА ПРОГРАММНЫХ КОМПОНЕНТ ФИЗИЧЕСКОГО СИНТЕЗА И ВЕРИФИКАЦИИ СБИС ДЛЯ ЦИФРОВОГО МАРШРУТА ПРОЕКТИРОВАНИЯ Разработка отечественных маршрутов проектирования ведется совместными усилиями ведущих дизайн-центров и исследовательских институтов. В статье обсуждаются особенности разрабатываемых в МГУ имени М.В. Ломоносова инструментов высокоуровневого синтеза, статического анализа, физического проектирования и других программных продуктов для маршрута проектирования цифровых СБИС.
Теги: digital vlsi design flow parasitic element extractor physical synthesis tool universal database инструмент физического синтеза маршрут проектирования цифровых сбис универсальная база данных экстрактор паразитных элементов
N. Malyshev, I. Belyutin, S. Rybkin, A. Borisov
CHIP VERIFICATION. CHALLENGES, SOLUTIONS AND THE CURRENT SITUATION IN THE DIGITAL VLSI CAD VERIFICATION MARKET The Russian company EREMEX is developing tools for simulation and functional verification of digital designs. A number
of the company’s developments are used in the development
of domestic microelectronic hardware design flows.
CHIP VERIFICATION. CHALLENGES, SOLUTIONS AND THE CURRENT SITUATION IN THE DIGITAL VLSI CAD VERIFICATION MARKET The Russian company EREMEX is developing tools for simulation and functional verification of digital designs. A number
of the company’s developments are used in the development
of domestic microelectronic hardware design flows.
Н. Малышев, И. Белютин, С. Рыбкин, А. Борисов
ВЕРИФИКАЦИЯ ЧИПА. ВЫЗОВЫ, РЕШЕНИЯ И ТЕКУЩАЯ СИТУАЦИЯ НА РЫНКЕ САПР ВЕРИФИКАЦИИ ЦИФРОВЫХ СБИС Отечественная компания ЭРЕМЕКС ведет работы по созданию средств моделирования и функциональной верификации цифровых проектов. Ряд разработок компании используется при создании отечественных маршрутов проектирования микроэлектронной аппаратуры.
ВЕРИФИКАЦИЯ ЧИПА. ВЫЗОВЫ, РЕШЕНИЯ И ТЕКУЩАЯ СИТУАЦИЯ НА РЫНКЕ САПР ВЕРИФИКАЦИИ ЦИФРОВЫХ СБИС Отечественная компания ЭРЕМЕКС ведет работы по созданию средств моделирования и функциональной верификации цифровых проектов. Ряд разработок компании используется при создании отечественных маршрутов проектирования микроэлектронной аппаратуры.
Теги: cad chip functional physical verification vlsi верификация сапр сбис физическая функциональная чип
A. Andreev, A. Bardushkin, E. Demidov, V. Kartashev, E. Kozhevnikov, I. Mkrtychan, I. Nazarov, L. Pereverzev, K. Selina, E. Sereda, A. Tretyakov, I. Shulepov, Yu. Yusipova
SOFTWARE TOOLS FOR SIGNAL INTEGRITY ANALYSIS, IR DROP ON POWER RAILS AND ELECTROMIGRATION EFFECT ANALYSIS FOR THE DIGITAL VLSI DESIGN FLOW DOI: 10.22184/1992-4178.2026.258.6.76.83
The article presents software tools for signal integrity analysis (ACH_SI), IR drop on power rails and electromigration effect analysis (ACH_EMIR) for the digital VLSI design flow,
as well as a linear circuit simulator designed for integration with the ACH_SI and ACH_EMIR software tools. These tools were developed by Alfachip LLC.
SOFTWARE TOOLS FOR SIGNAL INTEGRITY ANALYSIS, IR DROP ON POWER RAILS AND ELECTROMIGRATION EFFECT ANALYSIS FOR THE DIGITAL VLSI DESIGN FLOW DOI: 10.22184/1992-4178.2026.258.6.76.83
The article presents software tools for signal integrity analysis (ACH_SI), IR drop on power rails and electromigration effect analysis (ACH_EMIR) for the digital VLSI design flow,
as well as a linear circuit simulator designed for integration with the ACH_SI and ACH_EMIR software tools. These tools were developed by Alfachip LLC.
А. Андреев, А. Бардушкин, Е. Демидов, В. Карташев, Е. Кожевников, И. Мкртычан, И. Назаров, Л. Переверзев, К. Селина, Е. Середа, А. Третьяков, И. Шулепов, Ю. Юсипова
ПРОГРАММНЫЕ ИНСТРУМЕНТЫ АНАЛИЗА ЦЕЛОСТНОСТИ СИГНАЛОВ, ПАДЕНИЯ НАПРЯЖЕНИЯ НА ШИНАХ ПИТАНИЯ И ЭЛЕКТРОМИГРАЦИОННОГО ЭФФЕКТА ДЛЯ МАРШРУТА ПРОЕКТИРОВАНИЯ ЦИФРОВЫХ СБИС DOI: 10.22184/1992-4178.2026.258.6.76.83
В статье представлены программные инструменты анализа целостности сигналов (ACH_SI), падения напряжения на шинах питания и эффекта электромиграции (ACH_EMIR) для маршрута проектирования цифровых СБИС, а также симулятор линейных схем, предназначенный для интеграции с программными инструментами ACH_SI и ACH_EMIR. Инструменты разработаны компанией «Альфачип».
ПРОГРАММНЫЕ ИНСТРУМЕНТЫ АНАЛИЗА ЦЕЛОСТНОСТИ СИГНАЛОВ, ПАДЕНИЯ НАПРЯЖЕНИЯ НА ШИНАХ ПИТАНИЯ И ЭЛЕКТРОМИГРАЦИОННОГО ЭФФЕКТА ДЛЯ МАРШРУТА ПРОЕКТИРОВАНИЯ ЦИФРОВЫХ СБИС DOI: 10.22184/1992-4178.2026.258.6.76.83
В статье представлены программные инструменты анализа целостности сигналов (ACH_SI), падения напряжения на шинах питания и эффекта электромиграции (ACH_EMIR) для маршрута проектирования цифровых СБИС, а также симулятор линейных схем, предназначенный для интеграции с программными инструментами ACH_SI и ACH_EMIR. Инструменты разработаны компанией «Альфачип».
Теги: crosstalk electromigration effect signal integrity analysis spice simulation spice-моделирование анализ целостности сигналов перекрестные помехи эффект электромиграции
A. Zinchenko, A. Kogai, E. Ivanova
DEVELOPMENT OF DOMESTIC CAD SYSTEMS FOR MICROWAVE AND ANALOG ICs: STATUS, ISSUES, PROSPECTS DOI: 10.22184/1992-4178.2026.258.6.84.90
In Russia, within the framework of the state program for the development of electronic engineering until 2030, two projects are being implemented - basic versions of CAD for microwave and analog ICs. The article discusses the results achieved, the lessons learned during the project and current issues in the development of the domestic CAD system.
DEVELOPMENT OF DOMESTIC CAD SYSTEMS FOR MICROWAVE AND ANALOG ICs: STATUS, ISSUES, PROSPECTS DOI: 10.22184/1992-4178.2026.258.6.84.90
In Russia, within the framework of the state program for the development of electronic engineering until 2030, two projects are being implemented - basic versions of CAD for microwave and analog ICs. The article discusses the results achieved, the lessons learned during the project and current issues in the development of the domestic CAD system.
А. Зинченко, А. Когай, Е. Иванова
РАЗРАБОТКА ОТЕЧЕСТВЕННЫХ САПР СВЧ И АНАЛОГОВЫХ ИС: СТАТУС, ПРОБЛЕМЫ, ПЕРСПЕКТИВЫ DOI: 10.22184/1992-4178.2026.258.6.84.90
В России в рамках государственной программы развития электронного машиностроения до 2030 года реализуются две разработки – базовые версии САПР СВЧ и аналоговых ИС.
В статье обсуждаются достигнутые результаты, опыт, полученный в ходе выполнения работ, а также актуальные вопросы развития отечественной школы САПР.
РАЗРАБОТКА ОТЕЧЕСТВЕННЫХ САПР СВЧ И АНАЛОГОВЫХ ИС: СТАТУС, ПРОБЛЕМЫ, ПЕРСПЕКТИВЫ DOI: 10.22184/1992-4178.2026.258.6.84.90
В России в рамках государственной программы развития электронного машиностроения до 2030 года реализуются две разработки – базовые версии САПР СВЧ и аналоговых ИС.
В статье обсуждаются достигнутые результаты, опыт, полученный в ходе выполнения работ, а также актуальные вопросы развития отечественной школы САПР.
Теги: analog ic cad circuit simulation module microwave ic cad parasitic parameter extractor physical verification process design kit комплект средств проектирования модуль схемотехнического моделирования сапр аналоговых ис сапр свч ис физическая верификация экстрактор паразитных параметров
T. Krupkina, A. Krasyukov, V. Losev, Yu. Chaplygin, D. Bulakh, D. Ryzhova, A. Korshunov, A. Pereverzev
DEVELOPMENT OF A DOMESTIC LINE OF SOFTWARE FOR MICROELECTRONIC PRODUCTION A software package for two-dimensional device-technological simulation of silicon CMOS and BCD technologies has been developed. It is intended for use as a tool for developing new
and improving existing technological routes for the creation
of silicon integrated circuits, as well as for developing a new element base for enterprises in the electronics industry.
DEVELOPMENT OF A DOMESTIC LINE OF SOFTWARE FOR MICROELECTRONIC PRODUCTION A software package for two-dimensional device-technological simulation of silicon CMOS and BCD technologies has been developed. It is intended for use as a tool for developing new
and improving existing technological routes for the creation
of silicon integrated circuits, as well as for developing a new element base for enterprises in the electronics industry.
Т. Крупкина, А. Красюков, В. Лосев, Ю. Чаплыгин, Д. Булах, Д. Рыжова, А. Коршунов, А. Переверзев
СОЗДАНИЕ ОТЕЧЕСТВЕННОЙ ЛИНЕЙКИ ПРОГРАММНЫХ СРЕДСТВ ДЛЯ МИКРОЭЛЕКТРОННЫХ ПРОИЗВОДСТВ Разработан программный комплекс двумерного приборно-технологического моделирования кремниевых КМОП-
и BCD-технологий, предназначенный для использования
в качестве инструмента разработки новых и совершенствования существующих технологических маршрутов создания кремниевых интегральных схем, а также разработки новой элементной базы предприятий электронной промышленности.
СОЗДАНИЕ ОТЕЧЕСТВЕННОЙ ЛИНЕЙКИ ПРОГРАММНЫХ СРЕДСТВ ДЛЯ МИКРОЭЛЕКТРОННЫХ ПРОИЗВОДСТВ Разработан программный комплекс двумерного приборно-технологического моделирования кремниевых КМОП-
и BCD-технологий, предназначенный для использования
в качестве инструмента разработки новых и совершенствования существующих технологических маршрутов создания кремниевых интегральных схем, а также разработки новой элементной базы предприятий электронной промышленности.
Теги: cad cmos device-technological simulation photomask design кмоп приборно-технологическое моделирование проектирование фотошаблонов сапр
V. Ukhin, V. Kukharuk, D. Kolomensky, V. Dvornikov
CALCULATING PCB CROSSTALK IN THE TIME DOMAIN USING SimPCB Lite Calculating and monitoring crosstalk is one of the challenges
of ensuring signal integrity on a printed circuit board (PCB).
The article discusses a method for calculating crosstalk
in the time domain using S-parameters, implemented
in the SimPCB Lite CAD system.
CALCULATING PCB CROSSTALK IN THE TIME DOMAIN USING SimPCB Lite Calculating and monitoring crosstalk is one of the challenges
of ensuring signal integrity on a printed circuit board (PCB).
The article discusses a method for calculating crosstalk
in the time domain using S-parameters, implemented
in the SimPCB Lite CAD system.
В. Ухин, В. Кухарук, Д. Коломенский, В. Дворников
РАСЧЕТ ПЕРЕКРЕСТНЫХ ПОМЕХ НА ПЕЧАТНОЙ ПЛАТЕ ВО ВРЕМЕННОЙ ОБЛАСТИ В ПРОГРАММЕ SimPCB Lite Расчет и контроль перекрестных помех – одна из задач обеспечения целостности сигналов на печатной плате.
В статье рассмотрен способ вычисления перекрестных помех
во временной области через S-параметры, который реализован
в САПР SimPCB Lite.
РАСЧЕТ ПЕРЕКРЕСТНЫХ ПОМЕХ НА ПЕЧАТНОЙ ПЛАТЕ ВО ВРЕМЕННОЙ ОБЛАСТИ В ПРОГРАММЕ SimPCB Lite Расчет и контроль перекрестных помех – одна из задач обеспечения целостности сигналов на печатной плате.
В статье рассмотрен способ вычисления перекрестных помех
во временной области через S-параметры, который реализован
в САПР SimPCB Lite.
Теги: aggressor line crosstalk signal integrity analysis s-parameters s-параметры time domain analysis анализ целостности сигналов временной анализ линия-агрессор перекрестные помехи
Data Collection, Processing and Communication Systems
Системы сбора, обработки и обмена данными
O. Spiridonov, L. Mileshko, S. Yurchenko
NEURAL NETWORK-BASED METHODOLOGY FOR DESIGNING HARDWARE AND SOFTWARE SYSTEMS AND RADIO CHANNELS FOR REMOTE ENVIRONMENTAL MONITORING DOI: 10.22184/1992-4178.2026.258.6.160.163
The article presents an overview of modern neural network-based approaches to designing hardware and software systems and radio channels. Methods for training neural networks
used to process multidimensional data sets in environmental monitoring tasks are analyzed.
NEURAL NETWORK-BASED METHODOLOGY FOR DESIGNING HARDWARE AND SOFTWARE SYSTEMS AND RADIO CHANNELS FOR REMOTE ENVIRONMENTAL MONITORING DOI: 10.22184/1992-4178.2026.258.6.160.163
The article presents an overview of modern neural network-based approaches to designing hardware and software systems and radio channels. Methods for training neural networks
used to process multidimensional data sets in environmental monitoring tasks are analyzed.
О. Спиридонов, Л. Милешко, С. Юрченко
МЕТОДОЛОГИЯ ПРОЕКТИРОВАНИЯ АППАРАТНО-ПРОГРАММНЫХ КОМПЛЕКСОВ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ НЕЙРОННЫХ СЕТЕЙ И РАДИОКАНАЛОВ ДЛЯ ДИСТАНЦИОННОГО ЭКОЛОГИЧЕСКОГО МОНИТОРИНГА DOI: 10.22184/1992-4178.2026.258.6.160.163
В статье представлен обзор современных подходов к проектированию аппаратно-программных комплексов и радиоканалов с использованием нейронных сетей. Проанализированы методы обучения нейронных сетей, применяемых для обработки многомерных массивов данных в задачах экологического мониторинга.
МЕТОДОЛОГИЯ ПРОЕКТИРОВАНИЯ АППАРАТНО-ПРОГРАММНЫХ КОМПЛЕКСОВ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ НЕЙРОННЫХ СЕТЕЙ И РАДИОКАНАЛОВ ДЛЯ ДИСТАНЦИОННОГО ЭКОЛОГИЧЕСКОГО МОНИТОРИНГА DOI: 10.22184/1992-4178.2026.258.6.160.163
В статье представлен обзор современных подходов к проектированию аппаратно-программных комплексов и радиоканалов с использованием нейронных сетей. Проанализированы методы обучения нейронных сетей, применяемых для обработки многомерных массивов данных в задачах экологического мониторинга.
Теги: cad environmental monitoring genetic algorithms hardware and software systems neural networks аппаратно-программные комплексы генетические алгоритмы нейронные сети сапр экологический мониторинг
Test & Measurements
Контроль и измерения
O. Chuprinova
DETECTING HEATING ANOMALIES IN PRINTED CIRCUIT ASSEMBLY COMPONENTS The article presents a model for active thermal monitoring of printed circuit assembly components based on the identification
of the parameters of a lumped-element RC thermal model.
A method for estimating the parameters using a heating curve under stepped thermal power application is proposed.
DETECTING HEATING ANOMALIES IN PRINTED CIRCUIT ASSEMBLY COMPONENTS The article presents a model for active thermal monitoring of printed circuit assembly components based on the identification
of the parameters of a lumped-element RC thermal model.
A method for estimating the parameters using a heating curve under stepped thermal power application is proposed.
О. Чупринова
ВЫЯВЛЕНИЕ АНОМАЛИЙ НАГРЕВА КОМПОНЕНТОВ ПЕЧАТНОГО УЗЛА Представлена модель активного теплового контроля компонентов печатных узлов, основанная на идентификации параметров тепловой RC-модели сосредоточенных элементов. Предложен метод оценки параметров по кривой нагрева при ступенчатом воздействии тепловой мощности.
ВЫЯВЛЕНИЕ АНОМАЛИЙ НАГРЕВА КОМПОНЕНТОВ ПЕЧАТНОГО УЗЛА Представлена модель активного теплового контроля компонентов печатных узлов, основанная на идентификации параметров тепловой RC-модели сосредоточенных элементов. Предложен метод оценки параметров по кривой нагрева при ступенчатом воздействии тепловой мощности.
Теги: electronic equipment printed circuit assemblies thermographic diagnostics печатные узлы рэа термографическая диагностика
E. Morozov, I. Glotov
PHASE-COHERENT SYSTEM FOR TESTING APAAs BASED ON A RADIO CHANNEL EMULATOR DOI: 10.22184/1992-4178.2026.258.6.110.116
The article discusses a method for developing a phase-coherent system based on a radio channel emulator, which is used for testing active phased arrays (APAAs), MIMO systems, spatially diverse receiving paths and phase direction finders during the development and acceptance testing stages.
PHASE-COHERENT SYSTEM FOR TESTING APAAs BASED ON A RADIO CHANNEL EMULATOR DOI: 10.22184/1992-4178.2026.258.6.110.116
The article discusses a method for developing a phase-coherent system based on a radio channel emulator, which is used for testing active phased arrays (APAAs), MIMO systems, spatially diverse receiving paths and phase direction finders during the development and acceptance testing stages.
Е. Морозов, И. Глотов
ФАЗОКОГЕРЕНТНАЯ СИСТЕМА ДЛЯ ТЕСТИРОВАНИЯ АФАР НА ОСНОВЕ ЭМУЛЯТОРА РАДИОКАНАЛА DOI: 10.22184/1992-4178.2026.258.6.110.116
Рассматривается способ формирования фазокогерентной системы на основе эмулятора радиоканала, который применяется для тестирования АФАР, систем MIMO, пространственно-разнесенных приемных трактов и фазовых пеленгаторов на этапах разработки и приемо-сдаточных испытаний.
ФАЗОКОГЕРЕНТНАЯ СИСТЕМА ДЛЯ ТЕСТИРОВАНИЯ АФАР НА ОСНОВЕ ЭМУЛЯТОРА РАДИОКАНАЛА DOI: 10.22184/1992-4178.2026.258.6.110.116
Рассматривается способ формирования фазокогерентной системы на основе эмулятора радиоканала, который применяется для тестирования АФАР, систем MIMO, пространственно-разнесенных приемных трактов и фазовых пеленгаторов на этапах разработки и приемо-сдаточных испытаний.
Теги: active phased arrays (apaas) frequency synchronization phase-coherent system radio channel emulator афар фазокогерентная система частотная синхронизация эмулятор радиоканала
Microwave electronics
СВЧ-электроника
V. Shalomanov
IMPORT SUBSTITUTION OF MICROWAVE COMPONENTS: PROVEN DOMESTIC EQUIVALENTS OF FOREIGN COMPONENTS FROM RADIANT-EK JSC DOI: 10.22184/1992-4178.2026.258.6.118.124
The introduction of domestic microwave components is currently considered as a strategic direction for developers of RF electronic equipment. The article describes the characteristics and advantages of domestically produced high-frequency connectors, active and passive microwave devices manufactured by Radiant-EK JSC which are fully compatible with their foreign counterparts.
IMPORT SUBSTITUTION OF MICROWAVE COMPONENTS: PROVEN DOMESTIC EQUIVALENTS OF FOREIGN COMPONENTS FROM RADIANT-EK JSC DOI: 10.22184/1992-4178.2026.258.6.118.124
The introduction of domestic microwave components is currently considered as a strategic direction for developers of RF electronic equipment. The article describes the characteristics and advantages of domestically produced high-frequency connectors, active and passive microwave devices manufactured by Radiant-EK JSC which are fully compatible with their foreign counterparts.
В. Шаломанов
ИМПОРТОЗАМЕЩЕНИЕ СВЧ КОМПОНЕНТНОЙ БАЗЫ: ПРОВЕРЕННЫЕ ОТЕЧЕСТВЕННЫЕ АНАЛОГИ ЗАРУБЕЖНЫХ КОМПОНЕНТОВ ОТ АО «РАДИАНТ-ЭК» DOI: 10.22184/1992-4178.2026.258.6.118.124
Внедрение отечественных СВЧ-компонентов сегодня рассматривается как стратегическое направление для разработчиков высокочастотного радиоэлектронного оборудования.
В статье описаны характеристики и преимущества полностью совместимых с зарубежными аналогами отечественных высокочастотных соединителей, активных и пассивных СВЧ-устройств производства АО «Радиант-ЭК».
ИМПОРТОЗАМЕЩЕНИЕ СВЧ КОМПОНЕНТНОЙ БАЗЫ: ПРОВЕРЕННЫЕ ОТЕЧЕСТВЕННЫЕ АНАЛОГИ ЗАРУБЕЖНЫХ КОМПОНЕНТОВ ОТ АО «РАДИАНТ-ЭК» DOI: 10.22184/1992-4178.2026.258.6.118.124
Внедрение отечественных СВЧ-компонентов сегодня рассматривается как стратегическое направление для разработчиков высокочастотного радиоэлектронного оборудования.
В статье описаны характеристики и преимущества полностью совместимых с зарубежными аналогами отечественных высокочастотных соединителей, активных и пассивных СВЧ-устройств производства АО «Радиант-ЭК».
Теги: frequency multiplier low-noise amplifier microwave bandpass filter microwave power amplifier rf coaxial connectors : вч коаксиальные соединители малошумящий усилитель полосовой свч-фильтр свч усилитель мощности умножитель частоты
V. Kochemasov, T. Kosichkina
GaN TRANSISTORS. PART 3 DOI: 10.22184/1992-4178.2026.258.6.126.135
The article considers the characteristics and features of high electron mobility transistors based on gallium nitride. Information on transistors from domestic and foreign manufacturers designed for use in microwave power amplifiers is provided.
GaN TRANSISTORS. PART 3 DOI: 10.22184/1992-4178.2026.258.6.126.135
The article considers the characteristics and features of high electron mobility transistors based on gallium nitride. Information on transistors from domestic and foreign manufacturers designed for use in microwave power amplifiers is provided.
В. Кочемасов, Т. Косичкина
ТРАНЗИСТОРЫ НА ОСНОВЕ GaN-ТЕХНОЛОГИИ. ЧАСТЬ 3 DOI: 10.22184/1992-4178.2026.258.6.126.135
Рассматриваются характеристики и особенности транзисторов с высокой подвижностью электронов на основе нитрида галлия. Приводятся сведения о транзисторах отечественных и зарубежных производителей, предназначенных для применения в усилителях мощности СВЧ-диапазона.
ТРАНЗИСТОРЫ НА ОСНОВЕ GaN-ТЕХНОЛОГИИ. ЧАСТЬ 3 DOI: 10.22184/1992-4178.2026.258.6.126.135
Рассматриваются характеристики и особенности транзисторов с высокой подвижностью электронов на основе нитрида галлия. Приводятся сведения о транзисторах отечественных и зарубежных производителей, предназначенных для применения в усилителях мощности СВЧ-диапазона.
Теги: gallium nitride high electron mobility transistors microwave devices power amplifiers wide band gap нитрид галлия свч-устройства транзисторы с высокой подвижностью электронов усилители мощности широкая запрещенная зона
Reliability and tests
Надежность и испытания
A. Trushina
WHY IS THE CLASSICAL ION CHROMATOGRAPHY METHOD FAILING TO MEET THE NEW DEMANDS OF THE MICROELECTRONICS INDUSTRY? DOI: 10.22184/1992-4178.2026.258.6.152.158
The article discusses a microchip ion chromatography method for monitoring the purity of process materials in the microelectronics industry. It reduces the risk of false contamination due to sample contact with other environments and enables more productive
and cost-effective contaminant monitoring directly
at the production line. The main applications and development prospects of this method are reviewed.
WHY IS THE CLASSICAL ION CHROMATOGRAPHY METHOD FAILING TO MEET THE NEW DEMANDS OF THE MICROELECTRONICS INDUSTRY? DOI: 10.22184/1992-4178.2026.258.6.152.158
The article discusses a microchip ion chromatography method for monitoring the purity of process materials in the microelectronics industry. It reduces the risk of false contamination due to sample contact with other environments and enables more productive
and cost-effective contaminant monitoring directly
at the production line. The main applications and development prospects of this method are reviewed.
А. Трушина
ПОЧЕМУ КЛАССИЧЕСКИЙ МЕТОД ИОННОЙ ХРОМАТОГРАФИИ НЕ СПРАВЛЯЕТСЯ С НОВЫМИ ТРЕБОВАНИЯМИ В МИКРОЭЛЕКТРОННОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ? DOI: 10.22184/1992-4178.2026.258.6.152.158
В статье обсуждается метод микрочиповой ионной хроматографии для контроля чистоты технологических материалов в микроэлектронной промышленности, который снижает риск ложных загрязнений из-за контакта пробы с другими средами и обеспечивает более производительный и экономичный мониторинг загрязнений непосредственно в технологической линии. Рассмотрены основные сферы применения и перспективы развития этого метода.
ПОЧЕМУ КЛАССИЧЕСКИЙ МЕТОД ИОННОЙ ХРОМАТОГРАФИИ НЕ СПРАВЛЯЕТСЯ С НОВЫМИ ТРЕБОВАНИЯМИ В МИКРОЭЛЕКТРОННОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ? DOI: 10.22184/1992-4178.2026.258.6.152.158
В статье обсуждается метод микрочиповой ионной хроматографии для контроля чистоты технологических материалов в микроэлектронной промышленности, который снижает риск ложных загрязнений из-за контакта пробы с другими средами и обеспечивает более производительный и экономичный мониторинг загрязнений непосредственно в технологической линии. Рассмотрены основные сферы применения и перспективы развития этого метода.
Теги: cleanroom atmosphere monitoring microchip ion chromatography process material purity ultra-pure water monitoring контроль ультрачистой воды микрочиповая ионная хроматография мониторинг атмосферы чистых комнат чистота технологических материалов
Training & Education
Подготовка кадров
M. Smirnova, I. Arapova
SOCIAL ASPECTS OF DEVELOPING AN ENGINEERING CULTURE: THE CASE OF NIIME JSC NIIME has developed and structured a methodology for developing an engineering culture, including practice-oriented learning,
a motivational and value-based system for youth adaptation,
the use of AI in education, a system of continuous education
and engineering creativity.
SOCIAL ASPECTS OF DEVELOPING AN ENGINEERING CULTURE: THE CASE OF NIIME JSC NIIME has developed and structured a methodology for developing an engineering culture, including practice-oriented learning,
a motivational and value-based system for youth adaptation,
the use of AI in education, a system of continuous education
and engineering creativity.
М. Смирнова, И. Арапова
СОЦИАЛЬНЫЕ АСПЕКТЫ ФОРМИРОВАНИЯ ИНЖЕНЕРНОЙ КУЛЬТУРЫ НА ПРИМЕРЕ АО «НИИМЭ» В НИИМЭ разработана и структурирована методология формирования инженерной культуры, включающая практико-ориентированное обучение, мотивационно-ценностную систему адаптации молодежи, применение ИИ в обучении, систему непрерывного образования и инженерного творчества.
СОЦИАЛЬНЫЕ АСПЕКТЫ ФОРМИРОВАНИЯ ИНЖЕНЕРНОЙ КУЛЬТУРЫ НА ПРИМЕРЕ АО «НИИМЭ» В НИИМЭ разработана и структурирована методология формирования инженерной культуры, включающая практико-ориентированное обучение, мотивационно-ценностную систему адаптации молодежи, применение ИИ в обучении, систему непрерывного образования и инженерного творчества.
Теги: ai continuous education system engineering culture mentoring practice-oriented learning ии инженерная культура наставничество практико-ориентированное обучение система непрерывного образования
for Engineers
Инженеру
Production technologies
Производственные технологии
S. Vorobyov
WHAT IS THE OPTIMAL FREQUENCY FOR ULTRASONIC MICROWELDING OF WIRE JOINTS? DOI: 10.22184/1992-4178.2026.258.6.142.146
The article analyzes the characteristics and limitations of various ultrasonic microwelding frequency modes. Higher frequencies allow for high-quality joints with less wire deformation. On the other hand, lower frequencies are preferable for rough surfaces: due to the greater oscillation amplitude, the tool more effectively smooths out microscopic irregularities.
WHAT IS THE OPTIMAL FREQUENCY FOR ULTRASONIC MICROWELDING OF WIRE JOINTS? DOI: 10.22184/1992-4178.2026.258.6.142.146
The article analyzes the characteristics and limitations of various ultrasonic microwelding frequency modes. Higher frequencies allow for high-quality joints with less wire deformation. On the other hand, lower frequencies are preferable for rough surfaces: due to the greater oscillation amplitude, the tool more effectively smooths out microscopic irregularities.
С. Воробьев
КАКАЯ ЧАСТОТА ОПТИМАЛЬНА ДЛЯ УЛЬТРАЗВУКОВОЙ МИКРОСВАРКИ ПРОВОЛОЧНЫХ СОЕДИНЕНИЙ? DOI: 10.22184/1992-4178.2026.258.6.142.146
В статье анализируются особенности и ограничения различных частотных режимов ультразвуковой микросварки. Так, повышенные частоты позволяют достичь высокого качества соединения при меньшей деформации проволоки. С другой стороны, для шероховатых поверхностей предпочтительны более низкие частоты: за счет большей амплитуды колебаний инструмент эффективнее сглаживает микронеровности.
КАКАЯ ЧАСТОТА ОПТИМАЛЬНА ДЛЯ УЛЬТРАЗВУКОВОЙ МИКРОСВАРКИ ПРОВОЛОЧНЫХ СОЕДИНЕНИЙ? DOI: 10.22184/1992-4178.2026.258.6.142.146
В статье анализируются особенности и ограничения различных частотных режимов ультразвуковой микросварки. Так, повышенные частоты позволяют достичь высокого качества соединения при меньшей деформации проволоки. С другой стороны, для шероховатых поверхностей предпочтительны более низкие частоты: за счет большей амплитуды колебаний инструмент эффективнее сглаживает микронеровности.
Теги: contact pad deformation ultrasonic microwelding ultrasonic transducer деформация контактная площадка ультразвуковая микросварка ультразвуковой преобразователь
R. Shakhmaeva, G. Irzaev
TECHNOLOGY OF GOLD IMPURITY DIFFUSION INTO THE ACTIVE REGION OF A POWER TRANSISTOR CRYSTAL STRUCTURE DOI: 10.22184/1992-4178.2026.258.6.148.151
The article considers the mechanism for reducing the carrier lifetime in a silicon transistor crystal by diffusing gold into the collector region. A technology for diffusion doping of silicon with gold is proposed to increase the carrier capture cross-section and reduce their lifetime, thereby improving the performance
of a high-power transistor.
TECHNOLOGY OF GOLD IMPURITY DIFFUSION INTO THE ACTIVE REGION OF A POWER TRANSISTOR CRYSTAL STRUCTURE DOI: 10.22184/1992-4178.2026.258.6.148.151
The article considers the mechanism for reducing the carrier lifetime in a silicon transistor crystal by diffusing gold into the collector region. A technology for diffusion doping of silicon with gold is proposed to increase the carrier capture cross-section and reduce their lifetime, thereby improving the performance
of a high-power transistor.
Р. Шахмаева, Г. Ирзаев
ТЕХНОЛОГИЯ ДИФФУЗИИ ПРИМЕСИ ЗОЛОТА В РАБОЧУЮ ОБЛАСТЬ СТРУКТУРЫ КРИСТАЛЛА МОЩНОГО ТРАНЗИСТОРА DOI: 10.22184/1992-4178.2026.258.6.148.151
Рассмотрен механизм уменьшения времени жизни носителей
заряда в кремниевом кристалле транзисторной структуры за счет диффузии золота в область коллектора. Предложена реализация технологии диффузионного легирования кремния золотом для увеличения сечения захвата носителей и сокращения времени
их жизни, что повышает быстродействие мощного транзистора.
ТЕХНОЛОГИЯ ДИФФУЗИИ ПРИМЕСИ ЗОЛОТА В РАБОЧУЮ ОБЛАСТЬ СТРУКТУРЫ КРИСТАЛЛА МОЩНОГО ТРАНЗИСТОРА DOI: 10.22184/1992-4178.2026.258.6.148.151
Рассмотрен механизм уменьшения времени жизни носителей
заряда в кремниевом кристалле транзисторной структуры за счет диффузии золота в область коллектора. Предложена реализация технологии диффузионного легирования кремния золотом для увеличения сечения захвата носителей и сокращения времени
их жизни, что повышает быстродействие мощного транзистора.