sitemap
Наш сайт использует cookies. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей
Политикой Конфиденциальности
Согласен
главная
eng
Поиск:
на сайте журнала
на всех сайтах РИЦ
Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта
R&W
ISSN 1992-4178(print)
ISSN 1992-4186(online)
Книги по электронике
Статьи
Электроника НТБ #8/2025
Колонка Департамента радиоэлектронной промышленности
Электроника НТБ #6/2025
КОЛОНКА ДЕПАРТАМЕНТА РАДИОЭЛЕКТРОННОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ
Репортажи
//
все
Электроника НТБ #3/2025
ВИЗИТ НА ПР-ВО АО «КРАСНОЗНАМЕНСКИЙ ЗАВОД ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ «АРСЕНАЛ»
Электроника НТБ #10/2024
ЛОКАЛИЗАЦИЯ ПРОИЗВОДСТВА ОБОРУДОВАНИЯ. ВИЗИТ НА ПРОИЗВОДСТВО ООО «ПРОТЕХ»
Новости
//
все новости
31.10.2025
Опубликована деловая программа выставки-форума «Электроника России» 2025
28.10.2025
Международная выставка «Интерполитех» стартовала в Москве
События
//
все события
c 25.11.2025 до 27.11.2025
4-я Международная выставка-форум «Электроника России». г. Москва, МВЦ «Крокус Экспо»
c 24.03.2026 до 25.03.2026
XXVII Сибирский промышленно-инновационном форум «ПРОМТЕХЭКСПО». г. Омск
Вход:
Ваш e-mail:
Пароль:
- запомнить меня
Регистрация
Забыли пароль?
Архив журнала:
2025
2024
2023
2022
2021
2020
2019
2018
2017
2016
2015
2014
2013
2012
2011
2010
2009
2008
2007
2006
2005
2004
2003
2002
2001
2000
1999
1998
1997
1996
Медиаданные:
О журнале
Учредитель
Издатель
Редакционный совет
Распространение_
Редакционная политика:
Редакционная политика РИЦ «ТЕХНОСФЕРА»
Реклама:
Отдел рекламы
В журнале
На сайте
Авторам:
Соискателям учёной степени
Требования к статьям
Контакты:
Распространение
Адрес
Редакция
Журналы:
Электроника НТБ
Наноиндустрия
Первая миля
Фотоника
Аналитика
Станкоинструмент
Книги по электронике
читать книгу
Под редакцией чл.-корр. РАН Ю.А. Чаплыгина
Нанотехнологии в электронике-3.1
читать книгу
Воронович В.В., Галах В.П., Кузьмин В.А., Потапов А.Ю. / Под редакцией В.В. Вороновича
Усилители мощности класса F и инверсного класса F
читать книгу
Букреев И.Н., Горячев В.И., Мансуров Б.М.
Микроэлектронные схемы цифровых устройств
Другие серии книг:
Мир электроники
Мир радиоэлектроники
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир химии
Мир наук о Земле
Мир материалов и технологий
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Библиотечка «КВАНТ»
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир фотоники
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Тег "equipment"
Электроника НТБ #1/2025
И. Мандрик, И. Новожилов
ОБОРУДОВАНИЕ И МЕТОДЫ МОНТАЖА ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ КРИСТАЛЛОВ
DOI: 10.22184/1992-4178.2025.242.1.76.83 Рассмотрено оборудование для высокоточного монтажа полупроводниковых кристаллов и предъявляемые к нему требования, а также приведена информация о различных методах монтажа кристаллов.
Аналитика #2/2024
В. А. Захаров, Д. С. Шелехова
Ошибки при организации или реорганизации работы лаборатории
На протяжении многих лет компания «КР-Аналитика» является надежным поставщиком аналитического и лабораторного оборудования и реализует комплексные решения для оснащения лабораторий различного профиля, исходя из потребностей клиентов и ресурсов, которыми они обладают. В статье обсуждаются основные ошибки, которые совершают заказчики при проектировании лабораторных пространств, и даются рекомендации по правильной организации работы лаборатории с учетом современных возможностей и тенденций.
Электроника НТБ #2/2024
Р. Ермилов, Ш. Шугаепов, Е. Ермолаев, В. Егошин
ПОВЫШЕНИЕ ХАРАКТЕРИСТИК НАДЕЖНОСТИ МНОГОВЫВОДНЫХ МЕТАЛЛОКЕРАМИЧЕСКИХ КОРПУСОВ АО «ЗПП» ЗА СЧЕТ ПРИМЕНЕНИЯ СИСТЕМ ТЕСТОВОГО КОНТРОЛЯ
DOI: 10.22184/1992-4178.2024.233.2.84.86 Рассмотрено тестовое оборудование, которое используется в Акционерном обществе «Завод полупроводниковых приборов» (АО «ЗПП») при изготовлении многовыводных металлокерамических корпусов для интегральных микросхем.
Станкоинструмент #3/2023
Д. И. Волотов, А. Р. Маслов
Модульное устройство для измерения технических параметров технологической оснастки
DOI: 10.22184/2499-9407.2023.32.3.68.72 Представлено описание измерительного устройства для прямого измерения физических величин, характеризующих основные свойства станочных приспособлений. Описано использование метода измерения, при котором значение искомой величины определяется непосредственно по показывающему средству измерений. Устройство переналаживается путем смены входящих в комплект модулей.
Аналитика #5/2022
А. Е. Каменщиков, М. Б. Свешников
Обеспечение аналитических лабораторий оборудованием, материалами и поддержкой в современных условиях
Рынок аналитического оборудования претерпел серьезные изменения в текущем году, и в условиях непростой экономической ситуации потребители и поставщики столкнулись с невозможностью продолжения многолетнего сотрудничества с абсолютным большинством мировых корпораций. Наша компания не является исключением, и в настоящей статье хотелось бы поделиться своими впечатлениями, решениями, а также некоторыми планами.
Электроника НТБ #5/2022
Ш. Шугаепов, Е. Ермолаев, В. Егошин, Р. Ахметгалиев, А. Мазуренко
ТЕХНОЛОГИЧЕСКОЕ ОБОРУДОВАНИЕ И МАТЕРИАЛЫ, ПРИМЕНЯЕМЫЕ ДЛЯ ИЗГОТОВЛЕНИЯ МЕТАЛЛОКЕРАМИЧЕСКИХ КОРПУСОВ
DOI: 10.22184/1992-4178.2022.216.5.62.65 Рассмотрены технологическое оборудование и материалы, применяемые в АО «Завод полупроводниковых приборов» (АО «ЗПП») для изготовления металлокерамических корпусов.
Электроника НТБ #3/2020
А. Соломатин
«Индустрия 4.0» и современный сервис: особенности и тенденции
Рассмотрены современные подходы к обеспечению сервисного обслуживания промышленного оборудования. Отмечены решения, предлагаемые компанией «Остек-СМТ». DOI: 10.22184/1992-4178.2020.194.3.90.92
Аналитика #3/2018
А.В.Матвеев, Б.Ежак, А.Войда
Новая редакция стандарта ISO/IEC 17025:2017. Что изменилось?
30 ноября 2017 года появилась новая редакция стандарта ISO/IEC 17025, заменяющая версию 2005 года (ГОСТ ИСО/МЭК 17025-2009 Общие требования к компетентности испытательных и калибровочных лабораторий). Резолюции, принятые ILAC (Resolution GA 20.15) и EA (Resolution 2016 (38) 23), устанавливают, что переходный период для внедрения к применению требований обновленной нормы составляет три года со дня ее публикации. Поэтому и аккредитованные лаборатории и те, что только готовятся к этому процессу, должны принять во внимание новые требования. Так как в России новая редакция стандарта пока не принята, официальный текст на русском языке не опубликован, авторы провели сравнительный анализ содержания документов 2005 и 2017 года в английской версии. УДК 006.1; ВАК 05.11.15 DOI: 10.22184/2227-572X.2018.40.3.296.299
Электроника НТБ #8/2016
А.Шкодин
Обслуживание оборудования – как оптимизировать затраты
Рассмотрена оптимизация затрат на обслуживание оборудования с использованием современных систем управления производственными активами. Отмечено, что ГК Остек готова выполнить анализ существующей на предприятии системы управления производственными активами на основании собственной методологии, адаптированной для предприятий радиоэлектронной промышленности.
Станкоинструмент #1/2016
А.Чальцев
Как выбрать гидравлическую жидкость?
В статье показано, как подобрать гидравлическую жидкость, отвечающую высоким требованиям конкретного оборудования и условиям эксплуатации.
1
2
→
Разработка: студия
Green Art