sitemap
Наш сайт использует cookies. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей
Политикой Конфиденциальности
Согласен
главная
eng
Поиск:
на сайте журнала
на всех сайтах РИЦ
Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта
R&W
ISSN 1992-4178(print)
ISSN 1992-4186(online)
Книги по электронике
Статьи
Электроника НТБ #8/2025
Колонка Департамента радиоэлектронной промышленности
Электроника НТБ #6/2025
КОЛОНКА ДЕПАРТАМЕНТА РАДИОЭЛЕКТРОННОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ
Репортажи
//
все
Электроника НТБ #3/2025
ВИЗИТ НА ПР-ВО АО «КРАСНОЗНАМЕНСКИЙ ЗАВОД ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ «АРСЕНАЛ»
Электроника НТБ #10/2024
ЛОКАЛИЗАЦИЯ ПРОИЗВОДСТВА ОБОРУДОВАНИЯ. ВИЗИТ НА ПРОИЗВОДСТВО ООО «ПРОТЕХ»
Новости
//
все новости
31.10.2025
Опубликована деловая программа выставки-форума «Электроника России» 2025
28.10.2025
Международная выставка «Интерполитех» стартовала в Москве
События
//
все события
c 25.11.2025 до 27.11.2025
4-я Международная выставка-форум «Электроника России». г. Москва, МВЦ «Крокус Экспо»
c 24.03.2026 до 25.03.2026
XXVII Сибирский промышленно-инновационном форум «ПРОМТЕХЭКСПО». г. Омск
Вход:
Ваш e-mail:
Пароль:
- запомнить меня
Регистрация
Забыли пароль?
Архив журнала:
2025
2024
2023
2022
2021
2020
2019
2018
2017
2016
2015
2014
2013
2012
2011
2010
2009
2008
2007
2006
2005
2004
2003
2002
2001
2000
1999
1998
1997
1996
Медиаданные:
О журнале
Учредитель
Издатель
Редакционный совет
Распространение_
Редакционная политика:
Редакционная политика РИЦ «ТЕХНОСФЕРА»
Реклама:
Отдел рекламы
В журнале
На сайте
Авторам:
Соискателям учёной степени
Требования к статьям
Контакты:
Распространение
Адрес
Редакция
Журналы:
Электроника НТБ
Наноиндустрия
Первая миля
Фотоника
Аналитика
Станкоинструмент
Книги по электронике
читать книгу
Джоэль П. Дансмор
Настольная книга инженера. Измерения параметров СВЧ-устройств с использованием передовых методик векторного анализа цепей
читать книгу
Музылева И.В.
Элементная база для построения цифровых систем управления
читать книгу
Сечи Ф., Буджатти М.
Мощные твердотельные СВЧ-усилители /При поддержке АО «НПП» «Исток» имени А.И. Шокина перевод с англ. под ред. д.т.н. А.А. Борисова
Другие серии книг:
Мир электроники
Мир радиоэлектроники
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир химии
Мир наук о Земле
Мир материалов и технологий
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Библиотечка «КВАНТ»
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир фотоники
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Тег "gate array"
Наноиндустрия #1/2017
Ю.Московская, Р.Федоров, А.Денисов, Д.Бобровский, А.Уланова, А.Никифоров
Состав и принцип формирования типовой оценочной схемы как имитатора БМК и полузаказных БИС на их основе для задач радиационных испытаний
Проанализированы основные особенности и недостатки существующей системы обеспечения требований радиационной стойкости для полузаказных БИС на основе БМК путем разработки и испытаний типовой оценочной схемы (ТОС). Предложено включать в состав ТОС все базовые библиотечные элементы. Предлагается максимально унифицировать ТОС для задач характеризации БМК и контроля партий пластин, анализа особенностей контроля стабильности техпроцесса и оценки радиационной стойкости рабочих зашивок по результатам испытаний ТОС. DOI:10.22184/1993-8578.2017.71.1.60.69
Наноиндустрия #1/2017
Ю.Московская
Общий методический подход к оценке радиационной стойкости БМК и полузаказных БИС на их основе
Разработан и обоснован общий методический подход к оценке радиационной стойкости БМК и полузаказных БИС на их основе. Проанализированы основные особенности БИС на БМК в части задач обеспечения и оценки их радиационной стойкости, обобщены доминирующие радиационные эффекты в БИС на БМК. DOI:10.22184/1993-8578.2017.71.1.50.59
Наноиндустрия #1/2017
П.Волобуев
Синтезатор частот для базового кристалла серии 5521
Рассмотрен сложно-функциональный блок синтезатора частот, который предназначен для применения в составе микросхем, разрабатываемых на основе базовых кристаллов серии 5521. Описана его структура, особенности отдельных функциональных блоков. DOI:10.22184/1993-8578.2017.71.1.42.49
Наноиндустрия #8/2016
А.Денисов, В.Коняхин
Перспективная элементная база для аппаратуры с жесткими условиями эксплуатации
Рассмотрены особенности базовых матричных и базовых кристаллов как основы для реализации специализированных микросхем. Представлены современные серии базовых кристаллов 5521 и 5529, а также БМК малой степени интеграции серий 5503 и 5507. DOI:10.22184/1993-8578.2016.70.8.22.31
Наноиндустрия #7/2016
Д.Мамонов
Микросхема управления матричными буквенно-цифровыми LED-дисплеями (7 × 5)
Рассматриваются особенности проектирования радиационно-стойкой микросхемы 5521ТР034-726 управления восемью матричными буквенно-цифровыми дисплеями (7 × 5) на основе БК серии 5521. DOI:10.22184/1993-8578.2016.69.7.52.58
Наноиндустрия #7/2016
А.Лукьянов, Р.Фёдоров
Микросхема цифровой гальванической развязки
На основе унифицированной библиотеки ячеек серии БК 5521 показана разработка микросхемы двухканальной трансформаторной гальванической развязки, приводится описание основных блоков и принципов работы. DOI:10.22184/1993-8578.2016.69.7.42.47
Наноиндустрия #7/2016
Н.Малашевич
Ячейка ОЗУ, устойчивая к воздействию внешних факторов
Показана возможность реализации блоков однопортовых и двухпортовых оперативных запоминающих устройств (ОЗУ) повышенной стойкости к внешним факторам для базовых кристаллов (БК) серий 5521 и 5529. Рассмотрена ячейка памяти ОЗУ. DOI:10.22184/1993-8578.2016.69.7.26.31
Электроника НТБ #9/2015
Ю.Завалин, В.Немудров, А.Гришаков, Д.Куликов
Полузаказные СнК – основа мелкосерийного производства СБИС специального назначения
Рассматриваются полузаказные СБИС на основе базовых матричных кристаллов (БМК), разработанные в АО “НИИМА “Прогресс”. Отмечены преимущества их использования в отечественной электронной компонентной базе по сравнению с решениями на основе ПЛИС и заказных специализированных СБИС.
Разработка: студия
Green Art