Станкоинструмент #4/2024
В. И. Пронякин, А. С. Комшин
Качество изделий машиностроения и метрологическое обеспечение оценки соответствия продукции в производстве DOI: 10.22184/2499-9407.2024.37.4.68.76 Рассмотрены вопросы обеспечения качества продукции в отечественном машиностроении, связанные с метрологическим обеспечением оценки соответствия продукции в производстве. Показаны сферы деятельности метрологии. Проведен анализ реализации метрологического обеспечения производства в ЕСТПП, ЕСТД. Анализируется производственная структура предприятия. Предложен подход к решению изложенных проблем метрологического обеспечения технологических процессов. Наноиндустрия #2/2024
А.И.Ахметова, А.Д.Терентьев, С.А.Сенотрусова, Т.О.Советников, Д.И.Яминский, В.В.Попов, И.В.Яминский
ДИФРАКЦИОННАЯ РЕШЕТКА КАК СРЕДСТВО МЕТРОЛОГИЧЕСКОГО СОПРОВОЖДЕНИЯ МИКРОСКОПИИ DOI: 10.22184/1993-8578.2024.17.2.128.133 Визуализация биомедицинских образцов в их естественной среде в микро- и наномасштабе имеет решающее значение для изучения фундаментальных принципов функционирования биосистем со сложным взаимодействием. Для изучения динамических биологических процессов требуется микроскопическая система с множеством измерительных возможностей, высоким пространственным и временным разрешением, универсальными средами визуализации и возможностями локального манипулирования. Перспективными инструментами для этих задач являются сканирующая капиллярная микроскопия и микролинзовая микроскопия, однако корректная работа ни одной из этих методик невозможна без метрологического сопровождения. В данной работе демонстрируется возможность использования для этих целей образца дифракционной решетки. Наноиндустрия #2/2024
А.И.Ахметова, Т.О.Советников, Б.А.Логинов, Д.И.Яминский, И.В.Яминский
КВАРЦЕВАЯ ЭТАЛОННАЯ МЕРА ДЛЯ СКАНИРУЮЩЕЙ ЗОНДОВОЙ МИКРОСКОПИИ Повышение точности и достоверности измерений в наномасштабе становится все более актуальной задачей для различных приложений, особенно в таких областях, как полупроводниковая электроника, оптические метаматериалы, сенсоры и биологические измерения. С появлением методов визуализации высокого разрешения закономерно возникла и потребность в метрологической поверке этих приборов. Появилась задача измерить наноразмерную морфологию в конкретном местоположении, что требует точности позиционирования как в вертикальном, так и в латеральном направлении. Стабильность и надежность измерений требуют регулярно отлаживать микроскоп с помощью калибровочных средств. Одним из таких эталонов могут быть кварцевые калибровочные меры. Электроника НТБ #2/2020
М. Макушин, В. Мартынов
Некоторые проблемы современной метрологии в микроэлектронике DOI: 10.22184/1992-4178.2020.193.2.80.91 По мере масштабирования ИС и освоения 3D-структур усложняются средства метрологии и контроля. Важную роль в дальнейшем их развитии и совершенствовании играют искусственный интеллект, машинное обучение и совершенствование вычислительных технологий. Наноиндустрия #6/2016
А.Потемкин
Обеспечение метрологической ответственности измерения перемещения в нанометровом диапазоне Измерительный метрологический набор на основе динамической меры – технологически сложный и наукоемкий продукт, многократно превосходящий решения на основе пьезокерамики. Динамические калибры позволяют обеспечить опережающее развитие метрологии по сравнению с разрабатываемыми нанотехнологиями. DOI:10.22184/1993-8578.2016.68.6.60.68 Наноиндустрия #4/2016
А.Ахметова, Г.Мешков, О.Синицына, И.Яминский
Метрологическое обеспечение в бионаноскопии Сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ) успешно переходит из научно-исследовательской области в сектор реальных производственных технологий. В связи с этим существенно повышается роль метрологического сопровождения инструментария СЗМ. DOI:10.22184/1993-8578.2016.66.4.36.39 Станкоинструмент #1/2016
М.Киселев
К вопросу о подготовке метрологов В статье дан исторический экскурс и представлено современное состоя­ние подготовки инженеров­метрологов для отечественной промышленности. На примерах из отечественной истории прослеживается органичная связь уровня фундаментальных научных исследований, образования с возможностью кадрового обеспечения прорывных решений в области метрологии и измерительной техники. Фотоника #1/2014
В.Суханов, В.Забродский, П.Аруев, Е.Шерстнев, П.Втулкин, С.Марченко
Исследование характеристик фотоприемного устройства для денситометрического комплекса Решение задач метрологического обеспечения измерений оптической плотности опирается на создание разных технических средств. Среди них – денситометрические комплексы и стандартные образцы оптической плотности материалов. Но сердцем этих устройств по-прежнему остается фотоприемное устройство. Фотоника #1/2013
С.Бутяйкин
NanoRam – раман-спектрометр для фармацевтической и пищевой промышленности Портативный прибор комбинационного рассеяния NanoRam компании B&WTek обладает чрезвычайно высокой молекулярной избирательностью. Он прекрасно подходит для разнообразных фармацевтических приложений – тестирования сырья, проверки готовой продукции, выявления поддельных лекарств. Изложены основы метрологического обеспечения измерений состава вещества спектрометром NanoRam. Наноиндустрия #8/2012
С.Голубев, В.Захарьин, Г.Мешков, Ю.Токунов, Д.Яминский, И.Яминский
Калибровка зондовых микроскопов. Динамическая мера "нанометр" Динамическая мера "нанометр" – удобное средство измерений. Она позволяет осуществить калибровку СЗМ до начала и в процессе измерений. Предложены методика калибровки СЗМ и алгоритм статистической обработки данных.