WISH WE’D MOVE FROM THE STAGE OF FORMATION TO THE STAGE OF PROSPERITY DOI: 10.22184/1992-4178.2026.256.4.12.18
ХОЧЕТСЯ ПЕРЕЙТИ ОТ ЭТАПА СТАНОВЛЕНИЯ К ЭТАПУ ПРОЦВЕТАНИЯ DOI: 10.22184/1992-4178.2026.256.4.12.18
LEAN MANUFACTURING AND AUTOMATION IN DEVICE ENGINEERING IN PRACTICE VISIT TO THE PRODUCTION FACILITY OF PROMENERGO LLC DOI: 10.22184/1992-4178.2026.256.4.38.49
БЕРЕЖЛИВОЕ ПРОИЗВОДСТВО И АВТОМАТИЗАЦИЯ В ПРИБОРОСТРОЕНИИ НА ПРАКТИКЕ ВИЗИТ НА ПРОИЗВОДСТВО ООО «ПРОМЭНЕРГО» DOI: 10.22184/1992-4178.2026.256.4.38.49
DISCUSSION BATTLE “ARTIFICIAL INTELLIGENCE: A NEW INDUSTRY OR A HYPE BUBBLE?” AT EXPOELECTRONICA | EXPOCIFRA 2026 DOI: 10.22184/1992-4178.2026.256.4.28.34
ДИСКУССИОННЫЙ БАТЛ «ИСКУССТВЕННЫЙ ИНТЕЛЛЕКТ: НОВАЯ ИНДУСТРИЯ ИЛИ ПУЗЫРЬ ХАЙПА?» НА ВЫСТАВКАХ EXPOELECTRONICA | EXPOCIFRA 2026 DOI: 10.22184/1992-4178.2026.256.4.28.34
MODEL OF SIGNAL FORMATION IN AN OPTOELECTRONIC LIQUID LEVEL CONTROL SYSTEM The article proposes a model for signal formation
in an optoelectronic system that establishes a relationship between the liquid level, the optical radiation power at the input
of the photodetector, the output voltage of the analog path
and the digital code of the ADC. The model can be used at the design stage of an optical-electronic liquid level control system to calculate the parameters of the signal processing path.
МОДЕЛЬ ФОРМИРОВАНИЯ СИГНАЛА В ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННОЙ СИСТЕМЕ КОНТРОЛЯ УРОВНЯ ЖИДКОСТИ В статье предложена модель формирования сигнала в оптико-электронной системе, которая устанавливает связь между уровнем жидкости, мощностью оптического излучения на входе фотоприемного устройства, выходным напряжением аналогового тракта и цифровым кодом АЦП. Модель может использоваться на этапе проектирования оптико-электронной системы контроля уровня жидкости для расчета параметров тракта обработки сигналов.
INNOVATIVE APPROACHES TO MICROWAVE PRODUCT MANUFACTURING AT THE SEMICONDUCTOR DEVICES PLANT DOI: 10.22184/1992-4178.2026.256.4.74.76
Implementation of a range of measures – from developing mathematical simulation competencies to introducing high-precision measuring equipment – allowed the Semiconductor Devices Plant to reach a new level of microwave product manufacturing.
ИННОВАЦИОННЫЕ ПОДХОДЫ К ПРОИЗВОДСТВУ ИЗДЕЛИЙ СВЧ ДИАПАЗОНА ЗАВОДА ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ DOI: 10.22184/1992-4178.2026.256.4.74.76
Реализация комплекса мер – от развития компетенций в математическом моделировании до внедрения высокоточного измерительного оборудования – позволила Заводу полупроводниковых приборов выйти на новый уровень производства изделий СВЧ диапазона.
STATUS OF 6G NETWORK DEVELOPMENT IN LEADING COUNTRIES. PART 1 DOI: 10.22184/1992-4178.2026.256.4.120.128
The article examines the technological aspects of 5G and 6G network development and the challenges of their implementation. It also discusses the status of 6G design in China, Japan, South Korea, India, EU and the US.
СОСТОЯНИЕ РАЗРАБОТОК 6G-СЕТЕЙ СВЯЗИ В ВЕДУЩИХ СТРАНАХ МИРА. ЧАСТЬ 1 DOI: 10.22184/1992-4178.2026.256.4.120.128
Рассматриваются технологические аспекты развития 5G- и 6G-сетей и трудности их внедрения. Обсуждается состояние разработок в области 6G-связи в Китае, Японии, Ю. Кореи, Индии, ЕС и США.
DOHERTY POWER AMPLIFIER FOR TELECOMMUNICATION SYSTEMS DEVELOPED BY PKK MILANDR JSC DOI: 10.22184/1992-4178.2026.256.4.50.51
The article discusses the features of Doherty power amplifier for telecommunication systems in the frequency range of 2,3–2,4 GHz based on GaN microwave transistors, which was developed at PKK Milandr JSC.
УСИЛИТЕЛЬ МОЩНОСТИ ПО АРХИТЕКТУРЕ ДОГЕРТИ ДЛЯ ТЕЛЕКОММУНИКАЦИОННЫХ СИСТЕМ РАЗРАБОТКИ АО «ПКК МИЛАНДР» DOI: 10.22184/1992-4178.2026.256.4.50.51
В статье обсуждаются особенности усилителя мощности по архитектуре Догерти для телекоммуникационных систем частотного диапазона 2,3–2,4 ГГц на базе GaN СВЧ-транзисторов, который был разработан в АО «ПКК Миландр».
GaN TRANSISTORS. PART 1 DOI: 10.22184/1992-4178.2026.256.4.52.59
The article considers the characteristics and features of high electron mobility transistors based on gallium nitride. Information on transistors from domestic and foreign manufacturers designed for use in microwave power amplifiers is provided.
ТРАНЗИСТОРЫ НА ОСНОВЕ GaN-ТЕХНОЛОГИИ. ЧАСТЬ 1 DOI: 10.22184/1992-4178.2026.256.4.52.59
Рассматриваются характеристики и особенности транзисторов с высокой подвижностью электронов на основе нитрида галлия. Приводятся сведения о транзисторах отечественных
и зарубежных производителей, предназначенных для применения в усилителях мощности СВЧ-диапазона.
QATRON VACUUM MICROWAVE DEVICES: COMPONENTS FOR SYSTEMS WHERE SEMICONDUCTORS REACH THEIR LIMITS DOI: 10.22184/1992-4178.2026.256.4.60.63
The article provides an overview of Qatron vacuum microwave devices: magnetrons, traveling-wave tubes, klystrons, thyratrons and vacuum capacitors. Applications are discussed, as well as the possibilities for customizing serial products to meet customer requirements.
ВАКУУМНЫЕ СВЧ-ПРИБОРЫ QATRON: ЭЛЕМЕНТНАЯ БАЗА ДЛЯ СИСТЕМ, ГДЕ ПОЛУПРОВОДНИКИ ДОСТИГАЮТ СВОИХ ПРЕДЕЛОВ DOI: 10.22184/1992-4178.2026.256.4.60.63
В статье представлен обзор вакуумных СВЧ-приборов, поставляемых под торговой маркой Qatron, – магнетронов, ламп бегущей волны, клистронов, тиратронов и вакуумных конденсаторов. Рассмотрены области применения, а также возможности кастомизации серийных изделий под требования заказчиков.
NON-DESTRUCTIVE METHODS OF TESTING THE PARAMETERS OF DIELECTRIC PLATES DOI: 10.22184/1992-4178.2026.256.4.78.82
Incoming inspection of dielectric material parameters is essential to ensure the proper quality of manufactured products, especially in critical microwave applications. The article discusses
two measuring cell designs for the rapid monitoring of dielectric permeability and loss tangent of sheet materials.
НЕРАЗРУШАЮЩИЕ МЕТОДЫ КОНТРОЛЯ ПАРАМЕТРОВ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПЛАСТИН DOI: 10.22184/1992-4178.2026.256.4.78.82
Входной контроль параметров диэлектрических материалов является обязательным для обеспечения надлежащего качества выпускаемой продукции, особенно в сегменте ответственных СВЧ-применений. В статье рассмотрены две конструкции измерительных ячеек для оперативного контроля диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь листовых материалов.
APPROACHES TO TESTING SATELLITE COMMUNICATION SYSTEMS: FROM RADIO CHANNEL EMULATION TO SEMI-NATURALISTIC TESTS DOI: 10.22184/1992-4178.2026.256.4.86.88
The article presents modern approaches to testing satellite data transmission systems, focusing on a comprehensive method of semi-naturalistic simulation integrated with OTA testing in an anechoic chamber. This method allows for the simulation of complex dynamic scenarios under controlled conditions, ensuring high correlation between laboratory testing and real-world system operating conditions.
ПОДХОДЫ К ТЕСТИРОВАНИЮ СПУТНИКОВЫХ СИСТЕМ СВЯЗИ: ОТ ЭМУЛЯЦИИ РАДИОКАНАЛОВ К ПОЛУНАТУРНЫМ ИСПЫТАНИЯМ DOI: 10.22184/1992-4178.2026.256.4.86.88
В статье представлены современные подходы к тестированию спутниковых систем передачи данных с акцентом на комплексный метод полунатурного моделирования, интегрированного
с OTA-тестированием в безэховой камере. Этот метод позволяет воспроизводить сложные динамические сценарии в контролируемых условиях, обеспечивая высокую корреляцию лабораторных испытаний с реальными условиями работы систем.
MATHEMATICAL APPARATUS AND METHODOLOGY OF ZERO-DIMENSIONAL PLASMA SIMULATION DOI: 10.22184/1992-4178.2026.256.4.90.95
Zero-dimensional plasma simulation allows for the selection of key parameters for plasma-chemical processes. The article describes the methodology for zero-dimensional plasma simulation and examines two classes of models: the global model and the collisional radiative model.
МАТЕМАТИЧЕСКИЙ АППАРАТ И МЕТОДОЛОГИЯ НУЛЬ-МЕРНОГО МОДЕЛИРОВАНИЯ ПЛАЗМЫ DOI: 10.22184/1992-4178.2026.256.4.90.95
Нуль-мерное моделирование плазмы позволяет подобрать ключевые параметры плазмохимического процесса. В статье описана методология нуль-мерного моделирования плазмы и рассмотрены два класса моделей: глобальная модель
и столкновительно-излучательная модель.
ANALYSIS OF THE TECHNOLOGICAL CYCLE OF MANUFACTURING AN n-CHANNEL MOSFET USING TCAD DOI: 10.22184/1992-4178.2026.256.4.96.104
The article analyzes the stages of the manufacturing process for an n-channel MOSFET using specified parameters and builds a model of this transistor in TCAD. The parameters and characteristics of the resulting model are compared with those specified in the design specification.
АНАЛИЗ ТЕХНОЛОГИЧЕСКОГО ЦИКЛА ПРОИЗВОДСТВА n-КАНАЛЬНОГО МОП-ТРАНЗИСТОРА В САПР TCAD DOI: 10.22184/1992-4178.2026.256.4.96.104
В статье проведен анализ этапов технологического цикла изготовления n-канального МОП-транзистора по заданным параметрам и построение модели этого транзистора
в САПР TCAD. Выполнено сравнение параметров и характеристик построенной модели с заявленными в технологическом задании.
MINIATURE PHOTONIC SENSORS: A NEW LOOK AT MULTI-LEVEL OPTICAL SYSTEMS The article discusses technologies for manufacturing optical components directly on a semiconductor wafer, which provide submicron precision of lens geometry, as well as scalability and cost reduction in mass production.
МИНИАТЮРНЫЕ ФОТОННЫЕ СЕНСОРЫ: НОВЫЙ ВЗГЛЯД НА МНОГОУРОВНЕВЫЕ ОПТИЧЕСКИЕ СИСТЕМЫ В статье рассматриваются технологии изготовления оптических компонентов непосредственно на полупроводниковой пластине, обеспечивающие субмикронную точность геометрии линз, а также масштабируемость и снижение затрат при массовом производстве.
eng




