DOI: 10.22184/1992-4178.2022.217.6.158.166

Приведены обзор, классификация и основные характеристики оборудования для тестирования в серийном производстве микросхем и полупроводниковых приборов в широком диапазоне температур. Показано, что для тестирования могут применяться как автоматизированные, так и неавтоматизированные системы.

sitemap

Разработка: студия Green Art