sitemap
Наш сайт использует cookies и Яндекс Метрику. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей
Политикой Конфиденциальности
Согласен
главная
eng
Поиск:
на сайте журнала
на всех сайтах РИЦ
Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
© 2001-2026
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта
R&W
ISSN 1992-4178(print)
ISSN 1992-4186(online)
Книги по электронике
Статьи
Электроника НТБ #6/2026
КОЛОНКА ДЕПАРТАМЕНТА РАДИОЭЛЕКТРОННОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ
Электроника НТБ #5/2026
ВСТУПИТЕЛЬНОЕ СЛОВО
Репортажи
//
все
Электроника НТБ #6/2026
ФОКУС НА СЛОЖНЫЕ ИЗДЕЛИЯ КАК КОНКУРЕНТНОЕ ПРЕИМУЩЕСТВО. ВИЗИТ НА ПРОИЗВОДСТВО ЗАО «НКТ»
Электроника НТБ #5/2026
ВИЗИТ НА ПРОИЗВОДСТВО АО «ХАКЕЛЬ» (БРЕНД «КЛЮЧЕВОЙ КОМПОНЕНТ»)
Новости
//
все новости
18.09.2026
Кардинально новый уровень развития отечественных безвентиляторных платформ: BLOK-S Rugged обновляются
18.09.2026
Предконференция №1 форума «Микроэлектроника 2026» успешно завершила работу
События
//
все события
до 21.10.2026
26-я Международная выставка оборудования для неразрушающего контроля NDT Russia 2026. г. Москва
c 19.10.2026 до 21.10.2026
23-я Международная выставка испытательного и контрольно-измерительного оборудования Testing&Control. г. Москва
Вход:
Ваш e-mail:
Пароль:
- запомнить меня
Регистрация
Забыли пароль?
Архив журнала:
2026
2025
2024
2023
2022
2021
2020
2019
2018
2017
2016
2015
2014
2013
2012
2011
2010
2009
2008
2007
2006
2005
2004
2003
2002
2001
2000
1999
1998
1997
1996
Медиаданные:
О журнале
Учредитель
Издатель
Редакционный совет
Распространение_
Редакционная политика:
Редакционная политика РИЦ «ТЕХНОСФЕРА»
Реклама:
Отдел рекламы
В журнале
На сайте
Авторам:
Соискателям учёной степени
Требования к статьям
Контакты:
Распространение
Адрес
Редакция
Журналы:
Электроника НТБ
Наноиндустрия
Первая миля
Фотоника
Аналитика
Станкоинструмент
Книги по электронике
читать книгу
Баланис Константин А., Иоанидес Панайотис И.
Введение в смарт-антенны /При поддержке ЗАО «Светлана- Электроприбор», пер. с англ. под ред. к.т.н. В.В. Попова
читать книгу
Дудкин В., Пахомов Л.
Квантовая электроника. Приборы и их применение
читать книгу
А.А. Алтухов. Под ред. П.П. Мальцева
Алмазы в микроэлектронике: от исследований к разработкам
Другие серии книг:
Мир электроники
Мир радиоэлектроники
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир химии
Мир наук о Земле
Мир материалов и технологий
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Библиотечка «КВАНТ»
Мир микроэлектроники
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир фотоники
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Тег "калибровка"
Фотоника #1/2014
Б.Форг, Ф.Германн, Д.Шифердеккер, И.Ленек, M.Шульц, M.Симон, K.Сторч, Ф.Фолклейн
Инфракрасные термопарные матрицы с улучшенным пространственными разрешением, чувствительностью и качеством изображения
Теплоизмерительные бесконтактные приборы широко используются на практике для обеспечения безопасности, предотвращения несанкционированного проникновения на объекты, выявления заболевших в массе людей. Однако какому из приборов – тепловизору на основе микроболометров или камере на основе ИК-матрицы – отдать предпочтение, решает потребитель.
Аналитика #6/2013
В.Копачевский, В.Бойков
Определение легких элементов (Li, Be, B) в стеклах с помощью анализатора LEA-S500
Определение элементного состава различных материалов – актуальная задача во многих областях научных исследований, производстве, диагностике, экологии, безопасности и т.д. Методов анализа много, каждый имеет свои достоинства и недостатки. В статье обсуждаются результаты определения элементного состава стекол с различным содержанием оксидов лазерным анализатором элементного состава LEA-S500 и преимущества метода LIBS при измерении легких элементов.
Наноиндустрия #5/2013
П.Тодуа, В.Гавриленко
Нанометрология – основа устойчивого развития нанотехнологий
Одна из ключевых задач нанометрологии – обеспечение единства измерений в нано - и субнанометровом диапазонах. Важнейшими параметрами, характеризующими наночастицы, наноструктуры, нанопокрытия являются размерные. В статье представлены новые типы кремниевых тест-объектов, обеспечивающих прослеживаемость методами растровой и просвечивающей электронной микроскопии, атомно-силовой микроскопии размерных измерений к единице длины в системе СИ.
Аналитика #2/2013
В.Копачевский, Д.Клемято, В.Бойков, Л.Боброва, М.Кривошеева
Анализ химического состава веществ и материалов в режиме он-лайн
Контроль элементного состава веществ и материалов в режиме реального времени на движущейся конвейерной ленте представляет огромный интерес с точки зрения получения информации для он-лайн управления технологическими процессами, сортировки продукции или исходных компонентов, контроля качества сырья и готовой продукции. Авторы рассматривают полностью автоматизированный лазерный анализатор элементного состава. Система может быть использована для контроля химического состава минеральных удобрений, угля, руды, кварцевого песка, глины, цемента, металлов, сплавов и многих других проб. Благодаря экономической эффективности применения анализатора в некоторых случаях удается достичь его полной окупаемости в течение нескольких месяцев. Один из примеров быстрой окупаемости – контроль содержания KCl в галургических калийных удобрениях. Уменьшение содержания KCl над номинальным значением в готовой продукции с 0,50 до 0,20 % позволяет окупить систему контроля за шесть месяцев.
Наноиндустрия #8/2012
С.Голубев, В.Захарьин, Г.Мешков, Ю.Токунов, Д.Яминский, И.Яминский
Калибровка зондовых микроскопов. Динамическая мера "нанометр"
Динамическая мера "нанометр" – удобное средство измерений. Она позволяет осуществить калибровку СЗМ до начала и в процессе измерений. Предложены методика калибровки СЗМ и алгоритм статистической обработки данных.
Аналитика #2/2012
Крис Браун
Калибровка контрольных сит: это просто
Метод анализа, основанный на рассеве образцов – стандартная процедура для многих аналитических лабораторий научно-исследовательских институтов, вузов, на производстве. Необходимость сертификации в соответствии с международным стандартом ISO 9000 определяет повышенный интерес к улучшению качества испытаний, в том числе – методом рассева.
←
1
2
3
Разработка: студия
Green Art