Степень интеграции современных СБИС, как и постулировал Мур, растет экспоненциально. С переходом к технологическим нормам 0,25 мкм и ниже разработчик СБИС при создании сколь угодно сложных систем уже практически не ощущает недостатка в транзисторах на кристалле. На первый план выходит другой сдерживающий фактор – проблема функциональной верификации СБИС. Особую остроту она приобретает при разработке систем на кристалле, включающих не только цифровые, но и аналоговые, смешанные и даже СВЧ-блоки, а также процессорные ядра со встроенным программным обеспечением.

sitemap

Разработка: студия Green Art