DOI: 10.22184/1992-4178.2023.228.7.174.177

Рассмотрено проведение испытаний микросхем с применением электротермотренировки, а также устройства контактирующие и спутники-­носители, разрабатываемые Акционерным обществом «Завод полупроводниковых приборов» (АО «ЗПП»).

sitemap

Разработка: студия Green Art