sitemap
Наш сайт использует cookies. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей
Политикой Конфиденциальности
Согласен
главная
eng
Поиск:
на сайте журнала
на всех сайтах РИЦ
Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
© 2001-2026
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта
R&W
ISSN 1992-4178(print)
ISSN 1992-4186(online)
Книги по электронике
Статьи
Электроника НТБ #1/2026
ПРОБЛЕМНЫЕ ВОПРОСЫ КОММЕРЦИАЛИЗАЦИИ И ВЫВОДА НА ГРАЖДАНСКИЙ РЫНОК ОТЕЧЕСТВЕННЫХ ПАССИВНЫХ КОМПОНЕНТОВ РАСШИРЕННОЕ ЗАСЕДАНИЕ ЭКСПЕРТНОГО СОВЕТА КОНСОРЦИУМА «ПАССИВНЫЕ ЭЛЕКТРОННЫЕ КОМПОНЕНТЫ»
Электроника НТБ #10/2025
Статьи и материалы, опубликованные в журнале «ЭЛЕКТРОНИКА: Наука, Технология, Бизнес» в 2025
Репортажи
//
все
Электроника НТБ #3/2025
ВИЗИТ НА ПР-ВО АО «КРАСНОЗНАМЕНСКИЙ ЗАВОД ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ «АРСЕНАЛ»
Электроника НТБ #10/2024
ЛОКАЛИЗАЦИЯ ПРОИЗВОДСТВА ОБОРУДОВАНИЯ. ВИЗИТ НА ПРОИЗВОДСТВО ООО «ПРОТЕХ»
Новости
//
все новости
13.02.2026
РИММ-2026: релиз второго дня форума
13.02.2026
РИММ-2026: релиз первого дня форума
События
//
все события
c 12.03.2026 до 13.03.2026
Форум «Безопасность ТЭК» 2026: Робототехника и искусственный интеллект для цифровой трансформации ТЭК. г. Москва
c 24.03.2026 до 25.03.2026
XXVII Сибирский промышленно-инновационном форум «ПРОМТЕХЭКСПО». г. Омск
Вход:
Ваш e-mail:
Пароль:
- запомнить меня
Регистрация
Забыли пароль?
Архив журнала:
2026
2025
2024
2023
2022
2021
2020
2019
2018
2017
2016
2015
2014
2013
2012
2011
2010
2009
2008
2007
2006
2005
2004
2003
2002
2001
2000
1999
1998
1997
1996
Медиаданные:
О журнале
Учредитель
Издатель
Редакционный совет
Распространение_
Редакционная политика:
Редакционная политика РИЦ «ТЕХНОСФЕРА»
Реклама:
Отдел рекламы
В журнале
На сайте
Авторам:
Соискателям учёной степени
Требования к статьям
Контакты:
Распространение
Адрес
Редакция
Журналы:
Электроника НТБ
Наноиндустрия
Первая миля
Фотоника
Аналитика
Станкоинструмент
Книги по электронике
читать книгу
Пис Р.А.
Обнаружение неисправностей в аналоговых схемах
читать книгу
Белоус А.И., Ефименко С. А., Солодуха В. А., Пилипенко В.А.
Основы силовой электроники
читать книгу
Гуртов В.
Твердотельная электроника: Учебное пособие. Изд 3-е, доп.
Другие серии книг:
Мир электроники
Мир радиоэлектроники
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир химии
Мир наук о Земле
Мир материалов и технологий
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Библиотечка «КВАНТ»
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир фотоники
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Тег "калибровка"
Аналитика #6/2013
В.Копачевский, В.Бойков
Определение легких элементов (Li, Be, B) в стеклах с помощью анализатора LEA-S500
Определение элементного состава различных материалов – актуальная задача во многих областях научных исследований, производстве, диагностике, экологии, безопасности и т.д. Методов анализа много, каждый имеет свои достоинства и недостатки. В статье обсуждаются результаты определения элементного состава стекол с различным содержанием оксидов лазерным анализатором элементного состава LEA-S500 и преимущества метода LIBS при измерении легких элементов.
Наноиндустрия #5/2013
П.Тодуа, В.Гавриленко
Нанометрология – основа устойчивого развития нанотехнологий
Одна из ключевых задач нанометрологии – обеспечение единства измерений в нано - и субнанометровом диапазонах. Важнейшими параметрами, характеризующими наночастицы, наноструктуры, нанопокрытия являются размерные. В статье представлены новые типы кремниевых тест-объектов, обеспечивающих прослеживаемость методами растровой и просвечивающей электронной микроскопии, атомно-силовой микроскопии размерных измерений к единице длины в системе СИ.
Аналитика #2/2013
В.Копачевский, Д.Клемято, В.Бойков, Л.Боброва, М.Кривошеева
Анализ химического состава веществ и материалов в режиме он-лайн
Контроль элементного состава веществ и материалов в режиме реального времени на движущейся конвейерной ленте представляет огромный интерес с точки зрения получения информации для он-лайн управления технологическими процессами, сортировки продукции или исходных компонентов, контроля качества сырья и готовой продукции. Авторы рассматривают полностью автоматизированный лазерный анализатор элементного состава. Система может быть использована для контроля химического состава минеральных удобрений, угля, руды, кварцевого песка, глины, цемента, металлов, сплавов и многих других проб. Благодаря экономической эффективности применения анализатора в некоторых случаях удается достичь его полной окупаемости в течение нескольких месяцев. Один из примеров быстрой окупаемости – контроль содержания KCl в галургических калийных удобрениях. Уменьшение содержания KCl над номинальным значением в готовой продукции с 0,50 до 0,20 % позволяет окупить систему контроля за шесть месяцев.
Наноиндустрия #8/2012
С.Голубев, В.Захарьин, Г.Мешков, Ю.Токунов, Д.Яминский, И.Яминский
Калибровка зондовых микроскопов. Динамическая мера "нанометр"
Динамическая мера "нанометр" – удобное средство измерений. Она позволяет осуществить калибровку СЗМ до начала и в процессе измерений. Предложены методика калибровки СЗМ и алгоритм статистической обработки данных.
Аналитика #2/2012
Крис Браун
Калибровка контрольных сит: это просто
Метод анализа, основанный на рассеве образцов – стандартная процедура для многих аналитических лабораторий научно-исследовательских институтов, вузов, на производстве. Необходимость сертификации в соответствии с международным стандартом ISO 9000 определяет повышенный интерес к улучшению качества испытаний, в том числе – методом рассева.
←
1
2
3
Разработка: студия
Green Art