Электроника НТБ - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1992-4178(print)
ISSN 1992-4186(online)

Книги по электронике

Тег "внутрисхемное тестирование"

Электроника НТБ #1/2022
Т. Максимов
ТЕСТОПРИГОДНОЕ ПРОЕКТИРОВАНИЕ В КОМПАНИИ ОСТЕК

DOI: 10.22184/1992-4178.2022.212.1.138.141 На примере собственных разработок компании Остек рассмотрено, как с помощью синтеза внутрисхемного тестирования и периферийного сканирования электронных модулей добиться 100%-ной тестопригодности еще на стадии проектирования.

Электроника НТБ #9/2018
А. Насонов
Диверсификация. Как избежать возможных ошибок

Рассмотрено, как оптимально организовать диверсификацию производства и какое оборудование может для этого потребоваться. Отмечено, что самый оптимальный вариант диверсификации – это воспользоваться имеющимся у предприятия потенциалом: наличием каких-то уникальных технологий или конструкторов, способных создать принципиально новые изделия. УДК 621.317.3 | ВАК 05.11.08 DOI: 10.22184/1992-4178.2018.180.9.134.135

Печатный монтаж #6/2014
А.Зайцев
Тестирование печатных плат методом "летающих щупов"

Для тестирования готовых узлов и изделий мелко- и среднесерийные контрактные производители электроники все чаще отдают предпочтение автоматическому оборудованию с "летающими щупами", сочетающему высокое качество тестирования с возможностью экономии производственных ресурсов и времени.