sitemap
Наш сайт использует cookies. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей
Политикой Конфиденциальности
Согласен
главная
eng
Поиск:
на сайте журнала
на всех сайтах РИЦ
Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта
R&W
ISSN 1992-4178(print)
ISSN 1992-4186(online)
Книги по электронике
Статьи
Электроника НТБ #8/2025
Колонка Департамента радиоэлектронной промышленности
Электроника НТБ #6/2025
КОЛОНКА ДЕПАРТАМЕНТА РАДИОЭЛЕКТРОННОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ
Репортажи
//
все
Электроника НТБ #3/2025
ВИЗИТ НА ПР-ВО АО «КРАСНОЗНАМЕНСКИЙ ЗАВОД ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ «АРСЕНАЛ»
Электроника НТБ #10/2024
ЛОКАЛИЗАЦИЯ ПРОИЗВОДСТВА ОБОРУДОВАНИЯ. ВИЗИТ НА ПРОИЗВОДСТВО ООО «ПРОТЕХ»
Новости
//
все новости
31.10.2025
Опубликована деловая программа выставки-форума «Электроника России» 2025
28.10.2025
Международная выставка «Интерполитех» стартовала в Москве
События
//
все события
c 25.11.2025 до 27.11.2025
4-я Международная выставка-форум «Электроника России». г. Москва, МВЦ «Крокус Экспо»
c 24.03.2026 до 25.03.2026
XXVII Сибирский промышленно-инновационном форум «ПРОМТЕХЭКСПО». г. Омск
Вход:
Ваш e-mail:
Пароль:
- запомнить меня
Регистрация
Забыли пароль?
Архив журнала:
2025
2024
2023
2022
2021
2020
2019
2018
2017
2016
2015
2014
2013
2012
2011
2010
2009
2008
2007
2006
2005
2004
2003
2002
2001
2000
1999
1998
1997
1996
Медиаданные:
О журнале
Учредитель
Издатель
Редакционный совет
Распространение_
Редакционная политика:
Редакционная политика РИЦ «ТЕХНОСФЕРА»
Реклама:
Отдел рекламы
В журнале
На сайте
Авторам:
Соискателям учёной степени
Требования к статьям
Контакты:
Распространение
Адрес
Редакция
Журналы:
Электроника НТБ
Наноиндустрия
Первая миля
Фотоника
Аналитика
Станкоинструмент
Книги по электронике
читать книгу
под ред. Хюбнера М., Бекера Ю.
Многопроцессорные системы на одном кристалле. Разработка аппаратных средств и интеграция инструментов /При поддержке ФГУП «НИИМА «ПРОГРЕСС» перевод с англ. под ред. д.т.н., проф. В.Г. Немудрова
читать книгу
Неволин В.
Зондовые нанотехнологии в электронике
читать книгу
Федорец В.Н., Белов Е.Н., Балыбин С.В.
Технологии защиты микросхем от обратного проектирования в контексте информационной безопасности
Другие серии книг:
Мир электроники
Мир радиоэлектроники
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир химии
Мир наук о Земле
Мир материалов и технологий
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Библиотечка «КВАНТ»
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир фотоники
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Тег "надежность"
Первая миля #3/2025
В.А.Нетес
О достижимости целей в развитии телекоммуникаций
DOI: 10.22184/2070-8963.2025.127.3.46.48 Важную роль при определении стратегий развития телекоммуникаций играет правильное целеполагание, включающее выработку базовых принципов и основных технических требований для перспективных сетей. При этом с одной стороны, цели должны быть вдохновляющими и нетривиальными, а с другой, не следует отрываться от реальности, надо ставить достижимые цели. Рассмотрены примеры недостижимых целей, сформулированных в некоторых международных и отечественных документах, указаны возможные негативные последствия этого, предложены меры, направленные на предотвращение подобных случаев.
Электроника НТБ #1/2025
О. Чупринова
АВТОМАТИЗАЦИЯ ТЕПЛОВОГО МЕТОДА ВЫХОДНОГО КОНТРОЛЯ РАДИОЭЛЕКТРОННЫХ ИЗДЕЛИЙ
DOI: 10.22184/1992-4178.2025.242.1.132.135 В статье рассматривается автоматизация теплового выходного контроля радиоэлектронных средств (РЭС) с применением искусственных нейронных сетей для обработки тепловизионных измерений и данных промышленных датчиков. Предложенный подход позволит оптимизировать процесс диагностики и уменьшить временные затраты на поиски неисправностей.
Электроника НТБ #4/2024
А. Дудунов
ИСПОЛЬЗОВАНИЕ ЭКБ С ИСТЕКШИМ СРОКОМ ХРАНЕНИЯ
DOI: 10.22184/1992-4178.2024.235.4.146.148 В связи с тем, что производство и ввод в эксплуатацию военной техники занимает значительное время, возникает проблема использования электронной компонентной базы, снятой с производства в процессе проектирования изделия. Для решения данной проблемы проводятся исследования по оценке возможности продления показателей сохраняемости ЭКБ.
Электроника НТБ #3/2024
Ю. Капшунова, С. Колочков
КОНТАКТИРУЮЩИЕ УСТРОЙСТВА ДЛЯ ТЕСТИРОВАНИЯ И ИСПЫТАНИЙ ЭКБ – НАДЕЖНЫЕ РЕШЕНИЯ ОТ КОМПАНИИ «АЙСИ СОКЕТ»
DOI: 10.22184/1992-4178.2024.234.3.128.130 Компания «АйСи Сокет» является одним из ведущих разработчиков и производителей высококачественных контактирующих устройств для тестирования и испытаний микросхем.
Электроника НТБ #2/2024
А. Строгонов
МЕТОДЫ ПРОГНОЗИРОВАНИЯ ДОЛГОВЕЧНОСТИ ИС ПО ПАРАМЕТРИЧЕСКИМ ОТКАЗАМ
DOI: 10.22184/1992-4178.2024.233.2.88.96 В статье рассмотрены основные методологические подходы, принятые в зарубежной и отечественной инженерных школах в области прогнозирования долговечности ИС по параметрическим отказам.
Электроника НТБ #8/2023
С. Назаров, А. Барсуков
НАДЕЖНОСТЬ И БЕЗОПАСНОСТЬ ОПЕРАЦИОННЫХ СИСТЕМ РАЗЛИЧНОЙ АРХИТЕКТУРЫ. ЧАСТЬ 1
DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.88.96 Введение санкций переориентировало российскую экономику на использование отечественных программных продуктов, в том числе и операционных систем (ОС). В данной статье предлагаются модели ОС различной архитектуры, основанные на теории марковских процессов, описываемых дифференциальными уравнениями Колмогорова.
Электроника НТБ #6/2023
Ш. Шугаепов, Е. Ермолаев, В. Егошин, Е. Сабирова
СТОЙКОСТЬ К ВНЕШНИМ ВОЗДЕЙСТВИЯМ И НАДЕЖНОСТЬ МЕТАЛЛОКЕРАМИЧЕСКИХ КОРПУСОВ
DOI: 10.22184/1992-4178.2023.227.6.42.43 Рассмотрена надежность и стойкость к внешним воздействиям металлокерамических корпусов, выпускаемых АО «Завод полупроводниковых приборов» (АО «ЗПП»). Отмечено, что эти корпуса соответствуют всем требованиям к надежности и стойкости к внешним воздействующим факторам.
Электроника НТБ #8/2022
П. Пармон, А. Панченко, К. Еремченко
ОТЕЧЕСТВЕННЫЕ СТЕНДЫ «СИТ» ДЛЯ ИСПЫТАНИЙ ЭКБ НА НАДЕЖНОСТЬ
DOI: 10.22184/1992-4178.2022.219.8.122.126 Описывается проект по созданию линейки стендов для термоэлектротренировки и испытаний на сохранение работоспособности ЭКБ при воздействии повышенных температур и при собственном перегреве при предельных режимах электрической нагрузки. Обосновывается актуальность данной разработки, приводятся технические характеристики и преимущества разрабатываемого оборудования.
Электроника НТБ #8/2022
Д. Красовицкий, А. Филаретов, В. Чалый
НИТРИДНАЯ МОЩНАЯ СВЧ-ЭЛЕКТРОНИКА В РОССИИ: НАУКА ПЕРЕХОДА ОТ ТЕХНОЛОГИИ К БИЗНЕСУ
DOI: 10.22184/1992-4178.2022.219.8.68.74 Обсуждается проблематика внедрения в массовое производство отечественных разработок мощной СВЧ ЭКБ на основе нитрида галлия. Рассмотрены основные задачи, решение которых необходимо для восполнения дефицита мощной СВЧ ЭКБ на основе нитрида галлия в условиях усилившегося санкционного давления на радиоэлектронную отрасль.
Электроника НТБ #5/2022
П. Пармон, А. Панченко, К. Еремченко
УСТАНОВКА ДЛЯ ИСПЫТАНИЙ НА ТЕПЛОВОЙ УДАР «АКТУ‑001»
DOI: 10.22184/1992-4178.2022.216.5.78.82 Рассматривается проект по созданию автоматической камеры для испытаний полупроводниковых приборов и интегральных микросхем на тепловой удар, выполняемый АО «НИИЭТ». Обосновывается актуальность данной разработки, приводятся технические характеристики и преимущества разрабатываемой установки перед зарубежными аналогами.
1
2
3
4
→
Разработка: студия
Green Art