sitemap
Наш сайт использует cookies. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей
Политикой Конфиденциальности
Согласен
главная
eng
Поиск:
на сайте журнала
на всех сайтах РИЦ
Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
© 2001-2026
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта
R&W
ISSN 1992-4178(print)
ISSN 1992-4186(online)
Книги по электронике
Статьи
Электроника НТБ #1/2026
ПРОБЛЕМНЫЕ ВОПРОСЫ КОММЕРЦИАЛИЗАЦИИ И ВЫВОДА НА ГРАЖДАНСКИЙ РЫНОК ОТЕЧЕСТВЕННЫХ ПАССИВНЫХ КОМПОНЕНТОВ. РАСШИРЕННОЕ ЗАСЕДАНИЕ ЭКСПЕРТНОГО СОВЕТА КОНСОРЦИУМА «ПАССИВНЫЕ ЭЛЕКТРОННЫЕ КОМПОНЕНТЫ»
Электроника НТБ #10/2025
Статьи и материалы, опубликованные в журнале «ЭЛЕКТРОНИКА: Наука, Технология, Бизнес» в 2025
Репортажи
//
все
Электроника НТБ #3/2025
ВИЗИТ НА ПР-ВО АО «КРАСНОЗНАМЕНСКИЙ ЗАВОД ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ «АРСЕНАЛ»
Электроника НТБ #10/2024
ЛОКАЛИЗАЦИЯ ПРОИЗВОДСТВА ОБОРУДОВАНИЯ. ВИЗИТ НА ПРОИЗВОДСТВО ООО «ПРОТЕХ»
Новости
//
все новости
11.03.2026
Сделано в России: финальная сборка комплекса для производства жгутов
06.03.2026
Милые дамы! С 8 марта!
События
//
все события
до 13.03.2026
Форум «Безопасность ТЭК» 2026: Робототехника и искусственный интеллект для цифровой трансформации ТЭК. г. Москва
c 24.03.2026 до 25.03.2026
XXVII Сибирский промышленно-инновационном форум «ПРОМТЕХЭКСПО». г. Омск
Вход:
Ваш e-mail:
Пароль:
- запомнить меня
Регистрация
Забыли пароль?
Архив журнала:
2026
2025
2024
2023
2022
2021
2020
2019
2018
2017
2016
2015
2014
2013
2012
2011
2010
2009
2008
2007
2006
2005
2004
2003
2002
2001
2000
1999
1998
1997
1996
Медиаданные:
О журнале
Учредитель
Издатель
Редакционный совет
Распространение_
Редакционная политика:
Редакционная политика РИЦ «ТЕХНОСФЕРА»
Реклама:
Отдел рекламы
В журнале
На сайте
Авторам:
Соискателям учёной степени
Требования к статьям
Контакты:
Распространение
Адрес
Редакция
Журналы:
Электроника НТБ
Наноиндустрия
Первая миля
Фотоника
Аналитика
Станкоинструмент
Книги по электронике
читать книгу
под ред. В.М. Пролейко
Очерки истории российской электроники. Выпуск 1. 60 лет отечественному транзистору
читать книгу
Под ред. Кестера Уолта
Применение высокоскоростных систем
читать книгу
Вавилов В.Д., Тимошенков С.П., Тимошенков А.С.
Микросистемные датчики физических величин: монография в двух частях
Другие серии книг:
Мир электроники
Мир радиоэлектроники
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир химии
Мир наук о Земле
Мир материалов и технологий
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Библиотечка «КВАНТ»
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир фотоники
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Тег "calibration"
Фотоника #2/2014
А. Фатуллаев, М.Тахмазли
Солнечные фотометры. Усовершенствование метода калибровки Ленгли
При слежении за малыми космическими объектами необходима правильная оценка солнечной радиации, для этого фотометрическую аппаратуру подвергают предварительной калибровке. Предложена процедура усовершенствования калибровки солнечных фотометров методом диаграмм Ленгли.
Фотоника #1/2014
Б.Форг, Ф.Германн, Д.Шифердеккер, И.Ленек, M.Шульц, M.Симон, K.Сторч, Ф.Фолклейн
Инфракрасные термопарные матрицы с улучшенным пространственными разрешением, чувствительностью и качеством изображения
Теплоизмерительные бесконтактные приборы широко используются на практике для обеспечения безопасности, предотвращения несанкционированного проникновения на объекты, выявления заболевших в массе людей. Однако какому из приборов – тепловизору на основе микроболометров или камере на основе ИК-матрицы – отдать предпочтение, решает потребитель.
Наноиндустрия #5/2013
П.Тодуа, В.Гавриленко
Нанометрология – основа устойчивого развития нанотехнологий
Одна из ключевых задач нанометрологии – обеспечение единства измерений в нано - и субнанометровом диапазонах. Важнейшими параметрами, характеризующими наночастицы, наноструктуры, нанопокрытия являются размерные. В статье представлены новые типы кремниевых тест-объектов, обеспечивающих прослеживаемость методами растровой и просвечивающей электронной микроскопии, атомно-силовой микроскопии размерных измерений к единице длины в системе СИ.
Аналитика #2/2013
В.Копачевский, Д.Клемято, В.Бойков, Л.Боброва, М.Кривошеева
Анализ химического состава веществ и материалов в режиме он-лайн
Контроль элементного состава веществ и материалов в режиме реального времени на движущейся конвейерной ленте представляет огромный интерес с точки зрения получения информации для он-лайн управления технологическими процессами, сортировки продукции или исходных компонентов, контроля качества сырья и готовой продукции. Авторы рассматривают полностью автоматизированный лазерный анализатор элементного состава. Система может быть использована для контроля химического состава минеральных удобрений, угля, руды, кварцевого песка, глины, цемента, металлов, сплавов и многих других проб. Благодаря экономической эффективности применения анализатора в некоторых случаях удается достичь его полной окупаемости в течение нескольких месяцев. Один из примеров быстрой окупаемости – контроль содержания KCl в галургических калийных удобрениях. Уменьшение содержания KCl над номинальным значением в готовой продукции с 0,50 до 0,20 % позволяет окупить систему контроля за шесть месяцев.
Аналитика #2/2013
Ю.Каламбет, С. Мальцев, Ю.Козьмин
"МультиХром" и метрология: 25 лет вместе
Подводятся итоги 25-ти летней работы фирмы "Амперсенд" с точки зрения метрологии. Обобщен опыт работ по разработке программно-аппаратных комплексов для автоматизации хроматографического анализа "МультиХром". Рассмотрены основные источники ошибок измерения, способы подавления помех и их влияние на погрешность измерения. Обсуждаются решения, имеющие непосредственное отношение к метрологии: фильрация шумов, оценка параметров хроматографического пика, оценка характеристик и разделение перекрывающихся пиков, градуировка методами внутреннего и внешнего стандартов, расчет доверительных интервалов. Обсуждены вопросы валидации методик, программного обеспечения и оборудования.
Наноиндустрия #8/2012
С.Голубев, В.Захарьин, Г.Мешков, Ю.Токунов, Д.Яминский, И.Яминский
Калибровка зондовых микроскопов. Динамическая мера "нанометр"
Динамическая мера "нанометр" – удобное средство измерений. Она позволяет осуществить калибровку СЗМ до начала и в процессе измерений. Предложены методика калибровки СЗМ и алгоритм статистической обработки данных.
Аналитика #2/2012
Крис Браун
Калибровка контрольных сит: это просто
Метод анализа, основанный на рассеве образцов – стандартная процедура для многих аналитических лабораторий научно-исследовательских институтов, вузов, на производстве. Необходимость сертификации в соответствии с международным стандартом ISO 9000 определяет повышенный интерес к улучшению качества испытаний, в том числе – методом рассева.
Аналитика #2/2012
Ю.Каламбет
Мифы внутреннего стандарта
Обсуждаются проблемы метода внутреннего стандарта, реализованного с помощью графика "отношение концентраций/отношение откликов". Приведен пример, когда при линейных зависимостях и точных измерениях метод дает ошибку определения концентрации. Показано, что "традиционное" решение и предложенный альтернативный подход дают эквивалентные результаты предсказания концентрации при прямо пропорциональных градуировках.
←
1
2
3
Разработка: студия
Green Art