Электроника НТБ #5/2023
Р. Ермилов, Ш. Шугаепов, Е. Ермолаев, В. Егошин
РАЗРАБОТКА БЕЗВЫВОДНЫХ МЕТАЛЛОКЕРАМИЧЕСКИХ КОРПУСОВ ШИРОКОГО ПРИМЕНЕНИЯ В АО «ЗПП» DOI: 10.22184/1992-4178.2023.226.5.90.92 Рассмотрено несколько новых безвыводных металлокерамических корпусов широкого применения, разработанных в АО «Завод полупроводниковых приборов» (АО «ЗПП»). Приведена информация об особенностях и характеристиках данных корпусов. Электроника НТБ #4/2023
Ш. Шугаепов, Е. Ермолаев, В. Егошин, А. Лоскутова, Е. Сабирова
НОВЫЕ МЕТАЛЛОКЕРАМИЧЕСКИЕ КОРПУСА КОМПАНИИ АО «ЗПП» DOI: 10.22184/1992-4178.2023.225.4.110.113 Рассмотрены характеристики и особенности новых металлокерамических корпусов АО «Завод полупроводниковых приборов» (АО «ЗПП»). Отмечено, что по своим техническим характеристикам эти корпуса находятся на уровне лучших мировых достижений. Электроника НТБ #7/2019
А. Грибин
КОНТАКТНЫЕ УСТРОЙСТВА АО «ЗПП» ДЛЯ ЭКБ ОТЕЧЕСТВЕННОГО И ИМПОРТНОГО ПРОИЗВОДСТВА Рассмотрены контактные устройства для тестирования электронной компонентной базы (ЭКБ) отечественного и импортного производства, выпускаемые акционерным обществом «Завод полупроводниковых приборов» (АО «ЗПП»). Отмечены основные особенности контактных устройств различного типа. Электроника НТБ #5/2019
Д. Кондрашов, А. Шостак
Системы тестирования на ЭМС микросхем и печатных плат Рассмотрены устройства и системы компании Langer EMV-Technik (Германия), позволяющие выполнять различные виды тестирования микросхем и печатных плат на электромагнитную совместимость (ЭМС). Электроника НТБ #4/2019
И. Тарасов
Применение ПЛИС класса «система на кристалле» Xilinx Zynq и подходы к проектированию на основе языков описания аппаратуры высокого уровня Рассмотрены возможности существующих и перспективных семейств программируемых логических интегральных схем компании Xilinx с архитектурой «система на кристалле», а также предпочтительные подходы к проектированию цифровых систем под управлением процессоров на основе САПР Xilinx Vivado HLS. DOI: 10.22184/1992-4178.2019.185.4.62.66 УДК 004.2 ВАК 05.13.15 Наноиндустрия #9/2018
Чуков Георгий Викторович, Елесин Вадим Владимирович, Назарова Галина Николаевна, Усачев Николай Александрович, Бойченко Дмитрий Владимирович, Никифоров Александр Юрьевич, Телец Виталий Арсеньевич
Влияние выбора контролируемых параметров- критериев годности на результат оценки уровня радиационной стойкости современных изделий твердотельной СВЧ электроники Проанализировано влияние выбора параметров — критериев годности и норм на их отклонение на уровни радиационной стойкости ЭКБ СВЧ диапазона. УДК 621.382 DOI: 10.22184/1993-8578.2018.82.498.499 Наноиндустрия #2/2017
Е.Кузнецов, А.Сауров
Аппаратные трояны. Часть 4: программно-аппаратные контрмеры В завершающей статье, посвященной аппаратным троянам, рассматривается построение безопасных систем, которые надежно функционировали бы, в том числе, в присутствии аппаратной закладки произвольного типа. Хотя общий подход к такому способу противодействия на сегодняшний день не разработан и не предложен, рассмотрим некоторые аспекты такой защиты, детали ее реализации и проведем общий анализ применимости подобных контрмер. УДК 621.382, ВАК 05.27.01, DOI: 10.22184/1993-8578.2017.72.2.42.56 Наноиндустрия #1/2017
Д.Копцев, О.Кузнецова, Н.Шелепин
Малошумящий усилитель по технологии кремний-на-изоляторе с топологическими нормами 0,18 мкм Проведено экспериментальное исследование возможности реализации МШУ на основе КМОП КНИ-технологии с нормами 0,18 мкм. Рассматриваются преимущества КНИ-технологии для изготовления СВЧ ИС. Разработан и изготовлен МШУ с использованием КМОП КНИ-технологии, имеющей шесть уровней алюминиевой металлизации. DOI:10.22184/1993-8578.2017.71.1.88.94 Наноиндустрия #1/2017
Ю.Московская, Р.Федоров, А.Денисов, Д.Бобровский, А.Уланова, А.Никифоров
Состав и принцип формирования типовой оценочной схемы как имитатора БМК и полузаказных БИС на их основе для задач радиационных испытаний Проанализированы основные особенности и недостатки существующей системы обеспечения требований радиационной стойкости для полузаказных БИС на основе БМК путем разработки и испытаний типовой оценочной схемы (ТОС). Предложено включать в состав ТОС все базовые библиотечные элементы. Предлагается максимально унифицировать ТОС для задач характеризации БМК и контроля партий пластин, анализа особенностей контроля стабильности техпроцесса и оценки радиационной стойкости рабочих зашивок по результатам испытаний ТОС. DOI:10.22184/1993-8578.2017.71.1.60.69 Наноиндустрия #1/2017
Ю.Московская
Общий методический подход к оценке радиационной стойкости БМК и полузаказных БИС на их основе Разработан и обоснован общий методический подход к оценке радиационной стойкости БМК и полузаказных БИС на их основе. Проанализированы основные особенности БИС на БМК в части задач обеспечения и оценки их радиационной стойкости, обобщены доминирующие радиационные эффекты в БИС на БМК. DOI:10.22184/1993-8578.2017.71.1.50.59