sitemap
Наш сайт использует cookies. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей
Политикой Конфиденциальности
Согласен
главная
eng
Поиск:
на сайте журнала
на всех сайтах РИЦ
Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта
R&W
ISSN 1992-4178(print)
ISSN 1992-4186(online)
Книги по электронике
Статьи
Электроника НТБ #8/2025
Колонка Департамента радиоэлектронной промышленности
Электроника НТБ #6/2025
КОЛОНКА ДЕПАРТАМЕНТА РАДИОЭЛЕКТРОННОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ
Репортажи
//
все
Электроника НТБ #3/2025
ВИЗИТ НА ПР-ВО АО «КРАСНОЗНАМЕНСКИЙ ЗАВОД ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ «АРСЕНАЛ»
Электроника НТБ #10/2024
ЛОКАЛИЗАЦИЯ ПРОИЗВОДСТВА ОБОРУДОВАНИЯ. ВИЗИТ НА ПРОИЗВОДСТВО ООО «ПРОТЕХ»
Новости
//
все новости
28.10.2025
Международная выставка «Интерполитех» стартовала в Москве
21.10.2025
Выставка Testing&Control 2025 открыла свои двери для специалистов
События
//
все события
c 29.10.2025 до 31.10.2025
Международный форум-выставка «Российский промышленник - 2025». г.Санкт- Петербург
c 25.11.2025 до 27.11.2025
4-я Международная выставка-форум «Электроника России». г. Москва, МВЦ «Крокус Экспо»
Вход:
Ваш e-mail:
Пароль:
- запомнить меня
Регистрация
Забыли пароль?
Архив журнала:
2025
2024
2023
2022
2021
2020
2019
2018
2017
2016
2015
2014
2013
2012
2011
2010
2009
2008
2007
2006
2005
2004
2003
2002
2001
2000
1999
1998
1997
1996
Медиаданные:
О журнале
Учредитель
Издатель
Редакционный совет
Распространение_
Редакционная политика:
Редакционная политика РИЦ «ТЕХНОСФЕРА»
Реклама:
Отдел рекламы
В журнале
На сайте
Авторам:
Соискателям учёной степени
Требования к статьям
Контакты:
Распространение
Адрес
Редакция
Журналы:
Электроника НТБ
Наноиндустрия
Первая миля
Фотоника
Аналитика
Станкоинструмент
Книги по электронике
читать книгу
Климачев И. И., Иовдальский В.А.
Основы технологии и конструирования ГИС СВЧ-диапазона
читать книгу
Бернард Д. Уиллис Б.
Практическое руководство по использованию X-Ray инспекции в производстве радиоэлектронных изделий
читать книгу
Автор-составитель Зенин В.И. / Под ред. Б.М. Малашевича
Михаил Александрович Карцев. Сборник статей. Созидатели отечественной электроники. Вып. 3
Другие серии книг:
Мир электроники
Мир радиоэлектроники
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир химии
Мир наук о Земле
Мир материалов и технологий
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Библиотечка «КВАНТ»
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир фотоники
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Тег "ацп"
Электроника НТБ #7/2025
Д. Колесников, П. Пастухов, М. Пяттоев, Е. Сухотерин, И. Тихонова, А. Тучин, С. Шумилин
КОМПЛЕКТ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ ДЛЯ ПРИБОРОВ УЧЕТА ПОТРЕБЛЯЕМОЙ ЭЛЕКТРОЭНЕРГИИ
DOI: 10.22184/1992-4178.2025.249.7.76.84 В статье описываются основные технические характеристики нового поколения микросхем от АО «ПКК Миландр» для приборов учета потребляемой электроэнергии: микроконтроллера MDR1206FI, микросхемы АЦП MDR5103FI, микросхемы MDR3401FI проводного интерфейса RS-485, а также микросхемы флеш-памяти MDR2306FI.
Электроника НТБ #4/2023
Д. Садеков
КИТАЙСКИЙ РАЗРАБОТЧИК ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ КОМПОНЕНТОВ COREBAI MICROELECTRONICS: ОБЗОР ПРОДУКЦИИ
DOI: 10.22184/1992-4178.2023.225.4.92.95 Компания Corebai Microelectronics (Beijing) Co. – известный на рынке Юго-Восточной Азии разработчик и поставщик аналоговых микросхем и ИС смешанного сигнала. В статье представлен обзор основных категорий продукции Corebai, их ключевые сферы применения.
Электроника НТБ #8/2021
Э. Акар
КАК ИЗМЕРЕНИЕ МОДУЛЯ ВЕКТОРА ОШИБКИ ПОМОГАЕТ ОПТИМИЗИРОВАТЬ ОБЩИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ СИСТЕМЫ
DOI: 10.22184/1992-4178.2021.209.8.142.148 Модуль вектора ошибки (EVM) – важная характеристика, позволяющая количественно оценить совокупное влияние всех возможных проблем в системах связи. В статье проанализировано, какие параметры системы влияют на EVM, рассмотрен ряд примеров использования EVM для оптимизации характеристик устройства на системном уровне.
Электроника НТБ #1/2019
В. Ежов
АЦП и ЦАП Analog Devices: обзор новинок 2018 года
Analog Devices – один из ведущих разработчиков и производителей аналого-цифровых и цифро-аналоговых преобразователей. В статье представлен обзор новинок, анонсированных компанией в прошлом году, их особенности, ключевые параметры, перспективные области применения в России. УДК 621.3.049.774 | ВАК 05.27.01 DOI: 10.22184/1992-4178.2019.182.1.92.102
Электроника НТБ #1/2019
B. Осипов
Применение СнК 1879ВЯ1Я в качестве многоканального амплитудного анализатора цифрового спектрометрического тракта
Предложен метод построения амплитудного анализатора в канале спектрометрического АЦП (САЦП) на базе конвейерного АЦП СнК 1879ВЯ1Я. Получены характеристики как исходного АЦП, так и амплитудного анализатора. Произведена оценка профиля канала и количества каналов программно реализованного САЦП на 1879ВЯ1Я. УДК 621.38 | ВАК 05.27.01 DOI: 10.22184/1992-4178.2019.182.1.82.87
Электроника НТБ #1/2019
М. Макушин, И. Черепанов
Некоторые аспекты развития рынка преобразователей данных
Рассмотрены основные тенденции рынка АЦП и ЦАП, дается прогноз объемов продаж до 2023 года. Спрос на преобразователи данных обусловлен, в основном, развитием рынков IoT, 5G и смартфонов, хотя они все шире используются и в системах военного назначения, телекоммуникаций, ЦОД. Приводятся краткая характеристика основных производителей АЦП / ЦАП и параметры новых преобразователей данных. УДК 621.38 | ВАК 05.27.01 DOI: 10.22184/1992-4178.2019.182.1.74.81
Наноиндустрия #9/2018
Бутузов Владимир Алексеевич, Бочаров Юрий Иванович, Шунков Валерий Евгеньевич, Кусь Олег Николаевич, Прокопьев Виталий Юрьевич
Оптимизация топологии конденсаторной матрицы в АЦП последовательного приближения
Рассмотрено влияние топологических размеров матрицы переключаемых конденсаторов на погрешность дифференциальной нелинейности АЦП последовательного приближения в составе многоканальных микросхем и систем на кристалле. Даны рекомендации, позволяющие оптимизировать номиналы единичных конденсаторов емкостной матрицы и оценить размеры блока АЦП на ранних стадиях проектирования. УДК 621.382 DOI: 10.22184/1993-8578.2018.82.369.375
Наноиндустрия #9/2018
Tsyboolsky O. A.
Сравнение характеристик линейного и дробно-линейного (проективного) аналого-цифровых преобразований
Приведены краткие данные по свойствам и характеристикам класса дробно-линейных АЦП в сравнении с линейными АЦП, которые являются частным случаем дробно-линейных АЦП. Получено уравнение и структура дробно-линейного аналого-цифрового преобразования, согласующее полосу погрешности квантования с полосой предельной погрешности. Показано преимущество применения дробно-линейного уравнения измерения по сравнению с линейным уравнением, при решении задач расширения диапазона измерения, увеличения отношения сигнал-шум квантования, снижения разрядности преобразователя, автоматической коррекции погрешности. УДК 53.088 DOI: 10.22184/1993-8578.2018.82.344.350
Наноиндустрия #9/2018
Рычков Артем Игоревич, Умурзаков Фаиль Азаматович
Блок цифровой коррекции для высокопроизводительного аналого-цифрового преобразователя
В статье рассмотрена реализация блока цифровой коррекции для высокопроизводительного аналого-цифрового преобразователя с рабочей частотой свыше 100 МГц. Описывается общая архитектура блока цифровой коррекции. Приводятся сравнительные характеристики АЦП с цифровой коррекцией, оперирующей числами с плавающей запятой и с фиксированной запятой. УДК 621.3.087.92 DOI: 10.22184/1993-8578.2018.82.330.334
Наноиндустрия #9/2018
Куликов Дмитрий Васильевич, Савельев Денис Ильич
Особенности влияния рассогласования каналов на параметры быстродействующих многоканальных АЦП
Работа посвящена особым видам искажений спектра выходного сигнала многоканальных АЦП, вызванных рассогласованием параметров используемых каналов. Проведено исследование влияние факторов, ограничивающих достижение высоких динамических характеристик. УДК 621.3.049.774, ББК 32.853.1 DOI: 10.22184/1993-8578.2018.82.296.299
1
2
3
→
Разработка: студия
Green Art