sitemap
Наш сайт использует cookies. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей
Политикой Конфиденциальности
Согласен
главная
eng
Поиск:
на сайте журнала
на всех сайтах РИЦ
Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта
R&W
ISSN 1992-4178(print)
ISSN 1992-4186(online)
Книги по электронике
Статьи
Электроника НТБ #8/2025
Колонка Департамента радиоэлектронной промышленности
Электроника НТБ #6/2025
КОЛОНКА ДЕПАРТАМЕНТА РАДИОЭЛЕКТРОННОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ
Репортажи
//
все
Электроника НТБ #3/2025
ВИЗИТ НА ПР-ВО АО «КРАСНОЗНАМЕНСКИЙ ЗАВОД ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ «АРСЕНАЛ»
Электроника НТБ #10/2024
ЛОКАЛИЗАЦИЯ ПРОИЗВОДСТВА ОБОРУДОВАНИЯ. ВИЗИТ НА ПРОИЗВОДСТВО ООО «ПРОТЕХ»
Новости
//
все новости
31.10.2025
Опубликована деловая программа выставки-форума «Электроника России» 2025
28.10.2025
Международная выставка «Интерполитех» стартовала в Москве
События
//
все события
до 31.10.2025
Международный форум-выставка «Российский промышленник - 2025». г.Санкт- Петербург
c 25.11.2025 до 27.11.2025
4-я Международная выставка-форум «Электроника России». г. Москва, МВЦ «Крокус Экспо»
Вход:
Ваш e-mail:
Пароль:
- запомнить меня
Регистрация
Забыли пароль?
Архив журнала:
2025
2024
2023
2022
2021
2020
2019
2018
2017
2016
2015
2014
2013
2012
2011
2010
2009
2008
2007
2006
2005
2004
2003
2002
2001
2000
1999
1998
1997
1996
Медиаданные:
О журнале
Учредитель
Издатель
Редакционный совет
Распространение_
Редакционная политика:
Редакционная политика РИЦ «ТЕХНОСФЕРА»
Реклама:
Отдел рекламы
В журнале
На сайте
Авторам:
Соискателям учёной степени
Требования к статьям
Контакты:
Распространение
Адрес
Редакция
Журналы:
Электроника НТБ
Наноиндустрия
Первая миля
Фотоника
Аналитика
Станкоинструмент
Книги по электронике
читать книгу
Рэндл У. Биард, Тимоти У. МакЛэйн
Малые беспилотные летательные аппараты. Теория и практика /При поддержке ОАО «НПП «Радар ммс» перевод с англ. под ред. к.т.н. Г.В. Анцева
читать книгу
Белоус А.И., Солодуха В.А., Шведов С.В.
Космическая электроника. В 2-х книгах. Книга 2
читать книгу
Шпак В.В.
Развитие электронной промышленности России в условиях меняющегося мира, 2-е исправленное издание
Другие серии книг:
Мир электроники
Мир радиоэлектроники
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир химии
Мир наук о Земле
Мир материалов и технологий
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Библиотечка «КВАНТ»
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир фотоники
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Тег "точность"
Печатный монтаж #5/2016
Р.Елфимов
Новый импульс в технологии струйного дозирования
Компания Nordson EFD представляет инновационную технологию нанесения жидкостей: бесконтактный пьезоэлектрический струйный клапан PICO Pμlse в сочетании с контроллером PICO Toμch устраняет барьер между скоростью и точностью и обеспечивает беспрецедентные возможности по управлению технологическим процессом.
Станкоинструмент #2/2016
Ю. Савинов
Управление жизненным циклом станков на предприятиях РОСКОСМОСА
В статье рассмотрены вопросы перспективного технического обслуживания станков на основе методов безразборной вибрационной диагностики. Показано, что реальный объем ремонтных работ составил не более 20% от устанавливаемых по системе планово-предупредительного ремонта.
Станкоинструмент #1/2015
М.КИСЕЛЕВ, А.КОМШИН, А.СЫРИЦКИЙ
Внедрение измерительно-вычислительных комплексов сопровождения жизненного цикла металлообрабатывающего оборудования и инструмента на основе фазохронометрического метода
В статье рассматриваются проблемы обеспечения жизненного цикла объектов отечественного машиностроения. Проведен анализ некоторых актуальных направлений развития в соответствии с государственными программами развития. На примере внедрения измерительновычислительных технологий на базе фазохронометрического метода показаны возможности решения задач мониторинга, оценки технического состояния оборудования и инструмента, деградационных процессов в конструкционных материалах, определения раннего зарождения дефектов. Приведены экономические расчеты внедрения подобной технологии в станкостроении.
Аналитика #4/2015
В.Цупрева
НОВЫЙ СПЕКТРОФЛУОРИМЕТР SHIMADZU: СОЧЕТАНИЕ ВЫСОКОЙ ТОЧНОСТИ И УДОБСТВА В ЭКСПЛУАТАЦИИ
Люминесцентный анализ – это универсальный инструмент для изучения возбужденных состояний молекул, фотохимических реакций, динамики быстрых молекулярных процессов, структуры и свойств сложных химических и биологических объектов. Высокая чувствительность и точность этого вида анализа позволяют использовать его как уникальный метод определения природы и состава веществ в условиях даже очень низких концентраций. Наиболее изученный сегодня вид люминесценции – фотолюминесценция, включающая в себя такие явления, как флуоресценция и фосфоресценция. Фотолюминесцентные методы анализа достаточно просты и позволяют экспрессно получать результаты при минимальной пробоподготовке. Благодаря этим особенностям данная техника анализа все более широко применяется в химии и биологии, медицине и фармацевтике, пищевой промышленности и экологии, электронике и различных областях техники.
Электроника НТБ #2/2013
И.Бармашов
Плазмохимическое травление в технологии изготовления МЭМС-датчиков
Благодаря разнообразной конструкции и назначению МЭМС стремительно входят в нашу повседневную жизнь. Можно сказать, что MEMС – это множество микроустройств самой разной конструкции и назначения, в производстве которых используются модифицированные технологические приемы микроэлектроники.
Электроника НТБ #3/2011
Г.Трапашко
Контроль микроразмеров при производстве ИС. Задачи и особенности
Фотолитография – ключевой технологический процесс в производстве полупроводниковых приборов и микросхем. Суть процесса заключается в переносе оригинала топологии интегральной схемы на поверхность полупроводниковой пластины. Характеристики микросхем зависят от точности изготовления их минимальных элементов. Задача фотолитографии – обеспечить качественное формирование этих элементов на всем поле кремниевой пластины с соблюдением допускаемых отклонений размеров элементов и их расположения относительно нижележащих структур, сформированных в предыдущем цикле.
←
1
2
Разработка: студия
Green Art