sitemap
Наш сайт использует cookies и Яндекс Метрику. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей
Политикой Конфиденциальности
Согласен
главная
eng
Поиск:
на сайте журнала
на всех сайтах РИЦ
Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
© 2001-2026
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта
R&W
ISSN 1992-4178(print)
ISSN 1992-4186(online)
Книги по электронике
Статьи
Электроника НТБ #3/2026
КОЛОНКА ДЕПАРТАМЕНТА РАДИОЭЛЕКТРОННОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ
Электроника НТБ #2/2026
30 ЛЕТ ЭЛЕКТРОНИКИ ЮБИЛЕЙ ЖУРНАЛА «ЭЛЕКТРОНИКА: НАУКА, ТЕХНОЛОГИЯ, БИЗНЕС»
Репортажи
//
все
Электроника НТБ #5/2026
ВИЗИТ НА ПРОИЗВОДСТВО АО «ХАКЕЛЬ» (БРЕНД «КЛЮЧЕВОЙ КОМПОНЕНТ»)
Электроника НТБ #4/2026
БЕРЕЖЛИВОЕ ПРОИЗВОДСТВО И АВТОМАТИЗАЦИЯ В ПРИБОРОСТРОЕНИИ НА ПРАКТИКЕ. ВИЗИТ НА ПРОИЗВОДСТВО ООО «ПРОМЭНЕРГО»
Новости
//
все новости
08.06.2026
В Москве состоялась II Всероссийская конференция по проектированию и производству печатных плат: более 500 участников обсудили технологический суверенитет
05.06.2026
В Москве стартовала II Всероссийская конференция по проектированию и производству печатных плат: более 500 участников обсуждают технологический суверенитет
События
//
все события
до 21.10.2026
26-я Международная выставка оборудования для неразрушающего контроля NDT Russia 2026. г. Москва
c 08.09.2026 до 10.09.2026
III Международный технологический конгресс и выставка ТЕХНОЛОГИИ. Московская область, Патриот Экспо
Вход:
Ваш e-mail:
Пароль:
- запомнить меня
Регистрация
Забыли пароль?
Архив журнала:
2026
2025
2024
2023
2022
2021
2020
2019
2018
2017
2016
2015
2014
2013
2012
2011
2010
2009
2008
2007
2006
2005
2004
2003
2002
2001
2000
1999
1998
1997
1996
Медиаданные:
О журнале
Учредитель
Издатель
Редакционный совет
Распространение_
Редакционная политика:
Редакционная политика РИЦ «ТЕХНОСФЕРА»
Реклама:
Отдел рекламы
В журнале
На сайте
Авторам:
Соискателям учёной степени
Требования к статьям
Контакты:
Распространение
Адрес
Редакция
Журналы:
Электроника НТБ
Наноиндустрия
Первая миля
Фотоника
Аналитика
Станкоинструмент
Книги по электронике
читать книгу
Под общ. ред. Малашевича Б.М.
СОЗИДАТЕЛИ ОТЕЧЕСТВЕННОЙ ЭЛЕКТРОНИКИ.Выпуск 4. Валентин Михайлович Пролейко /При поддержке Департамента радиоэлектронной промышленности Минпромторга РФ
читать книгу
под ред. К. Кумбза
Печатные платы. Cправочник в 2 книгах
читать книгу
Воронович В.В., Галах В.П., Кузьмин В.А., Потапов А.Ю. / Под редакцией В.В. Вороновича
Усилители мощности класса F и инверсного класса F
Другие серии книг:
Мир электроники
Мир радиоэлектроники
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир химии
Мир наук о Земле
Мир материалов и технологий
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Библиотечка «КВАНТ»
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир фотоники
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Тег "microscopy"
Электроника НТБ #3/2026
В. Плебанович, А. Сучков, В. Гришкевич, В. Светенкова
ПРИМЕНЕНИЕ МИКРОСКОПИИ ФОТОННОЙ ЭМИССИИ ДЛЯ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА И АНАЛИЗА ОТКАЗОВ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ
DOI: 10.22184/1992-4178.2026.255.3.184.188 Представлен обзор физических механизмов генерации фотонов в полупроводниковых структурах, описаны основные режимы работы ФЭМ-систем и возможности метода для локализации различных типов дефектов. Приведены практические примеры применения метода в условиях разработки и производства микроэлектроники.
Электроника НТБ #10/2018
А. Медведев
Лаборатория анализа качества электронной аппаратуры
Приведено описание современных методов поиска дефектов и отказов электронных устройств, дополняющих традиционные проверки, закрепленные в стандартах. Предложен состав оборудования лаборатории для проведения всестороннего анализа возможных причин выхода из строя и снижения эксплуатационной надежности печатных плат, узлов и электронных блоков. УДК 621.38:620.1.05 | ВАК 05.27.06 DOI: 10.22184/1992-4178.2018.181.10.88.93
Электроника НТБ #6/2015
А.Ляпин
Визуализация тонких структур – современные технологии. Часть 3
Речь идет об электронных пушках, используемых в растровой электронной микроскопии.
Электроника НТБ #4/2015
А.Ляпин
Визуализация тонких структур – современные технологии. Часть 1
О возможностях и особенностях различных широко используемых методов микроскопии для визуального контроля тонких электронных и механических структур, как в процессе производства, так и при отработке технологий, рассказывается в статье.
Наноиндустрия #3/2014
Ю.Могильников, В.Быков, С.Петров, А.Евсеенков
Каков срок службы высокотехнологичного лабораторного оборудования?
В течение какого срока устаревают различные типы измерительных приборов? С какой периодичностью должно обновляться оборудование, чтобы лаборатория соответствовала современным требованиям? В чем преимущества использования приборов последнего поколения? На эти вопросы отвечают руководители и специалисты компаний "Ниеншанц-Сайнтифик", "НТ-МДТ", "НТО" и "ЭлТех СПб".
Разработка: студия
Green Art