Электроника НТБ - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1992-4178(print)
ISSN 1992-4186(online)

Книги по электронике

Тег "metrology"

Станкоинструмент #4/2024
В. И. Пронякин, А. С. Комшин
Качество изделий машиностроения и метрологическое обеспечение оценки соответствия продукции в производстве

DOI: 10.22184/2499-9407.2024.37.4.68.76 Рассмотрены вопросы обеспечения качества продукции в отечественном машиностроении, связанные с метрологическим обеспечением оценки соответствия продукции в производстве. Показаны сферы деятельности метрологии. Проведен анализ реализации метрологического обеспечения производства в ЕСТПП, ЕСТД. Анализируется производственная структура предприятия. Предложен подход к решению изложенных проблем метрологического обеспечения технологических процессов.

Электроника НТБ #2/2020
М. Макушин, В. Мартынов
Некоторые проблемы современной метрологии в микроэлектронике

DOI: 10.22184/1992-4178.2020.193.2.80.91 По мере масштабирования ИС и освоения 3D-структур усложняются средства метрологии и контроля. Важную роль в дальнейшем их развитии и совершенствовании играют искусственный интеллект, машинное обучение и совершенствование вычислительных технологий.

Наноиндустрия #6/2016
А.Потемкин
Обеспечение метрологической ответственности измерения перемещения в нанометровом диапазоне

Измерительный метрологический набор на основе динамической меры – технологически сложный и наукоемкий продукт, многократно превосходящий решения на основе пьезокерамики. Динамические калибры позволяют обеспечить опережающее развитие метрологии по сравнению с разрабатываемыми нанотехнологиями. DOI:10.22184/1993-8578.2016.68.6.60.68

Наноиндустрия #4/2016
А.Ахметова, Г.Мешков, О.Синицына, И.Яминский
Метрологическое обеспечение в бионаноскопии

Сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ) успешно переходит из научно-исследовательской области в сектор реальных производственных технологий. В связи с этим существенно повышается роль метрологического сопровождения инструментария СЗМ. DOI:10.22184/1993-8578.2016.66.4.36.39

Станкоинструмент #1/2016
М.Киселев
К вопросу о подготовке метрологов

В статье дан исторический экскурс и представлено современное состояние подготовки инженеровметрологов для отечественной промышленности. На примерах из отечественной истории прослеживается органичная связь уровня фундаментальных научных исследований, образования с возможностью кадрового обеспечения прорывных решений в области метрологии и измерительной техники.

Фотоника #1/2014
В.Суханов, В.Забродский, П.Аруев, Е.Шерстнев, П.Втулкин, С.Марченко
Исследование характеристик фотоприемного устройства для денситометрического комплекса

Решение задач метрологического обеспечения измерений оптической плотности опирается на создание разных технических средств. Среди них – денситометрические комплексы и стандартные образцы оптической плотности материалов. Но сердцем этих устройств по-прежнему остается фотоприемное устройство.

Фотоника #1/2013
С.Бутяйкин
NanoRam – раман-спектрометр для фармацевтической и пищевой промышленности

Портативный прибор комбинационного рассеяния NanoRam компании B&WTek обладает чрезвычайно высокой молекулярной избирательностью. Он прекрасно подходит для разнообразных фармацевтических приложений – тестирования сырья, проверки готовой продукции, выявления поддельных лекарств. Изложены основы метрологического обеспечения измерений состава вещества спектрометром NanoRam.

Наноиндустрия #8/2012
С.Голубев, В.Захарьин, Г.Мешков, Ю.Токунов, Д.Яминский, И.Яминский
Калибровка зондовых микроскопов. Динамическая мера "нанометр"

Динамическая мера "нанометр" – удобное средство измерений. Она позволяет осуществить калибровку СЗМ до начала и в процессе измерений. Предложены методика калибровки СЗМ и алгоритм статистической обработки данных.

Фотоника #4/2010
М.Макушин, В.Мартынов.
Нужен ли России самодельный EUV-нанолитограф?! Техника и экономика современной литографии

В журнале "Фотоника" 2010, №1 была опубликована статья "EUV-нанолитография. Проблемы и перспективы развития" В.Анчуткина, А.Бельского, О.Гущина. Другие авторы, признанные российские эксперты, излагают свою точку зрения на экономические и технологические аспекты развития литографии. С учетом знания реального уровня развития технологий и стратегических задач отечественной микроэлектроники они обсуждают вопрос: какая литография нужна российской электронике?