Электроника НТБ - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2026
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1992-4178(print)
ISSN 1992-4186(online)

Книги по электронике

Тег "анализ целостности сигналов"

Электроника НТБ #6/2026
В. Ухин, В. Кухарук, Д. Коломенский, В. Дворников
РАСЧЕТ ПЕРЕКРЕСТНЫХ ПОМЕХ НА ПЕЧАТНОЙ ПЛАТЕ ВО ВРЕМЕННОЙ ОБЛАСТИ В ПРОГРАММЕ SimPCB Lite

DOI: 10.22184/1992-4178.2026.258.6.98.102 Расчет и контроль перекрестных помех – одна из задач обеспечения целостности сигналов на печатной плате. В статье рассмотрен способ вычисления перекрестных помех во временной области через S-параметры, который реализован в САПР SimPCB Lite.

Электроника НТБ #6/2026
А. Андреев, А. Бардушкин, Е. Демидов, В. Карташев, Е. Кожевников, И. Мкртычан, И. Назаров, Л. Переверзев, К. Селина, Е. Середа, А. Третьяков, И. Шулепов, Ю. Юсипова
ПРОГРАММНЫЕ ИНСТРУМЕНТЫ АНАЛИЗА ЦЕЛОСТНОСТИ СИГНАЛОВ, ПАДЕНИЯ НАПРЯЖЕНИЯ НА ШИНАХ ПИТАНИЯ И ЭЛЕКТРОМИГРАЦИОННОГО ЭФФЕКТА ДЛЯ МАРШРУТА ПРОЕКТИРОВАНИЯ ЦИФРОВЫХ СБИС

DOI: 10.22184/1992-4178.2026.258.6.76.83 В статье представлены программные инструменты анализа целостности сигналов (ACH_SI), падения напряжения на шинах питания и эффекта электромиграции (ACH_EMIR) для маршрута проектирования цифровых СБИС, а также симулятор линейных схем, предназначенный для интеграции с программными инструментами ACH_SI и ACH_EMIR. Инструменты разработаны компанией «Альфачип».

Электроника НТБ #6/2025
А. Стемпковский, Е. Кожевников, Е. Демидов, Р. Соловьев, Д. Тельпухов, Л. Переверзев, В. Карташев, В. Дождёв, И. Назаров, А. Третьяков
СПЕЦИАЛЬНЫЕ ВИДЫ АНАЛИЗА ДЛЯ СОВРЕМЕННЫХ ИС: ВЫЗОВЫ НАНОМЕТРОВЫХ ТЕХНОЛОГИЙ И ПРИМЕНЕНИЕ МЕТОДОВ ИСКУССТВЕННОГО ИНТЕЛЛЕКТА

DOI: 10.22184/1992-4178.2025.247.6.76.82 В статье представлен обзор специальных видов анализа для современных ИС, которые учитывают такие эффекты, как падение напряжения в шинах питания, электромиграция и нарушение целостности сигналов. Рассмотрены методы реализации специальных видов анализа в инструментах проектирования, в том числе с применением машинного обучения.

Электроника НТБ #3/2022
А. Евграфов
ВСЕСТОРОННИЙ АНАЛИЗ ТОПОЛОГИИ ПЕЧАТНОЙ ПЛАТЫ В Altair PollEx ДЛЯ ALTIUM DESIGNER. Часть 1. Проверка топологии перед производством

DOI: 10.22184/1992-4178.2022.214.3.96.102 В статье рассмотрены возможности Altair PollEx – программного решения компании Altair Engineering, предназначенного для анализа и верификации печатных плат на любой стадии проектирования.