Электроника НТБ #2/2019
А. Кривов, Е. Смирнова, К. Бондин, П. Николаев
Необходимость межлабораторных сличений в современной метрологии В практике метрологического обеспечения электронных производств все большее значение приобретает такая технология достижения и поддержания требуемой точности промышленных измерений, как межлабораторные сравнительные испытания (МСИ). В статье рассмотрены вопросы реализации требований действующих стандартов в части, относящейся к МСИ, и приведены краткие сведения о пилотном проекте по МСИ результатов калибровки и поверки электроизмерительных приборов, выполненном компанией «Диполь». УДК 006.91:621.317.089.6 | ВАК 05.11.15 DOI: 10.22184/1992-4178.2019.183.2.58.63 Аналитика #3/2018
А.В.Матвеев, Б.Ежак, А.Войда
Новая редакция стандарта ISO/IEC 17025:2017. Что изменилось? 30 ноября 2017 года появилась новая редакция стандарта ISO/IEC 17025, заменяющая версию 2005 года (ГОСТ ИСО/МЭК 17025-2009 Общие требования к компетентности испытательных и калибровочных лабораторий). Резолюции, принятые ILAC (Resolution GA 20.15) и EA (Resolution 2016 (38) 23), устанавливают, что переходный период для внедрения к применению требований обновленной нормы составляет три года со дня ее публикации. Поэтому и аккредитованные лаборатории и те, что только готовятся к этому процессу, должны принять во внимание новые требования. Так как в России новая редакция стандарта пока не принята, официальный текст на русском языке не опубликован, авторы провели сравнительный анализ содержания документов 2005 и 2017 года в английской версии. УДК 006.1; ВАК 05.11.15 DOI: 10.22184/2227-572X.2018.40.3.296.299 Станкоинструмент #4/2017
Н. Серков
Элементы калибровки и диагностики точности при сборке 5­координатного станка с ЧПУ Предложена методика диагностики точности 5­координатного станка с ЧПУ на базе назначения «нормы» точности позиционирования для оценки возможности проведения коррекции без дополнительных мероприятий. Рассмотрен алгоритм действий при превышении измеренными параметрами точности установленных норм коррекции. DOI: 10.22184/24999407.2017.9.4.52.57 Наноиндустрия #7/2017
С.Степанов, С.Тарасов, А.Петров, С.Степанов
Исследование погрешности установки УКМ-1000 для поверки концевых мер длины свыше 100 мм Проведено исследование точности российской установки УКМ-1000 для поверки концевых мер длины свыше 100 мм на основе международной методики Calibration of gauge block comparators. УДК 621.923, ВАК 05.11.01, DOI: 10.22184/1993-8578.2017.78.7.66.70 Наноиндустрия #5/2017
С.Степанов, С.Тарасов, А.Петров, С.Степанов
Исследование погрешности компарации при поверке концевых мер длины на приборе УКМ-100 Проведено исследование точности российского компаратора для поверки концевых мер длины УКМ-100 по международной методике Calibration of gauge block comparators. Показано, что калибровка является более гибким и определенным методом оценки точностных возможностей эталонных приборов, чем применение поверочной схемы. УДК 621.923, ВАК 05.11.01, DOI: 10.22184/1993-8578.2017.76.5.58.61 Электроника НТБ #8/2015
А.Зуйков
АВТОМАТИЗАЦИЯ РАБОТЫ МЕТРОЛОГИЧЕСКОЙ СЛУЖБЫ – ПРОГРАММНОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ FLUKE MET/CAL В эффективной организации работы метрологической лаборатории большую роль играет программное обеспечение (ПО) для автоматизации поверки и систематизации ее результатов. Такое ПО позволяет значительно упростить и ускорить процесс поверки. Пример универсального и эффективного ПО для решения метрологических задач – Fluke MET/CAL. О возможностях этого программного обеспечения рассказывается в этой статье. Наноиндустрия #5/2015
А.Потемкин, П.Лускинович, В.Жаботинский
Стандарты нано- и пикометрового диапазонов на основе мер перемещения На основе монокристаллических материалов с обратным пьезоэффектом разработаны меры перемещения нано- и пикометрового диапазонов, которые могут применяться для калибровки сканирующих зондовых и электронных микроскопов. Измерения величин перемещений мер производилось оптическими интерферометрами на основе лазеров со стабилизацией частоты излучения брэгговской и цезиевой ячейками. Меры перемещения и интерферометры могут использоваться в качестве манипуляторов и сенсоров в технологическом оборудовании и измерительных приборах, а также при проведении лабораторных работ по наноматериалам, наномеханике и нанометрологии. DOI:10.22184/1993-8578.2015.59.5.74.80 Электроника НТБ #5/2014
Ю.Агрич, В.Лифшиц
Новый АЦП компании "Миландр" – Высокое быстродействие и малое энергопотребление Сегодня широко востребованы АЦП, в которых сочетаются такие характеристики как высокая производительность, большая разрядность, широкая полоса пропускания и низкое энергопотребление. До сих пор устройства данного класса производились в основном зарубежными компаниями. Сейчас в ЗАО ПКК "Миландр" разработан и готовится к выпуску быстродействующий конвейерный АЦП 5101НВ015 с разрядностью 12 или 14 бит и частотой выборки 20–150 МГц. О его особенностях и возможностях рассказывается в статье. Фотоника #2/2014
А. Фатуллаев, М.Тахмазли
Солнечные фотометры. Усовершенствование метода калибровки Ленгли При слежении за малыми космическими объектами необходима правильная оценка солнечной радиации, для этого фотометрическую аппаратуру подвергают предварительной калибровке. Предложена процедура усовершенствования калибровки солнечных фотометров методом диаграмм Ленгли. Фотоника #1/2014
Б.Форг, Ф.Германн, Д.Шифердеккер, И.Ленек, M.Шульц, M.Симон, K.Сторч, Ф.Фолклейн
Инфракрасные термопарные матрицы с улучшенным пространственными разрешением, чувствительностью и качеством изображения Теплоизмерительные бесконтактные приборы широко используются на практике для обеспечения безопасности, предотвращения несанкционированного проникновения на объекты, выявления заболевших в массе людей. Однако какому из приборов – тепловизору на основе микроболометров или камере на основе ИК-матрицы – отдать предпочтение, решает потребитель.