Электроника НТБ #1/2022
А. Строгонов, М. Белых, Д. Пермяков
АНАЛИЗ МЕТОДОВ РАСЧЕТА ЭКСПЛУАТАЦИОННОЙ ИНТЕНСИВНОСТИ ОТКАЗОВ БИС DOI: 10.22184/1992-4178.2022.212.1.122.129 Наиболее популярные в России руководства для прогнозирования интенсивности отказов радиоэлектронных систем – справочник Министерства обороны США MIL-HDBK-217F и отечественный справочник «Надежность ЭРИ». В статье приведены сведения об описанных в этих справочниках моделях и методах оценки интенсивности отказов БИС, рассмотрены примеры расчета эксплуатационной интенсивности отказов для некоторых ПЛИС. Электроника НТБ #1/2020
Д. Садеков, В. Ежов
Микросхемы программируемой логики Intel FPGA (Altera) для промышленных приложений Гибкая платформа программируемой логики Intel FPGA подходит для реализации различных приложений, в частности, систем промышленного назначения. В статье представлен краткий обзор серий ПЛИС Intel FPGA для промышленных приложений, приведены примеры решений на их основе. DOI: 10.22184/1992-4178.2020.192.1.136.139 Электроника НТБ #1/2020
А. Строгонов, М. Кривчун, П. Городков
Обзор программных средств с открытым исходным кодом для исследования современных архитектур ПЛИС Xilinx Исследование архитектур ПЛИС используя САПР с открытым исходным кодом дает возможность выявлять проблемы существующих ПЛИС, разрабатывать новые концепции и подходы к созданию коммерческих САПР. В статье представлен обзор открытых программ- ных инструментов, используемых в академической среде для изучения ПЛИС Xilinx. DOI: 10.22184/1992-4178.2020.192.1.100.107 Электроника НТБ #4/2019
С. Белоусов
Повышение стойкости к воздействию ТЗЧ устройств на базе ПЛИС с использованием инструмента Synplify Premier Рассматривается применение мажоритарного резервирования при проектировании устройств, в частности, космического применения на основе ПЛИС различных типов для повышения их устойчивости к воздействию тяжелых заряженных частиц. Приводятся возможности реализации данного и других методов повышения надежности с помощью инструмента Synplify Premier от компании Synopsys. DOI: 10.22184/1992-4178.2019.185.4.82.87 УДК [004.9::658.512.22]::[004.31::629.78] ВАК 05.13.12 Электроника НТБ #4/2019
И. Тарасов
Применение ПЛИС класса «система на кристалле» Xilinx Zynq и подходы к проектированию на основе языков описания аппаратуры высокого уровня Рассмотрены возможности существующих и перспективных семейств программируемых логических интегральных схем компании Xilinx с архитектурой «система на кристалле», а также предпочтительные подходы к проектированию цифровых систем под управлением процессоров на основе САПР Xilinx Vivado HLS. DOI: 10.22184/1992-4178.2019.185.4.62.66 УДК 004.2 ВАК 05.13.15 Электроника НТБ #4/2019
А. Строгонов
Характеристики надежности современных ПЛИС В статье рассмотрена методика расчета экспериментальной интенсивности отказов ПЛИС с использованием статистики хи-квадрат, а также влияние сбоев, вызванных ионизирующим излучением, на характеристики надежности современных ПЛИС, выпускаемых по нанометровым проектным нормам. DOI: 10.22184/1992-4178.2019.185.4.52.58 УДК 621.3.049.774 ВАК 05.27.01 Электроника НТБ #1/2019
А. Петров, Д. Потехин, И. Тарасов
Применение систем на кристалле на базе ПЛИС в информационных системах управления производственным оборудованием Рассматриваются свойства программируемых логических интегральных схем (ПЛИС) и возможности их применения в информационных системах управления производственным оборудованием. Предлагается архитектура системы, в которой ПЛИС выступают как элемент, осуществляющий сбор данных и их предварительную обработку, а также локальное управление исполнительными устройствами, реализуя таким образом подход туманных вычислений. УДК: [004.31+004.75]:681.518 | ВАК: 05.13.05 DOI: 10.22184/1992-4178.2019.182.1.112.116 Наноиндустрия #9/2018
Павлов Антон Николаевич, Ливенцев Евгений Васильевич, Силантьев Александр Михайлович
Технология удаленной отладки аппаратной части и программного обеспечения систем на основе ПЛИС В данной работе рассматриваются вопросы повышения производительности труда разработчиков систем на основе ПЛИС в состав которых входит микропроцессорное ядро. УДК 004.41 DOI: 10.22184/1993-8578.2018.82.186.189 Наноиндустрия #9/2018
Кузнецов Александр Сергеевич, Гришин Александр Геннадиевич, Татарчук Иван Александрович, Григорьев Илья Дмитриевич
Стенд для проведения испытаний навигационных модулей ЛСН Приведено описание стенда для проведения испытаний навигационных модулей локальной системы навигации. Описана конструкция узлов стенда. Рассмотрены сценарии проведения испытаний навигационных модулей ЛСН. УДК 621.396.721, ББК 32.95 DOI: 10.22184/1993-8578.2018.82.62.63 Электроника НТБ #8/2017
В.Ежов
Обзор новых продуктов компании Altera по материалам семинара ЗАО "Золотой Шар" и компании Arrow На техническом семинаре, организованном ЗАО "Золотой Шар" совместно с компанией Arrow, был представлен обзор новых продуктов и рассмотрены ключевые особенности перспективных семейств Altera. УДК 621.382.2.3 ВАК 05.27.00 DOI: 10.22184/1992-4178.2017.169.8.76.81