sitemap
Наш сайт использует cookies. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей
Политикой Конфиденциальности
Согласен
главная
eng
Поиск:
на сайте журнала
на всех сайтах РИЦ
Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта
R&W
ISSN 1992-4178(print)
ISSN 1992-4186(online)
Книги по электронике
Статьи
Электроника НТБ #8/2025
Колонка Департамента радиоэлектронной промышленности
Электроника НТБ #6/2025
КОЛОНКА ДЕПАРТАМЕНТА РАДИОЭЛЕКТРОННОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ
Репортажи
//
все
Электроника НТБ #3/2025
ВИЗИТ НА ПР-ВО АО «КРАСНОЗНАМЕНСКИЙ ЗАВОД ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ «АРСЕНАЛ»
Электроника НТБ #10/2024
ЛОКАЛИЗАЦИЯ ПРОИЗВОДСТВА ОБОРУДОВАНИЯ. ВИЗИТ НА ПРОИЗВОДСТВО ООО «ПРОТЕХ»
Новости
//
все новости
31.10.2025
Опубликована деловая программа выставки-форума «Электроника России» 2025
28.10.2025
Международная выставка «Интерполитех» стартовала в Москве
События
//
все события
c 25.11.2025 до 27.11.2025
4-я Международная выставка-форум «Электроника России». г. Москва, МВЦ «Крокус Экспо»
c 24.03.2026 до 25.03.2026
XXVII Сибирский промышленно-инновационном форум «ПРОМТЕХЭКСПО». г. Омск
Вход:
Ваш e-mail:
Пароль:
- запомнить меня
Регистрация
Забыли пароль?
Архив журнала:
2025
2024
2023
2022
2021
2020
2019
2018
2017
2016
2015
2014
2013
2012
2011
2010
2009
2008
2007
2006
2005
2004
2003
2002
2001
2000
1999
1998
1997
1996
Медиаданные:
О журнале
Учредитель
Издатель
Редакционный совет
Распространение_
Редакционная политика:
Редакционная политика РИЦ «ТЕХНОСФЕРА»
Реклама:
Отдел рекламы
В журнале
На сайте
Авторам:
Соискателям учёной степени
Требования к статьям
Контакты:
Распространение
Адрес
Редакция
Журналы:
Электроника НТБ
Наноиндустрия
Первая миля
Фотоника
Аналитика
Станкоинструмент
Книги по электронике
читать книгу
Международная конференция «Микроэлектроника 2015». Интегральные схемы и микроэлектронные модули: проектирование, производство и применение. Сборник докладов. Крым, г. Алушта, 28 сентября – 3 октября 2015 г.
читать книгу
Белоус А.И., Солодуха В.А.
Основы кибербезопасности. Cтандарты, концепции, методы и средства обеспечения
читать книгу
Белоус А.И., Солодуха В.А., Шведов С.В. /Под общей редакцией А.И. Белоуса
Основы конструирования высокоскоростных электронных устройств. Краткий курс «белой магии»
Другие серии книг:
Мир электроники
Мир радиоэлектроники
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир химии
Мир наук о Земле
Мир материалов и технологий
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Библиотечка «КВАНТ»
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир фотоники
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Тег "долговечность"
Электроника НТБ #5/2024
В. Соляник, А. Мирошниченко
ВЛИЯНИЕ СТРУКТУРЫ И СВОЙСТВ ТОНКИХ ПЛЕНОК ОСМИЯ НА ЭМИССИОННУЮ СПОСОБНОСТЬ И ДОЛГОВЕЧНОСТЬ КАТОДА
DOI: 10.22184/1992-4178.2024.236.5.98.104 В статье представлен обзор исследований влияния основных параметров металлопористых катодов на их эмиссионную способность и долговечность. Особое внимание уделено тонким пленкам, покрывающим эмиссионную поверхность катода. Рассмотрены режимы ионно-плазменного нанесения тонких пленок и методы исследования физических свойств тонких пленок.
Электроника НТБ #3/2024
Ю. Капшунова, С. Колочков
КОНТАКТИРУЮЩИЕ УСТРОЙСТВА ДЛЯ ТЕСТИРОВАНИЯ И ИСПЫТАНИЙ ЭКБ – НАДЕЖНЫЕ РЕШЕНИЯ ОТ КОМПАНИИ «АЙСИ СОКЕТ»
DOI: 10.22184/1992-4178.2024.234.3.128.130 Компания «АйСи Сокет» является одним из ведущих разработчиков и производителей высококачественных контактирующих устройств для тестирования и испытаний микросхем.
Электроника НТБ #2/2024
А. Строгонов
МЕТОДЫ ПРОГНОЗИРОВАНИЯ ДОЛГОВЕЧНОСТИ ИС ПО ПАРАМЕТРИЧЕСКИМ ОТКАЗАМ
DOI: 10.22184/1992-4178.2024.233.2.88.96 В статье рассмотрены основные методологические подходы, принятые в зарубежной и отечественной инженерных школах в области прогнозирования долговечности ИС по параметрическим отказам.
Электроника НТБ #8/2022
А. Тищенко, А. Мясников, А. Зоркин, О. Тищенко, Е. Горбунова
РЕГУЛИРОВАНИЕ РАБОЧЕЙ ТЕМПЕРАТУРЫ ВТОРИЧНО-ЭМИССИОННОГО КАТОДА
DOI: 10.22184/1992-4178.2022.219.8.82.84 Проведены исследования и определено термическое сопротивление подложки вторично-эмиссионного металлокерамического катода, обеспечивающее оптимальную температуру катода, вследствие чего достигается наибольшая длительность работы катода, а соответственно и долговечность ЭВП.
Наноиндустрия #4/2012
Ю.Федутик, К.Йост
Чистый зеленый и солнечный свет светодиодов
За века своего развития человечество, изобретая все более экономичные и эффективные источники света, прошло длительный путь от использования света костра, факелов и свечей до электрического освещения. С появлением технологий полупроводниковых светодиодов наступила "световая" эра. Этому способствует открытие квантовых точек (QD). Одно из важнейших требований – их долговечность. Немецкое предприятие PlasmaChem GmbH разработало технологию синтеза QD-кристаллов и создания матрицы преобразователя.
Фотоника #6/2011
С.Белянченко, Г.Изотова, С.Якушов
Российские термостойкие фотоумножители. Состояние и перспективы развития
Компания "МЭЛЗ ФЭУ" производит спектрометрические фотоэлектронные умножители. Разработаны термостойкие ФЭУ, работающие в условиях повышенной температуры окружающей среды в большом интервале температур: от 80 до 200°C.
Разработка: студия
Green Art