sitemap
Наш сайт использует cookies. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей
Политикой Конфиденциальности
Согласен
главная
eng
Поиск:
на сайте журнала
на всех сайтах РИЦ
Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта
R&W
ISSN 1992-4178(print)
ISSN 1992-4186(online)
Книги по электронике
Статьи
Электроника НТБ #8/2025
Колонка Департамента радиоэлектронной промышленности
Электроника НТБ #6/2025
КОЛОНКА ДЕПАРТАМЕНТА РАДИОЭЛЕКТРОННОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ
Репортажи
//
все
Электроника НТБ #3/2025
ВИЗИТ НА ПР-ВО АО «КРАСНОЗНАМЕНСКИЙ ЗАВОД ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ «АРСЕНАЛ»
Электроника НТБ #10/2024
ЛОКАЛИЗАЦИЯ ПРОИЗВОДСТВА ОБОРУДОВАНИЯ. ВИЗИТ НА ПРОИЗВОДСТВО ООО «ПРОТЕХ»
Новости
//
все новости
28.10.2025
Международная выставка «Интерполитех» стартовала в Москве
21.10.2025
Выставка Testing&Control 2025 открыла свои двери для специалистов
События
//
все события
c 29.10.2025 до 31.10.2025
Международный форум-выставка «Российский промышленник - 2025». г.Санкт- Петербург
c 25.11.2025 до 27.11.2025
4-я Международная выставка-форум «Электроника России». г. Москва, МВЦ «Крокус Экспо»
Вход:
Ваш e-mail:
Пароль:
- запомнить меня
Регистрация
Забыли пароль?
Архив журнала:
2025
2024
2023
2022
2021
2020
2019
2018
2017
2016
2015
2014
2013
2012
2011
2010
2009
2008
2007
2006
2005
2004
2003
2002
2001
2000
1999
1998
1997
1996
Медиаданные:
О журнале
Учредитель
Издатель
Редакционный совет
Распространение_
Редакционная политика:
Редакционная политика РИЦ «ТЕХНОСФЕРА»
Реклама:
Отдел рекламы
В журнале
На сайте
Авторам:
Соискателям учёной степени
Требования к статьям
Контакты:
Распространение
Адрес
Редакция
Журналы:
Электроника НТБ
Наноиндустрия
Первая миля
Фотоника
Аналитика
Станкоинструмент
Книги по электронике
читать книгу
Климачев И. И., Иовдальский В.А.
Основы технологии и конструирования ГИС СВЧ-диапазона
читать книгу
Бернард Д. Уиллис Б.
Практическое руководство по использованию X-Ray инспекции в производстве радиоэлектронных изделий
читать книгу
Автор-составитель Зенин В.И. / Под ред. Б.М. Малашевича
Михаил Александрович Карцев. Сборник статей. Созидатели отечественной электроники. Вып. 3
Другие серии книг:
Мир электроники
Мир радиоэлектроники
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир химии
Мир наук о Земле
Мир материалов и технологий
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Библиотечка «КВАНТ»
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир фотоники
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Тег "верификация"
Аналитика #6/2024
А. В. Вячеславов, Л. В. Осипова
Проверка квалификации как инструмент подтверждения валидации / верификации методик измерений
10.22184/2227-572X.2024.14.6.492.496 Рассмотрен ряд общепринятых подходов и алгоритмов, используемых лабораториями, для улучшения, поддержания и демонстрации достоверности и обеспечения качества результатов измерений. На примере процедуры внешнего контроля качества результатов лаборатории в форме участия в программах проверки квалификации или межлабораторном эксперименте продемонстрирован подход, в полной мере обеспечивающий достоверность результатов, в том числе при внедрении метода (методики). Максимально полный анализ отчетов по результатам участия в программах проверки квалификации или межлабораторных сравнениях позволяет оценить эффективность работы лаборатории.
Аналитика #5/2023
Е. А. Аверьянова, Р. А. Андрющенко, С. Н. Богдашов
Готовимся к аккредитации вместе с ЛИМС
doi.org/10.22184/2227-572X.2023.13.5.380.388 В России лабораторные информационные менеджмент-системы (ЛИМС) используются в лабораториях различных отраслей промышленности уже более 20 лет. Программное обеспечение ЛИМС является не только средством автоматизации деятельности лаборатории, но и важным инструментом управления ее данными. Наличие ЛИМС помогает справляться с большим количеством информации и упрощает подготовку к аккредитации. Одним из основополагающих нормативных документов для лаборатории на сегодняшний день является ГОСТ ISO/IEC 17025-2019 «Общие требования к компетентности испытательных и калибровочных лабораторий». В ГОСТе указаны требования к управлению данными и информацией, которые содержатся в компьютеризированных системах (в т. ч. ЛИМС). Но как лаборатории документально подготовиться к аккредитации, если у нее внедрена ЛИМС, четкой информации в тексте ГОСТа нет. В статье обсуждается ГОСТ 17025 в части требований к валидации ЛИМС, а также документального подтверждения наличия и применения ЛИМС в лаборатории.
Электроника НТБ #2/2022
К. Фелтон, Д. Вертянов, С. Евстафьев, В. Сидоренко, Н. Горшкова
НОВОЕ ПОКОЛЕНИЕ РЕШЕНИЙ ДЛЯ КОРПУСИРОВАНИЯ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ. Часть 4
DOI: 10.22184/1992-4178.2022.213.2.82.86 Рассмотрены основные этапы и программные модули лучших в своем классе решений верификации и тестирования сложных гетерогенных корпусов микросхем для эффективной и безошибочной передачи проекта на производство.
Электроника НТБ #1/2022
К. Фелтон, Д. Вертянов, С. Евстафьев, В. Сидоренко
НОВОЕ ПОКОЛЕНИЕ РЕШЕНИЙ ДЛЯ КОРПУСИРОВАНИЯ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ. Часть 3
DOI: 10.22184/1992-4178.2022.212.1.80.84 Рассматриваются масштабируемость и широкий функционал, необходимый для разработки сложных корпусов ИС. Обсуждаются требования к передаче проекта на производство, то есть условия предоставления безошибочных производственных данных по изготовлению и сборке.
Аналитика #4/2021
В. И. Шевелева
Особенности новой редакции международного стандарта по терминам и определениям в области оценки соответствия ISO / IEC 17000:2020
В июне 2020 года комитет ISO по оценке соответствия (CASCO) в сотрудничестве с Международной электротехнической комиссией (IEC) завершил актуализацию международного стандарта ISO / IEC 17000:2020 «Оценка соответствия. Словарь и общие принципы». Опубликованный стандарт содержит термины и определения в области оценки соответствия, включая аккредитацию органов по оценке соответствия. В статье приведены новые термины, их толкование, примеры применения. Разъясняется концепция понятия системы оценки соответствия, которая подверглась изменению в рамках функционального подхода.
Электроника НТБ #5/2021
Дж. Фергусон, Д. Вертянов, К. Фелтон, И. Беляков, С. Евстафьев, В. Сидоренко, Н. Горшкова
ПРОЕКТИРОВАНИЕ КОРПУСОВ И МИКРОСБОРОК ПО ТЕХНОЛОГИИ FO WLP СРЕДСТВАМИ САПР MENTOR GRAPHICS. Часть 2
DOI: 10.22184/1992-4178.2021.206.5.126.134 Применение маршрута САПР Mentor Graphics дает разработчикам корпусов, микросборок FO WLP все необходимые функциональные возможности, инструменты проектирования и верификации для получения максимальной выгоды от новой технологии корпусирования.
Аналитика #2/2021
И. В. Болдырев, Т. Я. Селиванова
Особенности определения качественных свойств. Требования к лабораториям
В 2017 году была принята новая редакция международного стандарта, который был переведен на русский язык и вступил в силу в 2019 году – ГОСТ ISO / IEC 17025-2019 Оценка соответствия. Общие требования к компетентности испытательных и калибровочных лабораторий. Некоторые положения документа требуют дополнительных разъяснений. Обсуждаются вопросы определения качественных свойств объекта, которые не выражаются в единицах измерений. Перечислены и подробно рассмотрены примеры качественных свойств, которые могут быть определены. Отмечено, что не разработана общая методология определения качественных свойств, поэтому отдельные удачные попытки установить единый подход к методикам определения отдельных групп качественных свойств не решают проблему в целом. В результате в стандартах можно встретить описания методик, которые очевидно нельзя признать достаточно полными. Приведены рекомендации по верификации методик определения качественных свойств в испытательных лабораториях.
Электроника НТБ #6/2019
А. Глинкин, К. Никеев, Б. Филипов
Решения Mentor, a Siemens Business. Часть 2
DOI: 10.22184/1992-4178.2019.187.6.140.148 В статье приводятся краткие сведения обо всех инструментах, выпускаемых компанией Mentor Graphics. Во второй части материала представлены средства проектирования и анализа печатных плат. DOI: 10.22184/1992-4178.2019.187.6.140.148
Электроника НТБ #5/2019
Д. Лобзов, А. Лохов
Решения Mentor, a Siemens Business для проектирования ИС и печатных плат
Часть 1 В статье приведены краткие сведения обо всех средствах проектирования ИС и печатных плат, выпускаемых компанией Mentor Graphics. В первой части представлены инструменты проектирования, моделирования и верификации цифровых, аналоговых и аналого-цифровых ИС.
Аналитика #3/2018
Концепция новой версии стандарта ISO/IEC 17025:2017
30 ноября 2017 года вышел стандарт ISO/IEC17025:2017 General requirements for the competence of testing and calibration laboratories (Общие требования к компетентности испытательных и калибровочных лабораторий). "Стандарт ISO/IEC17025 <…> стал международным эталоном для проведения испытаний, а также для калибровочных лабораторий, которые предоставляют более достоверные и надежные результаты". В статье представлен обзор основных изменений новой редакции стандарта. УДК 006.1; ВАК 05.11.15 DOI: 10.22184/2227-572X.2018.40.3.290.294
1
2
→
Разработка: студия
Green Art