Вторая часть статьи посвящена оценке быстродействия цифровых блоков, разрабатываемых по нанометровым проектным нормам, а также особенностям топологического проектирования при использовании таких норм. Рассматриваются методологии проектирования с учетом производственного процесса (DFM) и для увеличения выхода годных (DFY).

sitemap

Разработка: студия Green Art