sitemap
Наш сайт использует cookies. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей
Политикой Конфиденциальности
Согласен
главная
eng
Поиск:
на сайте журнала
на всех сайтах РИЦ
Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта
R&W
ISSN 1992-4178(print)
ISSN 1992-4186(online)
Книги по электронике
Статьи
Электроника НТБ #8/2025
Колонка Департамента радиоэлектронной промышленности
Электроника НТБ #6/2025
КОЛОНКА ДЕПАРТАМЕНТА РАДИОЭЛЕКТРОННОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ
Репортажи
//
все
Электроника НТБ #3/2025
ВИЗИТ НА ПР-ВО АО «КРАСНОЗНАМЕНСКИЙ ЗАВОД ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ «АРСЕНАЛ»
Электроника НТБ #10/2024
ЛОКАЛИЗАЦИЯ ПРОИЗВОДСТВА ОБОРУДОВАНИЯ. ВИЗИТ НА ПРОИЗВОДСТВО ООО «ПРОТЕХ»
Новости
//
все новости
31.10.2025
Опубликована деловая программа выставки-форума «Электроника России» 2025
28.10.2025
Международная выставка «Интерполитех» стартовала в Москве
События
//
все события
до 31.10.2025
Международный форум-выставка «Российский промышленник - 2025». г.Санкт- Петербург
c 25.11.2025 до 27.11.2025
4-я Международная выставка-форум «Электроника России». г. Москва, МВЦ «Крокус Экспо»
Вход:
Ваш e-mail:
Пароль:
- запомнить меня
Регистрация
Забыли пароль?
Архив журнала:
2025
2024
2023
2022
2021
2020
2019
2018
2017
2016
2015
2014
2013
2012
2011
2010
2009
2008
2007
2006
2005
2004
2003
2002
2001
2000
1999
1998
1997
1996
Медиаданные:
О журнале
Учредитель
Издатель
Редакционный совет
Распространение_
Редакционная политика:
Редакционная политика РИЦ «ТЕХНОСФЕРА»
Реклама:
Отдел рекламы
В журнале
На сайте
Авторам:
Соискателям учёной степени
Требования к статьям
Контакты:
Распространение
Адрес
Редакция
Журналы:
Электроника НТБ
Наноиндустрия
Первая миля
Фотоника
Аналитика
Станкоинструмент
Книги по электронике
читать книгу
Под общ. ред. академика РАН А.Н. Саурова
Микросхемы для аппаратуры космического назначения. Практическое пособие. Издание 2-е, испр. и доп.
читать книгу
Фрейдин Я.
Современные датчики. Справочник
читать книгу
Эйкхофф Йенс
Бортовые компьютеры, программное обеспечение и полетные операции. Введение /При поддержке ЗАО НТЦ «Модуль» перевод с англ. под ред. к.э.н. А.А. Адамова
Другие серии книг:
Мир электроники
Мир радиоэлектроники
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир химии
Мир наук о Земле
Мир материалов и технологий
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Библиотечка «КВАНТ»
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир фотоники
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Тег "standardization"
Электроника НТБ #10/2022
В. Быканов, М. Есакова, А. Тупицина
ИЗМЕРЕНИЕ ПАРАМЕТРОВ ЭКБ. КОНЦЕПТУАЛЬНЫЕ ОСНОВЫ УСТАНОВЛЕНИЯ И РЕАЛИЗАЦИИ ОБЯЗАТЕЛЬНЫХ МЕТРОЛОГИЧЕСКИХ ТРЕБОВАНИЙ
DOI: 10.22184/1992-4178.2022.221.10.38.42 Рассматриваются вопросы, касающиеся модернизации отраслевой системы стандартов по ключевому направлению метрологического обеспечения процессов жизненного цикла изделий радиоэлектроники.
Электроника НТБ #8/2022
Д. Красовицкий, А. Филаретов, В. Чалый
НИТРИДНАЯ МОЩНАЯ СВЧ-ЭЛЕКТРОНИКА В РОССИИ: НАУКА ПЕРЕХОДА ОТ ТЕХНОЛОГИИ К БИЗНЕСУ
DOI: 10.22184/1992-4178.2022.219.8.68.74 Обсуждается проблематика внедрения в массовое производство отечественных разработок мощной СВЧ ЭКБ на основе нитрида галлия. Рассмотрены основные задачи, решение которых необходимо для восполнения дефицита мощной СВЧ ЭКБ на основе нитрида галлия в условиях усилившегося санкционного давления на радиоэлектронную отрасль.
Электроника НТБ #7/2019
М. Макушин, А. Фомина
ПРОБЛЕМЫ РАЗВИТИЯ МИКРОЭЛЕКТРОНИКИ КНР И ТАЙВАНЯ
Тайваньские фирмы, активно осваивавшие рынок КНР и открывавшие в «Поднебесной» свои филиалы, сегодня сталкиваются с растущей конкурентоспособностью китайских фирм и давлением властей, вынуждены возвращаться на остров. КНР же продолжает реализовывать амбициозные планы по достижению самообеспеченности современной ЭКБ, наращивает производство микро- и радиоэлектроники.
Фотоника #3/2019
Б. Н. Рахманов, В. И. Кезик, В. Т. Кибовский, С. В. Тихомиров
Расчетные методы оценки степени опасности многоволнового лазерного излучения
Лазерные изделия, генерирующие лазерное излучение одновременно на нескольких длинах волн, широко используются как в гражданской, так и военной сферах деятельности. Гигиеническое нормирование многоволнового лазерного излучения имеет свою специфику. Формулы для вычисления предельно допустимых уровней излучения, регламентированные в отечественных нормативных документах по лазерной безопасности, недостаточно корректны. В статье приведены доказательства необходимости внесения изменений в действующие документы по лазерной безопасности. DOI: 10.22184/1993-7296.FRos.2019.13.3.296.307
Фотоника #2/2019
Н. Ю. Малькова, В. С. Лугиня
Проблемы технического регулирования в области фотоники
Статья посвящена проблеме технического регулирования в области лазерной и светодиодной техники. Рассмотрены существующие документы в области стандартизации лазерной безопасности. Приведены противоречия существующих схем классификации лазерных изделий по классу опасности. На основе анализа результатов исследований отдельных светодиодов показана необходимость проведения дополнительных исследований светодиодов, а также включения в нормативную базу требований не только к лазерным изделиям, но и к светодиодам. Даны предложения по формированию Федеральной целевой программы и по проведению исследований в рамках такой программы. DOI: 10.22184/1993-7296.FRos.2019.13.2.208.213
Наноиндустрия #1/2019
Д.Ю.Соколов
Новые правила составления заявок на изобретения
В статье рассмотрены изменения в правилах по составлению заявок на изобретения, отмечено, что упростило, а что усложнило эти работы, а также показано, как решать новые проблемы. Подробно рассмотрены наиболее важные положения Правил, касающиеся составления заявок на изобретения. По каждому положению приведены разъяснения и даны советы по наилучшему заполнению этих разделов. Особое внимание уделено разъяснению сущности раздела "Раскрытие сущности изобретения", "Осуществление изобретения" и "Требования к формуле изобретения". DOI: 10.22184/1993-8578.2019.12.1.60.63
Фотоника #4/2018
А. Г. Сухов, С. М. Шанчуров, М. М. Малыш, Л. Б. Жирнова
Стандартизация технологических процессов обработки металлов с применением лазерного излучения: современное состояние, проблемы, задачи
Отставание отечественной индустрии вызвано медлительностью внедрения лазерных технологий в промышленность. Причина кроется в отсутствии стандартов на технологические процессы сварки, резки, наплавки, термической обработки, маркировки, очистки поверхности металлических материалов, стандартов на термины и определения, касающихся процессов лазерной обработки материалов. Для исправления сложившейся ситуации создана программа на 2019–2023 годы по разработке национальных стандартов на технологические процессы и терминологию лазерной обработки металлов. DOI: 10.22184/1993-7296.2018.72.4.376.382
Электроника НТБ #4/2018
М. Макушин
Интеллектуальные производства и технологии как условия решения проблем с оборудованием по мере масштабирования ИС
По мере масштабирования ИС усугубляются проблемы, связанные с использованием производственного оборудования, – выход годных, изменение параметров процесса и аппаратуры, сопряжение устройств различных поставщиков. Использование искусственного интеллекта и создание соответствующих умных производств – один из путей преодоления подобных проблем. УДК 621.37 | ВАК 05.27.06 DOI: 10.22184/1992-4178.2018.175.4.132.142
Наноиндустрия #3/2018
В.Лучинин, И.Хмельницкий
Международная нормативно-методическая база обеспечения безопасности в сфере наноиндустрии
Представлен анализ современного состояния нормативно-методического обеспечения безопасности процессов и продукции наноиндустрии за рубежом. Рассмотрены некоторые вопросы стандартизации применительно к наноиндустрии США, Евросоюза и Китая. Обобщены результаты разработки международными организациями (ISO, IEC и др.) стандартов в области безопасности нанотехнологий. Особое внимание уделено рассмотрению стандартов ISO. УДК 504.75; ВАК 05.02.23; DOI: 10.22184/1993-8578.2018.83.3.250.266
Наноиндустрия #4/2016
А.Ахметова, Г.Мешков, О.Синицына, И.Яминский
Метрологическое обеспечение в бионаноскопии
Сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ) успешно переходит из научно-исследовательской области в сектор реальных производственных технологий. В связи с этим существенно повышается роль метрологического сопровождения инструментария СЗМ. DOI:10.22184/1993-8578.2016.66.4.36.39
1
2
→
Разработка: студия
Green Art