Электроника НТБ - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2026
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1992-4178(print)
ISSN 1992-4186(online)

Книги по электронике

Тег "эффект электромиграции"

Электроника НТБ #6/2026
А. Андреев, А. Бардушкин, Е. Демидов, В. Карташев, Е. Кожевников, И. Мкртычан, И. Назаров, Л. Переверзев, К. Селина, Е. Середа, А. Третьяков, И. Шулепов, Ю. Юсипова
ПРОГРАММНЫЕ ИНСТРУМЕНТЫ АНАЛИЗА ЦЕЛОСТНОСТИ СИГНАЛОВ, ПАДЕНИЯ НАПРЯЖЕНИЯ НА ШИНАХ ПИТАНИЯ И ЭЛЕКТРОМИГРАЦИОННОГО ЭФФЕКТА ДЛЯ МАРШРУТА ПРОЕКТИРОВАНИЯ ЦИФРОВЫХ СБИС

DOI: 10.22184/1992-4178.2026.258.6.76.83 В статье представлены программные инструменты анализа целостности сигналов (ACH_SI), падения напряжения на шинах питания и эффекта электромиграции (ACH_EMIR) для маршрута проектирования цифровых СБИС, а также симулятор линейных схем, предназначенный для интеграции с программными инструментами ACH_SI и ACH_EMIR. Инструменты разработаны компанией «Альфачип».