Электроника НТБ - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1992-4178(print)
ISSN 1992-4186(online)

Книги по электронике

Тег "calibration"

Наноиндустрия #5/2013
П.Тодуа, В.Гавриленко
Нанометрология – основа устойчивого развития нанотехнологий

Одна из ключевых задач нанометрологии – обеспечение единства измерений в нано - и субнанометровом диапазонах. Важнейшими параметрами, характеризующими наночастицы, наноструктуры, нанопокрытия являются размерные. В статье представлены новые типы кремниевых тест-объектов, обеспечивающих прослеживаемость методами растровой и просвечивающей электронной микроскопии, атомно-силовой микроскопии размерных измерений к единице длины в системе СИ.

Аналитика #2/2013
В.Копачевский, Д.Клемято, В.Бойков, Л.Боброва, М.Кривошеева
Анализ химического состава веществ и материалов в режиме он-лайн

Контроль элементного состава веществ и материалов в режиме реального времени на движущейся конвейерной ленте представляет огромный интерес с точки зрения получения информации для он-лайн управления технологическими процессами, сортировки продукции или исходных компонентов, контроля качества сырья и готовой продукции. Авторы рассматривают полностью автоматизированный лазерный анализатор элементного состава. Система может быть использована для контроля химического состава минеральных удобрений, угля, руды, кварцевого песка, глины, цемента, металлов, сплавов и многих других проб. Благодаря экономической эффективности применения анализатора в некоторых случаях удается достичь его полной окупаемости в течение нескольких месяцев. Один из примеров быстрой окупаемости – контроль содержания KCl в галургических калийных удобрениях. Уменьшение содержания KCl над номинальным значением в готовой продукции с 0,50 до 0,20 % позволяет окупить систему контроля за шесть месяцев.

Аналитика #2/2013
Ю.Каламбет, С. Мальцев, Ю.Козьмин
"МультиХром" и метрология: 25 лет вместе

Подводятся итоги 25-ти летней работы фирмы "Амперсенд" с точки зрения метрологии. Обобщен опыт работ по разработке программно-аппаратных комплексов для автоматизации хроматографического анализа "МультиХром". Рассмотрены основные источники ошибок измерения, способы подавления помех и их влияние на погрешность измерения. Обсуждаются решения, имеющие непосредственное отношение к метрологии: фильрация шумов, оценка параметров хроматографического пика, оценка характеристик и разделение перекрывающихся пиков, градуировка методами внутреннего и внешнего стандартов, расчет доверительных интервалов. Обсуждены вопросы валидации методик, программного обеспечения и оборудования.

Наноиндустрия #8/2012
С.Голубев, В.Захарьин, Г.Мешков, Ю.Токунов, Д.Яминский, И.Яминский
Калибровка зондовых микроскопов. Динамическая мера "нанометр"

Динамическая мера "нанометр" – удобное средство измерений. Она позволяет осуществить калибровку СЗМ до начала и в процессе измерений. Предложены методика калибровки СЗМ и алгоритм статистической обработки данных.

Аналитика #2/2012
Крис Браун
Калибровка контрольных сит: это просто

Метод анализа, основанный на рассеве образцов – стандартная процедура для многих аналитических лабораторий научно-исследовательских институтов, вузов, на производстве. Необходимость сертификации в соответствии с международным стандартом ISO 9000 определяет повышенный интерес к улучшению качества испытаний, в том числе – методом рассева.

Аналитика #2/2012
Ю.Каламбет
Мифы внутреннего стандарта

Обсуждаются проблемы метода внутреннего стандарта, реализованного с помощью графика "отношение концентраций/отношение откликов". Приведен пример, когда при линейных зависимостях и точных измерениях метод дает ошибку определения концентрации. Показано, что "традиционное" решение и предложенный альтернативный подход дают эквивалентные результаты предсказания концентрации при прямо пропорциональных градуировках.

← 1 2

3