eng
Просмотры: 123
10.09.2025
В Москве состоялось обсуждение актуальных исследований и разработок в области экстремальной электроники и электронного машиностроения. Мероприятие собрало ведущих учёных и представителей электронной промышленности.
8 сентября 2025 года начала работу Предконференция №1 «Доверенная и экстремальная электроника» Российского форума «Микроэлектроника 2025». Мероприятие проводится в Москве на базе Консорциума НИЯУ МИФИ – АО «ЭНПО СПЭЛС». Координаторами предконференции выступили заместитель директора ЦЭПЭ НИЯУ МИФИ Александр Никифоров и заместитель директора АИЦ ИБСЗИ НИЯУ МИФИ Леонид Кессаринский.
Открыл предконференцию Председатель Программного комитета Российского форума «Микроэлектроника 2025», руководитель приоритетного технологического направления «Электронные технологии» РФ, академик РАН Геннадий Красников. В своём приветственном слове он отметил, что XI Российский форум «Микроэлектроника 2025» в этом году соберёт более 4 тыс. участников. По традиции, в рамках Форума состоятся три крупных мероприятия: научная конференция, где ожидается более 1000 научных докладов, выставка, где будут принимать участие более 130 профильных организаций, и деловая программа, посвящённая обсуждению актуальных проблем отрасли. Результаты работы Предконференции №1 войдут в итоговое решение Форума и будут способствовать развитию отрасли как важнейшей опоры экономики государства.
В своём обзорном докладе Александр Никифоров обосновал концепцию доверенной ЭКБ для регулируемых рынков критической информационной инфраструктуры (КИИ) как, возможно, новой категории по качеству и безопасности в дополнение к существующим категориям ЭКБ специального и народнохозяйственного назначений, а также предложил трёхмерную матрицу обеспечения и оценки доверенности ЭКБ. Доверенные изделия ЭКБ определены как изделия с подтверждённым соответствием требованиям по качеству (работоспособности, надёжности и стойкости к режимам работы и условиям эксплуатации) и безопасности (информационной, технологической и функциональной). Высокая сложность современных микросхем, наличие встроенного программного обеспечения во многих случаях не позволяют достоверно и информативно определить соответствие изделий заданным требованиям сценария применения исключительно по результатам испытаний «чёрного ящика». В этих случаях необходимо дополнить полученную информацию об изделиях информацией о процессах и субъектах жизненного цикла изделий ЭКБ, что в совокупности позволит обеспечить доверие потребителей.
Программа первого дня была посвящена двум тематическим блокам: «Экстремальная электроника» (модератор – Георгий Чуков, Консорциум «ДЭЭС» НИЯУ МИФИ – АО «ЭНПО СПЭЛС») и «Технологическое и контрольно-измерительное оборудование» (модератор – Анастасия Уланова, Консорциум «ДЭЭС» НИЯУ МИФИ – АО «ЭНПО СПЭЛС»). Обсуждались радиационные эффекты в современных изделиях ЭКБ и вопросы радиационной стойкости, в том числе особенности проектирования радиационно-стойких и сбоеустойчивых микросхем, испытания на стойкость электронных модулей. Были затронуты аспекты развития электронного машиностроения, производства функциональных материалов для микроэлектроники, а также проблемы разработки современных средств измерений, обеспечения эталонной базы и вопросы нормативного регулирования.
Евгений Кульченков, ведущий инженер ДЦ «Силовая электроника и интегральные технологии», рассказал о совместном проекте БГТУ и АО «Группа Кремний ЭЛ», в рамках которого было налажено серийное производство сдвоенного микромощного компаратора напряжения и операционного усилителя. Кроме того, докладчик поделился опытом исследования радиационной стойкости разработанных изделий.
Инженер-исследователь АО «НИИП» Артём Шарапов описал возможности лазерного испытательного оборудования для определения чувствительности полупроводниковых приборов к воздействию ионизирующего излучения. В частности, были рассмотрены особенности применения установки с перестраиваемой длительностью импульса и установки сфокусированного лазерного излучения в условиях использования обновлённых стандартов.
Директор дивизиона измерительного оборудования АО «Нанотроника» (ГК «Элемент») Константин Горовой в своём докладе представил обзор стратегических подходов и статусов разработки линейки метрологического оборудования для технологических норм 90 нм.
На мероприятии прозвучали и другие, не менее содержательные, выступления. Кроме того, в перерыве между заседаниями тематических блоков состоялась презентация книги Чумакова А.И., д. т. н, проф., заместителя директора Центра экстремальной прикладной электроники НИЯУ МИФИ «Радиационные эффекты в интегральных схемах», выпущенной АО «РИЦ «ТЕХНОСФЕРА».
По окончании докладов Александр Никифоров поблагодарил всех участников Предконференции №1 «Доверенная и экстремальная электроника» за плодотворную работу и важные идеи, высказанные в ходе дискуссии.
Открыл предконференцию Председатель Программного комитета Российского форума «Микроэлектроника 2025», руководитель приоритетного технологического направления «Электронные технологии» РФ, академик РАН Геннадий Красников. В своём приветственном слове он отметил, что XI Российский форум «Микроэлектроника 2025» в этом году соберёт более 4 тыс. участников. По традиции, в рамках Форума состоятся три крупных мероприятия: научная конференция, где ожидается более 1000 научных докладов, выставка, где будут принимать участие более 130 профильных организаций, и деловая программа, посвящённая обсуждению актуальных проблем отрасли. Результаты работы Предконференции №1 войдут в итоговое решение Форума и будут способствовать развитию отрасли как важнейшей опоры экономики государства.
В своём обзорном докладе Александр Никифоров обосновал концепцию доверенной ЭКБ для регулируемых рынков критической информационной инфраструктуры (КИИ) как, возможно, новой категории по качеству и безопасности в дополнение к существующим категориям ЭКБ специального и народнохозяйственного назначений, а также предложил трёхмерную матрицу обеспечения и оценки доверенности ЭКБ. Доверенные изделия ЭКБ определены как изделия с подтверждённым соответствием требованиям по качеству (работоспособности, надёжности и стойкости к режимам работы и условиям эксплуатации) и безопасности (информационной, технологической и функциональной). Высокая сложность современных микросхем, наличие встроенного программного обеспечения во многих случаях не позволяют достоверно и информативно определить соответствие изделий заданным требованиям сценария применения исключительно по результатам испытаний «чёрного ящика». В этих случаях необходимо дополнить полученную информацию об изделиях информацией о процессах и субъектах жизненного цикла изделий ЭКБ, что в совокупности позволит обеспечить доверие потребителей.
Программа первого дня была посвящена двум тематическим блокам: «Экстремальная электроника» (модератор – Георгий Чуков, Консорциум «ДЭЭС» НИЯУ МИФИ – АО «ЭНПО СПЭЛС») и «Технологическое и контрольно-измерительное оборудование» (модератор – Анастасия Уланова, Консорциум «ДЭЭС» НИЯУ МИФИ – АО «ЭНПО СПЭЛС»). Обсуждались радиационные эффекты в современных изделиях ЭКБ и вопросы радиационной стойкости, в том числе особенности проектирования радиационно-стойких и сбоеустойчивых микросхем, испытания на стойкость электронных модулей. Были затронуты аспекты развития электронного машиностроения, производства функциональных материалов для микроэлектроники, а также проблемы разработки современных средств измерений, обеспечения эталонной базы и вопросы нормативного регулирования.
Евгений Кульченков, ведущий инженер ДЦ «Силовая электроника и интегральные технологии», рассказал о совместном проекте БГТУ и АО «Группа Кремний ЭЛ», в рамках которого было налажено серийное производство сдвоенного микромощного компаратора напряжения и операционного усилителя. Кроме того, докладчик поделился опытом исследования радиационной стойкости разработанных изделий.
Инженер-исследователь АО «НИИП» Артём Шарапов описал возможности лазерного испытательного оборудования для определения чувствительности полупроводниковых приборов к воздействию ионизирующего излучения. В частности, были рассмотрены особенности применения установки с перестраиваемой длительностью импульса и установки сфокусированного лазерного излучения в условиях использования обновлённых стандартов.
Директор дивизиона измерительного оборудования АО «Нанотроника» (ГК «Элемент») Константин Горовой в своём докладе представил обзор стратегических подходов и статусов разработки линейки метрологического оборудования для технологических норм 90 нм.
На мероприятии прозвучали и другие, не менее содержательные, выступления. Кроме того, в перерыве между заседаниями тематических блоков состоялась презентация книги Чумакова А.И., д. т. н, проф., заместителя директора Центра экстремальной прикладной электроники НИЯУ МИФИ «Радиационные эффекты в интегральных схемах», выпущенной АО «РИЦ «ТЕХНОСФЕРА».
По окончании докладов Александр Никифоров поблагодарил всех участников Предконференции №1 «Доверенная и экстремальная электроника» за плодотворную работу и важные идеи, высказанные в ходе дискуссии.
Комментарии читателей
