Электроника НТБ #6/2025
А. Стемпковский, Е. Кожевников, Е. Демидов, Р. Соловьев, Д. Тельпухов, Л. Переверзев, В. Карташев, В. Дождёв, И. Назаров, А. Третьяков
СПЕЦИАЛЬНЫЕ ВИДЫ АНАЛИЗА ДЛЯ СОВРЕМЕННЫХ ИС: ВЫЗОВЫ НАНОМЕТРОВЫХ ТЕХНОЛОГИЙ И ПРИМЕНЕНИЕ МЕТОДОВ ИСКУССТВЕННОГО ИНТЕЛЛЕКТА
DOI: 10.22184/1992-4178.2025.247.6.76.82 В статье представлен обзор специальных видов анализа для современных ИС, которые учитывают такие эффекты, как падение напряжения в шинах питания, электромиграция и нарушение целостности сигналов. Рассмотрены методы реализации специальных видов анализа в инструментах проектирования, в том числе с применением машинного обучения.
Электроника НТБ #3/2022
А. Евграфов
ВСЕСТОРОННИЙ АНАЛИЗ ТОПОЛОГИИ ПЕЧАТНОЙ ПЛАТЫ В Altair PollEx ДЛЯ ALTIUM DESIGNER. Часть 1. Проверка топологии перед производством
DOI: 10.22184/1992-4178.2022.214.3.96.102 В статье рассмотрены возможности Altair PollEx – программного решения компании Altair Engineering, предназначенного для анализа и верификации печатных плат на любой стадии проектирования.