Электроника НТБ - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1992-4178(print)
ISSN 1992-4186(online)

Книги по электронике

Тег "входной контроль"

Электроника НТБ #8/2024
А. Алонцев
МЕТОДИКА ПРОВЕДЕНИЯ ВХОДНОГО КОНТРОЛЯ МИКРОСХЕМ В МЕТАЛЛОКЕРАМИЧЕСКИХ КОРПУСАХ

DOI: 10.22184/1992-4178.2024.239.8.68.69 В статье рассматриваются ресурсы и компетенции, необходимые для проведения входного конроля микросхем в металлокерамических корпусах, а также сложности, возникающие при проверке корпусов иностранного производства, связанные с необходимостью ориентироваться на зарубежные стандарты.

Электроника НТБ #8/2023
Ш. Шугаепов, Е. Ермолаев, В. Егошин, Ю. Ханина
ВХОДНОЙ КОНТРОЛЬ МАТЕРИАЛОВ – ОСНОВА КАЧЕСТВА МЕТАЛЛОКЕРАМИЧЕСКИХ КОРПУСОВ АО «ЗПП»

DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.84.86 Рассмотрена реализация в Акционерном обществе «Завод полупроводниковых приборов» (АО «ЗПП») входного контроля материалов, применяемых для изготовления металлокерамических корпусов.

Электроника НТБ #3/2022
Д. Соя, М. Степанищев
ВХОДНОЙ КОНТРОЛЬ ПЕЧАТНЫХ ПЛАТ. ВИДЫ ДЕФЕКТОВ

DOI: 10.22184/1992-4178.2022.214.3.166.170 В статье рассмотрены основные виды дефектов печатных плат, выявляемых при контроле внешнего вида, причины их возникновения, а также ключевые этапы контроля качества печатных плат, проводимого в АО «ТЕСТПРИБОР».

Электроника НТБ #9/2021
В. Воронин
ПРИМЕНЕНИЕ УСТАНОВКИ SPEA 4060 ДЛЯ ВХОДНОГО КОНТРОЛЯ ПЕЧАТНЫХ ПЛАТ

DOI: 10.22184/1992-4178.2021.210.9.100.103 В статье описан опыт применения на производстве ООО «НПО ПКРВ» универсальной установки электрического контроля с летающими пробниками SPEA 4060, способной контролировать печатные модули в условиях как крупносерийного, так и многономенклатурного средне- или мелкосерийного производства.

Электроника НТБ #9/2021
А. Иванов, Д. Никишин
ВХОДНОЙ КОНТРОЛЬ МИКРОСХЕМ XILINX VIRTEX-7 С ПОМОЩЬЮ ПЕРИФЕРИЙНОГО СКАНИРОВАНИЯ

DOI: 10.22184/1992-4178.2021.210.9.94.98 Рассмотрено использование периферийного сканирования для реализации входного контроля микросхем Xilinx Virtex-7. Отмечено, что представленные решения могут быть использованы на предприятиях радиоэлектронной промышленности для проведения процедуры входного контроля.