DOI: 10.22184/1992-4178.2022.216.5.78.82

Рассматривается проект по созданию автоматической камеры для испытаний полупроводниковых приборов и интегральных микросхем на тепловой удар, выполняемый АО «НИИЭТ». Обосновывается актуальность данной разработки, приводятся технические характеристики и преимущества разрабатываемой установки перед зарубежными аналогами.

sitemap

Разработка: студия Green Art