Выпуск #8/2025
О. Бордюжа, М. Горлов
Cравнительная оценка надежности партий транзисторов и диодов
Cравнительная оценка надежности партий транзисторов и диодов
Просмотры: 8
DOI: 10.22184/1992-4178.2025.250.8.82.90
В статье предложено шесть способов сравнительной оценки качества и надежности партий полупроводниковых приборов. Описаны варьируемые параметры и характеристики, проанализирована достоверность методов. Все способы запатентованы
и опробованы на партиях полупроводниковых изделий, изготовленных на предприятиях электронной промышленности РФ.
Ключевые слова: сравнительная оценка, качество
и надежность, партия полупроводниковых приборов, коэффициент передачи тока транзистора
Подпишитесь на журнал, чтобы прочитать полную версию статьи.
В статье предложено шесть способов сравнительной оценки качества и надежности партий полупроводниковых приборов. Описаны варьируемые параметры и характеристики, проанализирована достоверность методов. Все способы запатентованы
и опробованы на партиях полупроводниковых изделий, изготовленных на предприятиях электронной промышленности РФ.
Ключевые слова: сравнительная оценка, качество
и надежность, партия полупроводниковых приборов, коэффициент передачи тока транзистора
Подпишитесь на журнал, чтобы прочитать полную версию статьи.
Отзывы читателей