Электроника НТБ - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2026
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1992-4178(print)
ISSN 1992-4186(online)

Книги по электронике

Тег "толщина покрытия"

Электроника НТБ #1/2018
Г. Кузнецов, В. Прибора, А. Фролов
Контроль качества покрытий с помощью рентгенофлуоресцентного анализа

Рассмотрен контроль качества покрытий посредством рентгенофлуоресцентного анализа с использованием энергодисперсионных спектрометров (РФА-ЭДС). Отмечено, что РФА-ЭДС-спектрометры позволяют выполнять автоматизированный контроль качества (толщины) как однослойных, так и многослойных покрытий толщиной от нескольких десятков микрон до десятков нанометров по всей поверхности образца, что важно для повышения эффективности современных производств. УДК 543.427.4 | ВАК 05.11.00 DOI: 10.22184/1992-4178.2018.172.1.92.96