sitemap
Наш сайт использует cookies. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей
Политикой Конфиденциальности
Согласен
главная
eng
Поиск:
на сайте журнала
на всех сайтах РИЦ
Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта
R&W
ISSN 1992-4178(print)
ISSN 1992-4186(online)
Книги по электронике
Статьи
Электроника НТБ #9/2025
МОДЕРНИЗАЦИЯ БАЛЛЬНЫХ СИСТЕМ КАК ИНСТРУМЕНТ ДОСТИЖЕНИЯ ТЕХНОЛОГИЧЕСКОГО ЛИДЕРСТВА
Электроника НТБ #8/2025
Колонка Департамента радиоэлектронной промышленности
Репортажи
//
все
Электроника НТБ #3/2025
ВИЗИТ НА ПР-ВО АО «КРАСНОЗНАМЕНСКИЙ ЗАВОД ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ «АРСЕНАЛ»
Электроника НТБ #10/2024
ЛОКАЛИЗАЦИЯ ПРОИЗВОДСТВА ОБОРУДОВАНИЯ. ВИЗИТ НА ПРОИЗВОДСТВО ООО «ПРОТЕХ»
Новости
//
все новости
26.11.2025
Итоги Российского форума «Микроэлектроника 2025»
26.11.2025
На наших видеоплатформах вышло интервью с гендиректором ООО «НПО ДиОД» Н.А. Одинцовым
События
//
все события
c 24.03.2026 до 25.03.2026
XXVII Сибирский промышленно-инновационном форум «ПРОМТЕХЭКСПО». г. Омск
Вход:
Ваш e-mail:
Пароль:
- запомнить меня
Регистрация
Забыли пароль?
Архив журнала:
2025
2024
2023
2022
2021
2020
2019
2018
2017
2016
2015
2014
2013
2012
2011
2010
2009
2008
2007
2006
2005
2004
2003
2002
2001
2000
1999
1998
1997
1996
Медиаданные:
О журнале
Учредитель
Издатель
Редакционный совет
Распространение_
Редакционная политика:
Редакционная политика РИЦ «ТЕХНОСФЕРА»
Реклама:
Отдел рекламы
В журнале
На сайте
Авторам:
Соискателям учёной степени
Требования к статьям
Контакты:
Распространение
Адрес
Редакция
Журналы:
Электроника НТБ
Наноиндустрия
Первая миля
Фотоника
Аналитика
Станкоинструмент
Книги по электронике
читать книгу
Пис Р.А.
Обнаружение неисправностей в аналоговых схемах
читать книгу
Международный форум «Микроэлектроника-2017» 3-я Международная научная конференция «Электронная компонентная база и электронные модули». Республика Крым, г. Алушта, 02–07 октября 2017 г.
читать книгу
Красников Г.
Конструктивно-технологические особенности субмикронных МОП-транзисторов
Другие серии книг:
Мир электроники
Мир радиоэлектроники
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир химии
Мир наук о Земле
Мир материалов и технологий
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Библиотечка «КВАНТ»
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир фотоники
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Тег "измерения"
Электроника НТБ #9/2024
К. Епифанцев
СРАВНИТЕЛЬНЫЙ АНАЛИЗ ЗАВИСИМОСТИ ТОЧНОСТИ ИЗМЕРЕНИЙ НА КОНТУРОГРАФЕ ОТ УГЛОВЫХ И СКОРОСТНЫХ ПАРАМЕТРОВ ЩУПА
DOI: 10.22184/1992-4178.2024.240.9.116.119 Представлены экспериментальные данные, которые позволяют изучить процесс калибровки контурографа для разных экспериментальных условий и выявить оптимальные значения угловых и скоростных параметров измерений.
Электроника НТБ #5/2024
Н. Лемешко, М. Горелкин
ИЗМЕРЕНИЯ ПОМЕХ, ФОРМИРУЕМЫХ ДВИГАТЕЛЯМИ ПОСТОЯННОГО ТОКА, С ПОМОЩЬЮ ПРИБОРОВ КОМПАНИИ RIGOL. ЧАСТЬ 2
DOI: 10.22184/1992-4178.2024.236.5.144.151 Рассмотрены способы анализа кондуктивных помех в сетях электропитания и приведен пример измерений кондуктивных помех, формируемых электродвигателями постоянного тока, с использованием осциллографов Rigol MSO8204 и анализаторов спектра Rigol RSA5056-TG.
Электроника НТБ #4/2024
Н. Лемешко, М. Горелкин
ИЗМЕРЕНИЯ ПОМЕХ, ФОРМИРУЕМЫХ ДВИГАТЕЛЯМИ ПОСТОЯННОГО ТОКА, С ПОМОЩЬЮ ПРИБОРОВ КОМПАНИИ RIGOL. ЧАСТЬ 1
DOI: 10.22184/1992-4178.2024.235.4.104.110 Рассмотрены основные причины формирования кондуктивных электромагнитных помех электродвигателями постоянного тока (ЭДПТ), оценено влияние технического состояния и условий эксплуатации ЭДПТ на уровень помехоэмиссии, описаны методы снижения и способы измерений помех, формируемых ЭДПТ.
Электроника НТБ #8/2017
А.Насонов
Психология измерений
Рассмотрено влияние психологии на процессы создания электронных изделий. Отмечены подходы, позволяющие оптимизировать эти процессы с учетом психологических факторов. УДК 621.317 ВАК 05.11.00 DOI: 10.22184/1992-4178.2017.169.8.106.108
Книги
Шарапов В.М.,Полищук Е.С., Кошевой Н.Д.,Ишанин Г.Г., Минаев И.Г., Совлуков А.С. /Под общ. ред. Шарапова В.М., Полищука Е.С.
Датчики
В книге изложены теоретические основы, принципы действия, описаны конструкции и характеристики датчиков физических величин. Книга предназначена для научных работников, студентов, аспирантов, специалистов в области разработки датчиков, измерительных приборов, элементов и устройств вычислительной техники и систем управления.
Фотоника #4/2016
О.Колмогоров, С.Донченко, Д.Прохоров, Б.Акулин, Н.Юстус
Средства метрологического обеспечения оптических рефлектометров и волоконно-оптических датчиков
Создание, испытания и эксплуатация волоконно-оптических систем связи и передачи информации (ВОСП), систем мониторинга на основе волоконно-оптических датчиков невозможны без проведения измерений их характеристик с помощью соответствующих средств измерений. В статье приведены требования нормативных документов по обеспечению единства измерений, рассмотрены методы и средства, применяемые при поверке и калибровке средств измерений параметров ВОСП и волоконно-оптических датчиков. DOI:10.22184/1993-7296.2016.58.4.94.100
Книги
Под ред. А.Шварца, М. Кумара, Б. Адамса, Д.Филда
Метод дифракции отраженных электронов в области материаловедения
Книга содержит материалы, полезные как для общего понимания принципа ДОЭ-анализа, истории его создания и развития, так и практическую информацию по исследованию процессов в материалах при сильных пластических деформациях (равноканальное угловое прессование (РКУП), сварка трением с перемешиванием), а также для понимания трехмерного анализа границ раздела методом комбинации послойного травления материала с помощью фокусированного ионного пучка и исследования поверхности каждого слоя методом ДОЭ с последующей трехмерной реконструкцией набора двумерных данных ДОЭ. Перевод на русский язык второго оригинального издания книги «Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении» является одной из первых исчерпывающих коллективных монографий в этой области. Книга станет полезным настольным справочником для многих начинающих и практикующих специалистов в области электронной микроскопии, рентгеновского микроанализа и микротекстурного анализа материалов.
Книги
Богуш М.В.
Проектирование пьезоэлектрических датчиков на основе пространственных электротермоупругих моделей
Работа посвящена проектированию пьезоэлектрических датчиков с использованием современных методов математического моделирования. Описаны критерии, алгоритмы и процедуры для рационального и целенаправленного выбора конструкции датчика, материалов и размеров деталей с помощью универсальных относительно геометрии изделия и способов приложения нагрузки численных пространственных электротермоупругих моделей. Это позволяет улучшить тех-нические характеристики пьезоэлектрических датчиков за счет обоснованного выбора компромис-са между информативностью и надежностью изделия в предполагаемых условиях эксплуатации. Эффективность предложенных методов подтверждается разработкой серии пьезоэлектри-ческих датчиков с уникальными свойствами, нашедших широкое применение в вихревых и ульт-развуковых расходомерах жидкости, газа и пара для систем промышленной автоматики, нашедших широкое применение в промышленности. Предназначена для специалистов, занимающихся проектированием и применением пьезо-электрических преобразователей и датчиков в измерительных и управляющих системах, а также аспирантов и студентов технических вузов.
Книги
Шарапов В.М., Минаев И.Г., Сотула Ж.В.,Куницкая Л.Г. / Под общ. ред. Шарапова В.М.
Электроакустические преобразователи
В книге изложены теоретические основы, принципы действия, описаны конструкции и характеристики, методы снижения рабочей частоты, повышения уровня звукового давления, расширения полосы частот электроакустических преобразователей. В конце каждой главы приведена обширная библиография. Книга предназначена для научных работников, студентов, аспирантов, специалистов в области разработки электроакустических преобразователей, измерительных устройств, элементов и устройств вычислительной техники и систем управления.
Наноиндустрия #8/2012
С.Голубев, В.Захарьин, Г.Мешков, Ю.Токунов, Д.Яминский, И.Яминский
Калибровка зондовых микроскопов. Динамическая мера "нанометр"
Динамическая мера "нанометр" – удобное средство измерений. Она позволяет осуществить калибровку СЗМ до начала и в процессе измерений. Предложены методика калибровки СЗМ и алгоритм статистической обработки данных.
1
2
→
Разработка: студия
Green Art