sitemap
Наш сайт использует cookies. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей
Политикой Конфиденциальности
Согласен
главная
eng
Поиск:
на сайте журнала
на всех сайтах РИЦ
Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
© 2001-2026
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта
R&W
ISSN 1992-4178(print)
ISSN 1992-4186(online)
Книги по электронике
Статьи
Электроника НТБ #1/2026
ПРОБЛЕМНЫЕ ВОПРОСЫ КОММЕРЦИАЛИЗАЦИИ И ВЫВОДА НА ГРАЖДАНСКИЙ РЫНОК ОТЕЧЕСТВЕННЫХ ПАССИВНЫХ КОМПОНЕНТОВ. РАСШИРЕННОЕ ЗАСЕДАНИЕ ЭКСПЕРТНОГО СОВЕТА КОНСОРЦИУМА «ПАССИВНЫЕ ЭЛЕКТРОННЫЕ КОМПОНЕНТЫ»
Электроника НТБ #10/2025
Статьи и материалы, опубликованные в журнале «ЭЛЕКТРОНИКА: Наука, Технология, Бизнес» в 2025
Репортажи
//
все
Электроника НТБ #3/2025
ВИЗИТ НА ПР-ВО АО «КРАСНОЗНАМЕНСКИЙ ЗАВОД ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ «АРСЕНАЛ»
Электроника НТБ #10/2024
ЛОКАЛИЗАЦИЯ ПРОИЗВОДСТВА ОБОРУДОВАНИЯ. ВИЗИТ НА ПРОИЗВОДСТВО ООО «ПРОТЕХ»
Новости
//
все новости
04.03.2026
Академия технологий Остек-СМТ приглашает на новую серию весенних вебинаров!
03.03.2026
«Байкал Электроникс» заключил крупнейший в своей истории контракт на поставку своих микроконтроллеров с компанией РЕГЛАБ
События
//
все события
c 12.03.2026 до 13.03.2026
Форум «Безопасность ТЭК» 2026: Робототехника и искусственный интеллект для цифровой трансформации ТЭК. г. Москва
c 24.03.2026 до 25.03.2026
XXVII Сибирский промышленно-инновационном форум «ПРОМТЕХЭКСПО». г. Омск
Вход:
Ваш e-mail:
Пароль:
- запомнить меня
Регистрация
Забыли пароль?
Архив журнала:
2026
2025
2024
2023
2022
2021
2020
2019
2018
2017
2016
2015
2014
2013
2012
2011
2010
2009
2008
2007
2006
2005
2004
2003
2002
2001
2000
1999
1998
1997
1996
Медиаданные:
О журнале
Учредитель
Издатель
Редакционный совет
Распространение_
Редакционная политика:
Редакционная политика РИЦ «ТЕХНОСФЕРА»
Реклама:
Отдел рекламы
В журнале
На сайте
Авторам:
Соискателям учёной степени
Требования к статьям
Контакты:
Распространение
Адрес
Редакция
Журналы:
Электроника НТБ
Наноиндустрия
Первая миля
Фотоника
Аналитика
Станкоинструмент
Книги по электронике
читать книгу
под ред. Кастеншмидт Ф., Реха П.
ПЛИС и параллельные архитектуры для применения в аэрокосмической области. Программные ошибки и отказоустойчивое пректирование /При поддержке АО «КТЦ «ЭЛЕКТРОНИКА» перевод с англ. под ред. С.А. Цыбина
читать книгу
Немудров В., Мартин Г.
Системы на кристалле. Проблемы проектирования и развития
читать книгу
Белоус А.И., Солодуха В.А., Шведов С.В.
Космическая электроника. В 2-х книгах
Другие серии книг:
Мир электроники
Мир радиоэлектроники
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир химии
Мир наук о Земле
Мир материалов и технологий
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Библиотечка «КВАНТ»
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир фотоники
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Тег "metrology"
Аналитика #1/2026
В. Б. Барановская, И. В. Болдырев
35 лет Ассоциации «Аналитика»: сохраняем ценности, создавая будущее
Статья посвящена основным вехам становления Ассоциации аналитических центров «Аналитика». Отмечена ключевая роль Ассоциации в формировании в России объективной и признанной системы аккредитации, основанной на международных принципах. Рассказано о том, что в области метрологии химического анализа проведена важная работа по переводу и адаптации документов ряда международных организаций и выработке собственной национальной терминологии химических измерений. Сформулированы миссия Ассоциации, которая закреплена в Уставе, а также принципы, которыми она руководствуется в работе. Подробно описана программа проведения ежегодных собраний членов Ассоциации, которых на данный момент насчитывается более сотни. Отмечена роль сайта и ТГ-канала в текущей работе. Рассказано о работе по выпуску нормативных документов Технического комитета по стандартизации ТК 325 «Аналитический контроль», созданного при Ассоциации.
https://doi.org/10.22184/2227-572X.2026.16.1.14.18
Станкоинструмент #4/2024
В. И. Пронякин, А. С. Комшин
Качество изделий машиностроения и метрологическое обеспечение оценки соответствия продукции в производстве
DOI: 10.22184/2499-9407.2024.37.4.68.76 Рассмотрены вопросы обеспечения качества продукции в отечественном машиностроении, связанные с метрологическим обеспечением оценки соответствия продукции в производстве. Показаны сферы деятельности метрологии. Проведен анализ реализации метрологического обеспечения производства в ЕСТПП, ЕСТД. Анализируется производственная структура предприятия. Предложен подход к решению изложенных проблем метрологического обеспечения технологических процессов.
Электроника НТБ #2/2020
М. Макушин, В. Мартынов
Некоторые проблемы современной метрологии в микроэлектронике
DOI: 10.22184/1992-4178.2020.193.2.80.91 По мере масштабирования ИС и освоения 3D-структур усложняются средства метрологии и контроля. Важную роль в дальнейшем их развитии и совершенствовании играют искусственный интеллект, машинное обучение и совершенствование вычислительных технологий.
Наноиндустрия #6/2016
А.Потемкин
Обеспечение метрологической ответственности измерения перемещения в нанометровом диапазоне
Измерительный метрологический набор на основе динамической меры – технологически сложный и наукоемкий продукт, многократно превосходящий решения на основе пьезокерамики. Динамические калибры позволяют обеспечить опережающее развитие метрологии по сравнению с разрабатываемыми нанотехнологиями. DOI:10.22184/1993-8578.2016.68.6.60.68
Наноиндустрия #4/2016
А.Ахметова, Г.Мешков, О.Синицына, И.Яминский
Метрологическое обеспечение в бионаноскопии
Сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ) успешно переходит из научно-исследовательской области в сектор реальных производственных технологий. В связи с этим существенно повышается роль метрологического сопровождения инструментария СЗМ. DOI:10.22184/1993-8578.2016.66.4.36.39
Станкоинструмент #1/2016
М.Киселев
К вопросу о подготовке метрологов
В статье дан исторический экскурс и представлено современное состояние подготовки инженеровметрологов для отечественной промышленности. На примерах из отечественной истории прослеживается органичная связь уровня фундаментальных научных исследований, образования с возможностью кадрового обеспечения прорывных решений в области метрологии и измерительной техники.
Фотоника #1/2014
В.Суханов, В.Забродский, П.Аруев, Е.Шерстнев, П.Втулкин, С.Марченко
Исследование характеристик фотоприемного устройства для денситометрического комплекса
Решение задач метрологического обеспечения измерений оптической плотности опирается на создание разных технических средств. Среди них – денситометрические комплексы и стандартные образцы оптической плотности материалов. Но сердцем этих устройств по-прежнему остается фотоприемное устройство.
Фотоника #1/2013
С.Бутяйкин
NanoRam – раман-спектрометр для фармацевтической и пищевой промышленности
Портативный прибор комбинационного рассеяния NanoRam компании B&WTek обладает чрезвычайно высокой молекулярной избирательностью. Он прекрасно подходит для разнообразных фармацевтических приложений – тестирования сырья, проверки готовой продукции, выявления поддельных лекарств. Изложены основы метрологического обеспечения измерений состава вещества спектрометром NanoRam.
Наноиндустрия #8/2012
С.Голубев, В.Захарьин, Г.Мешков, Ю.Токунов, Д.Яминский, И.Яминский
Калибровка зондовых микроскопов. Динамическая мера "нанометр"
Динамическая мера "нанометр" – удобное средство измерений. Она позволяет осуществить калибровку СЗМ до начала и в процессе измерений. Предложены методика калибровки СЗМ и алгоритм статистической обработки данных.
Фотоника #4/2010
М.Макушин, В.Мартынов.
Нужен ли России самодельный EUV-нанолитограф?! Техника и экономика современной литографии
В журнале "Фотоника" 2010, №1 была опубликована статья "EUV-нанолитография. Проблемы и перспективы развития" В.Анчуткина, А.Бельского, О.Гущина. Другие авторы, признанные российские эксперты, излагают свою точку зрения на экономические и технологические аспекты развития литографии. С учетом знания реального уровня развития технологий и стратегических задач отечественной микроэлектроники они обсуждают вопрос: какая литография нужна российской электронике?
Разработка: студия
Green Art