eng
Выпуск #6/2025
В. Плебанович, В. Светенкова, В. Гришкевич
ФОТОННАЯ ЭМИССИЯ – ИННОВАЦИОННЫЙ МЕТОД АНАЛИЗА ДЕФЕКТОВ В МИКРОЭЛЕКТРОНИКЕ
ФОТОННАЯ ЭМИССИЯ – ИННОВАЦИОННЫЙ МЕТОД АНАЛИЗА ДЕФЕКТОВ В МИКРОЭЛЕКТРОНИКЕ
Просмотры: 13
DOI: 10.22184/1992-4178.2025.247.6.150.152
Аналитический комплекс «Фотон», разработанный совместно ОАО «Оптоэлектронные системы» и НТЦ «Белмикросистемы», решает проблему выявления скрытых дефектов ИС, таких как структурные дефекты кристаллической решетки, локальные утечки тока и перегрев силовых элементов.
Теги: defects ic photon emission дефекты микросхема фотонная эмиссия
Подпишитесь на журнал, чтобы прочитать полную версию статьи.
Аналитический комплекс «Фотон», разработанный совместно ОАО «Оптоэлектронные системы» и НТЦ «Белмикросистемы», решает проблему выявления скрытых дефектов ИС, таких как структурные дефекты кристаллической решетки, локальные утечки тока и перегрев силовых элементов.
Теги: defects ic photon emission дефекты микросхема фотонная эмиссия
Подпишитесь на журнал, чтобы прочитать полную версию статьи.
Отзывы читателей
