sitemap
Наш сайт использует cookies и Яндекс Метрику. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей
Политикой Конфиденциальности
Согласен
главная
eng
Поиск:
на сайте журнала
на всех сайтах РИЦ
Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
© 2001-2026
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта
R&W
ISSN 1992-4178(print)
ISSN 1992-4186(online)
Книги по электронике
Статьи
Электроника НТБ #3/2026
КОЛОНКА ДЕПАРТАМЕНТА РАДИОЭЛЕКТРОННОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ
Электроника НТБ #2/2026
30 ЛЕТ ЭЛЕКТРОНИКИ ЮБИЛЕЙ ЖУРНАЛА «ЭЛЕКТРОНИКА: НАУКА, ТЕХНОЛОГИЯ, БИЗНЕС»
Репортажи
//
все
Электроника НТБ #5/2026
ВИЗИТ НА ПРОИЗВОДСТВО АО «ХАКЕЛЬ» (БРЕНД «КЛЮЧЕВОЙ КОМПОНЕНТ»)
Электроника НТБ #4/2026
БЕРЕЖЛИВОЕ ПРОИЗВОДСТВО И АВТОМАТИЗАЦИЯ В ПРИБОРОСТРОЕНИИ НА ПРАКТИКЕ. ВИЗИТ НА ПРОИЗВОДСТВО ООО «ПРОМЭНЕРГО»
Новости
//
все новости
17.06.2026
В фокусе внимания – ускорение развития электронного машиностроения
16.06.2026
Конференция «Электронное машиностроение-2026» стартовала в Минске
События
//
все события
до 21.10.2026
26-я Международная выставка оборудования для неразрушающего контроля NDT Russia 2026. г. Москва
c 08.09.2026 до 10.09.2026
III Международный технологический конгресс и выставка ТЕХНОЛОГИИ. Московская область, Патриот Экспо
Вход:
Ваш e-mail:
Пароль:
- запомнить меня
Регистрация
Забыли пароль?
Архив журнала:
2026
2025
2024
2023
2022
2021
2020
2019
2018
2017
2016
2015
2014
2013
2012
2011
2010
2009
2008
2007
2006
2005
2004
2003
2002
2001
2000
1999
1998
1997
1996
Медиаданные:
О журнале
Учредитель
Издатель
Редакционный совет
Распространение_
Редакционная политика:
Редакционная политика РИЦ «ТЕХНОСФЕРА»
Реклама:
Отдел рекламы
В журнале
На сайте
Авторам:
Соискателям учёной степени
Требования к статьям
Контакты:
Распространение
Адрес
Редакция
Журналы:
Электроника НТБ
Наноиндустрия
Первая миля
Фотоника
Аналитика
Станкоинструмент
Книги по электронике
читать книгу
Ермаков О.Н.
Прикладная оптоэлектроника
читать книгу
Джуринский К.Б.
Миниатюрные коаксиальные радиокомпоненты для микроэлектроники СВЧ
читать книгу
Автор-составитель Б.М. Малашевич
Давлет Исламович Юдицкий. Сборник статей. Созидатели отечественной электроники. Вып. 2
Другие серии книг:
Мир электроники
Мир радиоэлектроники
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир химии
Мир наук о Земле
Мир материалов и технологий
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Библиотечка «КВАНТ»
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир фотоники
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Тег "standardization"
Электроника НТБ #4/2018
М. Макушин
Интеллектуальные производства и технологии как условия решения проблем с оборудованием по мере масштабирования ИС
По мере масштабирования ИС усугубляются проблемы, связанные с использованием производственного оборудования, – выход годных, изменение параметров процесса и аппаратуры, сопряжение устройств различных поставщиков. Использование искусственного интеллекта и создание соответствующих умных производств – один из путей преодоления подобных проблем. УДК 621.37 | ВАК 05.27.06 DOI: 10.22184/1992-4178.2018.175.4.132.142
Наноиндустрия #3/2018
В.Лучинин, И.Хмельницкий
Международная нормативно-методическая база обеспечения безопасности в сфере наноиндустрии
Представлен анализ современного состояния нормативно-методического обеспечения безопасности процессов и продукции наноиндустрии за рубежом. Рассмотрены некоторые вопросы стандартизации применительно к наноиндустрии США, Евросоюза и Китая. Обобщены результаты разработки международными организациями (ISO, IEC и др.) стандартов в области безопасности нанотехнологий. Особое внимание уделено рассмотрению стандартов ISO. УДК 504.75; ВАК 05.02.23; DOI: 10.22184/1993-8578.2018.83.3.250.266
Наноиндустрия #4/2016
А.Ахметова, Г.Мешков, О.Синицына, И.Яминский
Метрологическое обеспечение в бионаноскопии
Сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ) успешно переходит из научно-исследовательской области в сектор реальных производственных технологий. В связи с этим существенно повышается роль метрологического сопровождения инструментария СЗМ. DOI:10.22184/1993-8578.2016.66.4.36.39
Станкоинструмент #2/2016
В. ГРИШИН
Нормативно-методическое обеспечение станочного парка при импортозамещении
Рассмотрены проблемы и способы реализации процесса модернизации устаревшей отраслевой нормативно-технической базы и ее гармонизации с современными международными аналогами.
Станкоинструмент #1/2016
Г.Боровский, Н.Минаева, Е.Пашинина
О стандартизации инструментов
Представлена работа ОАО «ВНИИИНСТРУМЕНТ» и Технического комитета по стандартизации ТК 95 «Инструмент» в области стандартизации металлорежущего, дереворежущего, слесарномонтажного, абразивного и алмазного инструмента.
Наноиндустрия #7/2015
А.Усеинов, В.Решетов, И.Маслеников, К.Кравчук
ISO – это просто!
В 2002 году Международной организацией по стандартизации был принят стандарт ISO 14577, который регламентировал измерение твердости и ряда других механических характеристик методом инструментального индентирования. Рассмотрим историю и перспективы развития этого стандарта, а также реализацию его методик на практике. DOI:10.22184/1993-8578.2015.61.7.52.60
Аналитика #2/2012
К.Сычев
Оформление методик высокоэффективной жидкостной хроматографии (ВЭЖХ) в соответствии с международными рекомендациями
Статья посвящена одному из наиболее дискусионных вопросов в современной аналитике – стандартизации/валидации методик. Автор излагает свой подход к этой весьма актуальной проблеме. Предложен удобный шаблон для оформления ВЭЖХ-методик на русском языке, составленный в соответствии с рекомендациями CIPAC, рассмотрен ряд наиболее спорных вопросов оформления методик.
←
1
2
Разработка: студия
Green Art